产品名称：电容电感测试仪 大量供应 变频接地电阻测试仪

光纤通信是用光纤作为传输介质，以光波作为载波来实现信息传输，从而达到通信目的的一种新通信技术。与传统的电气通信相比，光纤传感技术具有精度和灵敏度高、抗电磁干扰、寿命长、耐腐蚀、成本低、光纤传输损耗极低，传输距离远等突出优点。虽然光纤通信具有以上突出的优点，但本身存在的缺陷也不容忽视，比如：光纤的质地脆，容易断裂、机械强度差，弯曲不能过小;供电困难;分路、耦合不灵活；光纤的切断和连接需要特定的工具或设备等。
HN7031A全自动三相电容电感测试仪电容电感测试仪 大量供应 变频接地电阻测试仪

自动三相电容电感测试仪 可以在不拆线的状态下，直接测量成组并联电容器的单相电容或组合连接类型的三相电容器，也能够测量电抗器的电感，接线简单，测试、记录方便，大大提高了工作效率。

功能特点
    1、内部自带电驰，自动数字合成产生三相大功率测试电源，不用外接电源即可使用；
    2、仪器可在不拆线情况下测量成组并联电容器的单个单相电容及测量连接类型的三相电容；
    3、可三相同测或测量三只并联电容器或电抗器；
    4、仪器可以测量电抗器的电感量；
    5、仪器可以测量工频电流的幅值以及电流中2－32次的谐波含量；
    6、仪器可显示出在测量电容器或电抗器的过程中测量的电压、电流、功率、相位角、阻抗等数据，以便更好的问题所在；

半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。
HN7033A自动电容电流测试仪

直接从PT的二次侧测量配电网的电容电流，与传统的测试方法相比，该仪器无需和一次侧打交道，因而不存在试验的性，无需做繁杂的安措施和等待冗长的调度命令，只需将测量线接于PT的开口三角端就可以测量出电容电流的数据。

自动电容电流测试仪 技术参数
    1、测量范围：对地总电容 ≤120μF（三相对地）
       电容电流 ≤500A（35kv系统 ）
       电容电流 ≤200A（10kv系统 ）
    2、测量精度：0.5μF～5μF   ±10%±50个字
                 5μF～90μF    ±5%
                 90μF～120μF  ±10%电容电感测试仪 大量供应 变频接地电阻测试仪现代工厂都采用自动化系统，依靠整个工厂范围内的许多传感器提供的反馈信息来保持高生产率。这些公司采用数字现场总线来汇总传感器收集的大量数据。传感器收集的数据越多，系统的适应性和操作性就越好。采用现场总线连接的现代工业传感器必须以更快和更的速率来检测信号，并将该信息作为与传统模拟信号相对的数字信号输出。这一功能要求传感器使用功率更大的处理器。此外，由于工厂中此类传感器的数量更多，因此形状因数变小。