产品名称：常州 三通道直流电阻测试仪 价格 变频介质损耗测试仪华能牌

在过去25年里，微控制器的内部外设发生了巨大的变化。初许多微控制器只包含RAM、ROM，也许还有基本的定时器。随着微控制器的发展，更多的外设被基础到这种单价不超过一美元的器件中。定时器/计数器、PWM和包括UART、SPI和I2C在内的标准串行接口常用于这些廉价的微控制器。另一个重大变化是32位CPU正在取代同一价格范围的8位器件。但是即便有如此丰富的特性，对于廉价微控制器而言，随时都存在微控制器厂商不能迅速支持的项目硬件接口或新的方接口。
HN7010A系列直流电阻测试仪常州 三通道直流电阻测试仪 价格 变频介质损耗测试仪华能牌
产品概述

变压器的直流电阻是变压器制造中半成品、成品出厂试验、安装、交接试验及电力部门预防性试验的必测项目，能有效发现变压器线圈的选材、焊接、连接部位松动、缺股、断线等制造缺陷和运行后存在的隐患。

二、功能特点

l 对星型接法有中性点引出的绕组测试时，仪器可以采取三相同时测量的方式测试A0、B0、C0相的直流电阻，大大节省测试时间；

l 显示、打印变压器的高中低压绕组的测试数据，并自动计算出三相不平衡率；

l 具有完善的反电势保护功能；

然而SCMRC结构的阻带范围较小(5.2GHz-7.6GHz)，BCMRC则由于在阻带范围内的衰减特性不理想通常需要几个单元来实现较好的低通特性。针对这些问题，本文提出了一种新型CMRC宽带低通滤波器，在-7GHz低通频率范围内其插入损耗为.3dB,低于-1dB的阻带频率范围为8.5GHz-22.1GHz,低于-2dB阻带频率范围为9GHz-2.8GHz,可见该滤波器在通带内具有很低的插入损耗，并且在阻带内具有良好的衰减特性。

三、技术参数

输出电流   三相测试：2*10A、2*5A、2*2A

单相测试：20A、10A、2A

测试范围   2*10A：500μΩ～500mΩ

2*5A： 1mΩ～1Ω

2*2A： 2.5mΩ～2.5Ω

20A：  250μΩ～1Ω

10A：  500μΩ～2Ω

2A：   2.5mΩ～10Ω

分 辨 率   0.1μΩ

测量精度   ±(0.2%读数+2字)

外形尺寸   420mm×250mm×340mm

仪器重量   15kg大气中的VOCs不仅是生成光化学烟雾污染物的主要前体物，同时也是大气细粒子中有毒有害有机组分的重要来源，是形成灰霾的主要“元凶”，且一些VOCs本身具有毒性和致癌性。随着我国大气污染控制的不断深化，VOCs成为继颗粒物、、氮氧化物之后，我国大气污染控制中又一新的关注点。笔者对空气中挥发性有机物的检测方法进行了，比较了气相色谱法、液相色谱法、膜技术处理、化学法和在线检测试验舱等检测方法的差。

面板介绍

1.IA、IB、IC、Io：电流输出接线柱；

2.UA、UB、UC、Uo：电压输入接线柱；

3.电源开关：仪器的电源开关及；

4.接 地 柱：仪器**接地；

5.打 印 机：打印测试数据；

6.液 晶 屏：显示测试数据，操作提示功能；

7.键    盘：『返回』对应的返回上一层菜单功能；

『确定』对应光标按钮的执行功能；

『存储』对应测试项目的数据存储；

『选择』对应光标选择菜单功能；

本文的目的是：通过应用色谱技术来检测苯被降解后的系列产物，进而探究出一种对环境友好且去除能力好的工艺，为我们后续进行苯污染物的降解新工艺的开发提供参考。色谱法色谱法也叫层析法，它是一种能的物理分离技术，将它用于化学并配合适当的检测手段，就成为色谱法。色谱法早应用于分离植物色素，其方法是这样的：在一玻璃管中放入碳酸钙，将含有植物色素(植物叶的提取液)的石油醚倒入管中。此时，玻璃管的上端立即出现几种颜色的混合谱带。

六、仪器接线

6.1将电源线把仪器与外部AC220V电源连接，将接地端子与大地连接。

6.2然后依次将接线端子的四个测试钳（黄绿红黑）分别接到变压器高压侧的A、B、C、O。也可以将接线端子的四个测试钳（黄绿红黑）分别接到变压器低压侧的a、b、c、o，如果只有三个套管，可以不接黑色测试钳，但这种情况不可以选择三相同时测量和单相电阻测量，只能选择单线电阻测量且不用再移动测试钳。

6.3当选择单相电阻测试时必须接黑色的测试钳，当选择单线电阻测试时，需注意所选的测试方式与所夹的测试钳要一一对应。

6.4单相变压器使用时将接线端子黄色和黑色的测试钳接到单相变压器的高压侧或低压侧，选择单相电阻测试方式测量即可。

6.5仪器配套的测试线已经将电流、电压线设计到同一测试钳口上，接线简单方便泰克科技公司日前宣布，为Keithley4200A-SCS参数仪推出两款源测量单元(SMU)模块，即使在由于长电缆和复杂的测试设置而产生高负载电容时，其仍能执行低电流测量。许多主要测试应用都面临着这一挑战，如LCD显示器制造和卡盘上的纳米FET器件测试。在被测器件本身电容很小的情况下，许多低电流测量应用中所需要的测试设置也会增加SMU输出端的电容。当测试连接电容太大时，终的低电流测量结果可能会变得不稳定。