产品名称：常州 变压器直流电阻测试仪 价格 高压介质损耗测试仪量大价优

在信号/频谱仪上，边带噪声是相位噪声和幅度噪声的总和，通常当已知调幅噪声远小于相位噪声时(小于1dB以上)，在频谱仪上读出的边带噪声即为相位噪声。在29K环境温度下，噪声功率基底是-174dBm/Hz。由于相位噪声和调幅噪声对热噪声的贡献是等同的，所以相位噪声对热噪声的贡献是-177dBm/Hz，比热噪声低3dB。如果载波功率较小，-2dBm，相位噪声就被限制到-157dBc/Hz（-177dBm/Hz-（-2dBm））。
HN7010A系列直流电阻测试仪常州 变压器直流电阻测试仪 价格 高压介质损耗测试仪量大价优
产品概述

变压器的直流电阻是变压器制造中半成品、成品出厂试验、安装、交接试验及电力部门预防性试验的必测项目，能有效发现变压器线圈的选材、焊接、连接部位松动、缺股、断线等制造缺陷和运行后存在的隐患。

二、功能特点

l 对星型接法有中性点引出的绕组测试时，仪器可以采取三相同时测量的方式测试A0、B0、C0相的直流电阻，大大节省测试时间；

l 显示、打印变压器的高中低压绕组的测试数据，并自动计算出三相不平衡率；

l 具有完善的反电势保护功能；

当转换开关K与零线接通时，测试仪所采样的是中线与外壳间的泄漏电流；当K与相线接通时，测试的是相线与外壳间的泄漏电流。必须注意的是：K与零线接通或K与相线接通，泄漏电流不一定相同。这是因为家用电器绝缘弱点的位置是随机的。泄漏电流测试应通过K转换极性，取其中的较大值作为被测电热的泄漏电流值。测试注意事项在工作温度下测量泄漏电流时，如果被测电器不是通过隔离变压器供电，被测电器应彩绝缘性能可靠的物质绝缘垫与地绝缘。

三、技术参数

输出电流   三相测试：2*10A、2*5A、2*2A

单相测试：20A、10A、2A

测试范围   2*10A：500μΩ～500mΩ

2*5A： 1mΩ～1Ω

2*2A： 2.5mΩ～2.5Ω

20A：  250μΩ～1Ω

10A：  500μΩ～2Ω

2A：   2.5mΩ～10Ω

分 辨 率   0.1μΩ

测量精度   ±(0.2%读数+2字)

外形尺寸   420mm×250mm×340mm

仪器重量   15kg各位工程师是否遇到需要使用到CAN通信但缺少CAN接口的情况？简便的方案是采用UART转CAN通讯。ZLG致远电子针对此应用CSM1系列模块解决方案，这款模块将的简化了开发流程，实现的方式是怎样的？本文为你详解。一个嵌入式或者X86的工业控制板上，一般都会提供CAN、UART、以太网、USSPI2C等通讯接口，但是由于处理器的限制以及满足通用性需求，很多厂家只能均衡的去分配这些接口，比如致远电子旗下的部分工控核心板的接口就如下图所示：可以看到通用型核心板一般提供的CAN-bus为2路，2路CAN-bus可以有效的保证通用需求，但是在一些的情况，应用中需求变成了4路甚至5路CAN的需求。

面板介绍

1.IA、IB、IC、Io：电流输出接线柱；

2.UA、UB、UC、Uo：电压输入接线柱；

3.电源开关：仪器的电源开关及；

4.接 地 柱：仪器**接地；

5.打 印 机：打印测试数据；

6.液 晶 屏：显示测试数据，操作提示功能；

7.键    盘：『返回』对应的返回上一层菜单功能；

『确定』对应光标按钮的执行功能；

『存储』对应测试项目的数据存储；

『选择』对应光标选择菜单功能；

不过，CCD元件的制造成本高，在高感光度下的表现不太好，而且功耗较大。CMOS的色彩饱和度和质感则略差于CCD，但处理芯片可以弥补这些差距。重要的是，CMOS具备硬件降噪机制，在高感光度下的表现要好于CCD，此外，它的读取速度也更快。这些特性特别适合性能较高的单反相机，因此目前市场中常见的单反数码相机几乎都采用了CMOS传感器。这些装备了CMOS传感器的数码相机甚至具备了拍摄全高清（FullHD）的能力，这是装备了CCD的数码相机目前无法做到的。

六、仪器接线

6.1将电源线把仪器与外部AC220V电源连接，将接地端子与大地连接。

6.2然后依次将接线端子的四个测试钳（黄绿红黑）分别接到变压器高压侧的A、B、C、O。也可以将接线端子的四个测试钳（黄绿红黑）分别接到变压器低压侧的a、b、c、o，如果只有三个套管，可以不接黑色测试钳，但这种情况不可以选择三相同时测量和单相电阻测量，只能选择单线电阻测量且不用再移动测试钳。

6.3当选择单相电阻测试时必须接黑色的测试钳，当选择单线电阻测试时，需注意所选的测试方式与所夹的测试钳要一一对应。

6.4单相变压器使用时将接线端子黄色和黑色的测试钳接到单相变压器的高压侧或低压侧，选择单相电阻测试方式测量即可。

6.5仪器配套的测试线已经将电流、电压线设计到同一测试钳口上，接线简单方便幸运的是，大多数现代测试系统都基于PC或PXI，可以直接连接到企业系统，从而实现额外的功能，如管理软件和硬件组件、跟踪使用情况以及执行性维护，从而限度地提高测试投资的价值。接入和管理数据物联网的商业价值来自互联系统生成的海量数据。然而，由于存在数据格式和来源，有效利用测试数据变得非常困难，从时域和频域的原始模拟和数字波形到参数测量等数据通常以远高于消费者或工业设备的速度和数量进行采集。更糟糕的是，测试数据通常存储在没有标准化的“孤岛”(silos)中。