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TEMCELL一般只找方值,使测试结果对摆放的位置比较敏感。另外,还有一种测试工具较箱,有的设计公司用来对天线进行有源测试,这种方法很不可行。一方面由于测试距离太近,另一方面由于没有足够的吸波材料,外部干扰对天线的测试影响比较大,这样导致测试结果对位置比较敏感,稍微改变一下位置测试结果就有比较大的改变,因此这种测试方法对天线的性能没有多少的参考意义。用耦合测试板测试天线性能在生产过程中为了保证产品的生产品质,往往要进行天线的耦合测试。
KX303A热继电器校验仪/电动机保护器校验仪
功能简介:
适用于单相、三相热继电器及有源或无源电动机保护器的过压、过流、缺相、不平衡、堵转及时间测试,还可测试电流继电器的动作电流及额定电流的动作时间。
技术参数:
可长时间输出0~50A或0~500A电流
三相电流可均衡输出,具有细调功能
常开、常闭接点自动识别
可同时串接若干只校验,提高工作效率
2、主要技术指标
电源输入:AC 380/220V 50Hz 三相四线
仪表等级:0.2级
输出电流:3×50A或3×500A
时间测试:0.001S-999.999S青岛电子式热继电器测试仪 KX303A马达保护器测试仪 使用方法无刷直流电机(BLDC)应用中,常采用霍尔传感器来检测电机转子的实际位置,给电子换向提供依据。然而,由于制造工艺的限制,霍尔传感器的安装有可能会产生物理位置偏差,从而造成电子换向的时间发生偏差,影响电机的转速和平稳度。为了能检测出这个制造工艺上的缺陷,在工业上采用了的电机检测设备,然而这些设备结构复杂、体积庞大、价格昂贵。本文基于虚拟仪器架构的设计思想,设计了一个低成本的逻辑信号检测仪来检测电机霍尔传感器信号。
使用说明:
选用足够**载流量的电源线接通容量足够的220V电源,把各功能开关选到需要位置,输出调节手轮旋转至零位,即可接被测器件,仪器即可开始工作。当输出电流较大时,应选用内阻较小的电源,若电源内阻过大,输出电流不易升到设定值。
1、测试热继电器
测试时应盖好热继电器盖,小电流值热继电器用小电流档位,把三个热元件串接后,再接在相应的测试柱上,常闭点接辅助接点柱上,量程转换开关选至适当电流档位,输出调节手轮置零位,自锁开关断开,检查各接线端柱接触应良好,打开电源开关,按启动钮,测试电源接通,旋转输出调节手轮至被测热继电器额定电流,使双金属片达到热稳定状态,以此稳定热态再旋转输出调节手轮使测试电流到额定电流的1.2 倍,计时从零开始,进入测试阶段,规定时间内,热继电器应脱扣为合格一项,热继电器接点断开,测试电流消失,计时停止,并显示测验时间,测试终了信号由灯光和声响给出,当要停止信号时可按关断声光开关。
当测试额定 时,一般按规程应从热元件冷态开始。热继电器的其它参数整定请参阅有关规程进行,也可按被保护的电动机负荷情况选定热继电器的安—秒脱扣特性。半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
2、测电动机保护器
在测试前要仔细检查各活动部位,是否锈蚀、卡住,活动轴应有少量润滑油脂才好,试合闸后,人工触动热脱扣,瞬时间脱扣无误后再进行检测。
电动机保护器有辅助接点的同热继电器接法相同,测完断开时,其信号由关断装置的传感器送来,关断测试电源,并显示测验时间,发出测试完毕信号。有必要采用一些其他方法来提高传导EMI的性能。本文主要讨论的是引入输入滤波器来滤除噪声,或增加罩来锁住噪声。EMI滤波器示意简图是一个简化的EMI滤波器,包括共模(CM)滤波器和差模(DM)滤波器。通常,DM滤波器主要用于滤除小于30MHz的噪声(DM噪声),CM滤波器主要用于滤除30MHz至100MHz的噪声(CM噪声)。但其实这两个滤波器对于整个频段的EMI噪声都有一定的作用。显示了一个不带滤波器的输入引线噪声,包括正向噪声和负向噪声,并标注了这些噪声的峰值水平和平均水平。