产品名称：青岛KX303A单相热继电器校验仪 5年保修

半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。
KX303A热继电器校验仪/电动机保护器校验仪

功能简介：

适用于单相、三相热继电器及有源或无源电动机保护器的过压、过流、缺相、不平衡、堵转及时间测试,还可测试电流继电器的动作电流及额定电流的动作时间。

技术参数：

可长时间输出0～50A或0～500A电流

三相电流可均衡输出，具有细调功能

常开、常闭接点自动识别

可同时串接若干只校验，提高工作效率

2、主要技术指标

电源输入：AC  380/220V  50Hz  三相四线

仪表等级：0.2级

输出电流：3×50A或3×500A

时间测试：0.001S-999.999S青岛KX303A单相热继电器校验仪 5年保修当然这种方法也会更加准确一些，无论是找人，还是对中。后，人与人可以试试在一起，判断彼此性格以及其他是不是合适，这个就与对中法非常接近了。对中法也需要数据，电脑进行运算，同样，判断对方是不是良人，也需要很多数据，用大脑去思考对错。虽然在效率上没有特别的优势，但是准确性十分高。同时呢，这样的方法可以降低能耗，提高生产率；就像用心感受出来的人才能更幸福的走向未来。下面是解开这个高大上的对中法。

使用说明：  

选用足够**载流量的电源线接通容量足够的220V电源，把各功能开关选到需要位置，输出调节手轮旋转至零位，即可接被测器件，仪器即可开始工作。当输出电流较大时，应选用内阻较小的电源，若电源内阻过大，输出电流不易升到设定值。

  1、测试热继电器

测试时应盖好热继电器盖，小电流值热继电器用小电流档位,把三个热元件串接后，再接在相应的测试柱上，常闭点接辅助接点柱上，量程转换开关选至适当电流档位，输出调节手轮置零位，自锁开关断开，检查各接线端柱接触应良好，打开电源开关,按启动钮，测试电源接通,旋转输出调节手轮至被测热继电器额定电流，使双金属片达到热稳定状态，以此稳定热态再旋转输出调节手轮使测试电流到额定电流的1.2 倍，计时从零开始，进入测试阶段，规定时间内，热继电器应脱扣为合格一项，热继电器接点断开，测试电流消失，计时停止，并显示测验时间，测试终了信号由灯光和声响给出，当要停止信号时可按关断声光开关。     

当测试额定 时，一般按规程应从热元件冷态开始。热继电器的其它参数整定请参阅有关规程进行,也可按被保护的电动机负荷情况选定热继电器的安—秒脱扣特性。在时域，当有快沿阶跃信号输入时，平坦频率响应示波器会使脉冲产生过冲和振铃，我们知道过冲和振铃是示波器的响应，但这种情况，只有在信号上升时间很快，远远超过示波器可测量范围时，才会产生。在这种情况下，使用更高带宽的示波器，否则测量误差会很大。与高斯系统不同，平坦频响示波器的系统带宽不能由其子系统部件的RMS值确定。用于高斯响应示波器系统的带宽和上升时间公式不适用于平坦响应示波器系统，而需要示波器厂商提供示波器系统带宽，即由示波器/及其前端附件构成组合的带宽。

2、测电动机保护器

在测试前要仔细检查各活动部位，是否锈蚀、卡住，活动轴应有少量润滑油脂才好，试合闸后，人工触动热脱扣，瞬时间脱扣无误后再进行检测。

电动机保护器有辅助接点的同热继电器接法相同，测完断开时，其信号由关断装置的传感器送来，关断测试电源，并显示测验时间，发出测试完毕信号。红外热成像仪通过热成像镜头将物体的红外辐射投射红外探测器上，红外探测器再将强弱不等的辐射信号转换成相应的电信号，经过放大和处理，形成可供人眼观察的图像。(光谱图)在完全漆黑的环境及天气条件下进行观测的新型工具，通过使用红外热像仪"看清"物体散发出的热能。红外热像仪可生成可见红外线或"热"辐射图像。根据物体间的温差生成清晰的图像，即使的细节也能纤毫毕现，实现昼夜工作。红外热成像仪的优势：1.全天候工作，无需光源，不怕强光。