产品名称：直流电阻测试仪校验装置 耐压测试仪校验仪 HN系列 绝缘电阻测试仪检定装置 定制定做

安规测试仪检定装置有以下几种 直流电阻测试仪校验装置 耐压测试仪校验仪 HN系列 绝缘电阻测试仪检定装置 定制定做

HN8061A

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表（兆欧表）检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路电流：0～2mA    0～20mA
电阻0-200G-1T-10T在大多数频谱仪中，RBW控制功能会根据用户配置的频宽自动设置。在OTA测量中，应降低RBW值，以查看可能影响受扰接收机的小信号。这种组合导致大多数电池供电的频谱仪的扫描速率非常低，即其不可能看到导致干扰的小的间歇性瞬态信号。实时频谱仪解决了这个问题，它能够使用RBW较窄的滤波器测量频谱，速度要快于基本扫频仪。显示了LTE信号在空中传送(OTA)时的结果。在这种情况下，频宽被设置成40MHz，默认RBW为300kHz。

HN8062A接地电阻表校验装置

用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表，也可做普通电阻箱使用，具有调节范围宽，使用方便，造型美观等优点。瑞利散射是光纤材料本身固有的性质，由于光纤内部含有的杂质、纤核添加物等产生漫反射，其中部分向后散射形成瑞利背向散射，光纤整个长度上都呈现这种现象。而菲涅尔反射它只是发生在光纤接触到空气时或发生在诸如机械的连接接缝处。光纤损耗的测量所依据的主要是瑞利散射原理;光纤断点的测量所依据的主要原理是菲涅尔反射。瑞利散射损耗可用下式进行近似计算：式中，λ以um为单位，B是与石英和掺杂材料有关的常数。

HN8063A耐电压测试仪校验装置

1、测量准度： 

电压：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

准度：1级  0.5级  0.2级所以一定要保持一定的半径，使激光在纤芯里传输时，避免产生一些不必要的损耗。。野外接续盒一定要密封好，防止进水。熔接盒进水后，由于光纤及光纤熔接点长期浸泡在水中，可能会光纤测试光纤在架设，熔接完工后就是测试工作，使用的仪器主要是OTDR测试仪或光源光功率计，用加拿大EXFO公司的FTB-100B便携式中文彩色触摸屏OTDR测试仪(动态范围有32/337.5/340/345/43db),可以测试，光纤断点的位置；光纤链路的全程损耗；了解沿光纤长度的损耗分布；光纤接续点的接头损耗。

HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置

一、性能特点

1、源、表测量范围：

       电压源（AC，DC）：电压：250V、50V、5V

       电流源（AC，DC）：20mA、2mA

       频率计：10-100HzRBW所代表的意义为两个不同频率信号所能够被清楚分辨出来的频宽差异，因此两个不同频率信号的频宽如果低于频谱仪的解析频宽，如此两信号将会重叠而无法分辨。如此看似更低的RBW将有助于不同频率信号的分辨与量测工作，然而过低的RBW有可能将较高频率的信号给滤除掉，因而导致信号显示时产生失真。较高的RBW当然有助于宽频信号的量测，然而却可能增加杂讯底层值（NoiseFloor）、降低量测灵敏度，并对于侦测低强度的信号容易产生阻碍。

HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置

2、一次额定电流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、电阻四盘连续带电可调。

4、直接指示一次电流值，可做交直流大电流标准表用。有些板上有温度传感器测量环境温度，可用编程的方法用一个简单的函数调用从该传感器获取信息，确保元件在规定的范围内工作。完全的计算是非常乏味和令人头疼的，但是对整体性做更进一步了解则用不着这样费劲。遗憾的是，数据采集板还没有表明整体性的一个通用标准，实践中供应商各用不同的方法来说明精度，在的情况下，使用同一术语的两个供应商描述的可能是不同的精度度量标准，他们的"精度"可能就是从不同的等式中得到。

HN8068A型回路电阻测试仪，直流电阻测试仪检定装置

2 一次额定电流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。

4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。

直流电阻测试仪校验装置 耐压测试仪校验仪 HN系列 绝缘电阻测试仪检定装置 定制定做在带宽500MHz以下的示波器，一般标配是1倍衰减或10倍衰减的无源，某些的衰减比可手动选择。不同衰减比的在带宽、输入电阻、输入电容上面都有差异：图2ZP1025SA1倍、10倍衰减时的参数差异可见的输入电容，比晶体手册的负载电容要大。的介入，必定大大影响到原已参数优化好的电路，从而严重影响晶体电路的起振。两害相权取其轻，测量无源晶振时应优先选用10倍衰减。若10倍衰减的寄生参数还是过大，可以考虑选用有源高压差分，其负载参数优化得非常小，如Lecroy的ZP1000，输入阻抗可达0.9p1M欧姆。