产品名称：接地电阻表校验装置 耐压测试仪校验装置 HN系列 绝缘电阻测试仪校验仪 可定制

安规测试仪检定装置有以下几种 接地电阻表校验装置 耐压测试仪校验装置 HN系列 绝缘电阻测试仪校验仪 可定制

HN8061A

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表（兆欧表）检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路电流：0～2mA    0～20mA
电阻0-200G-1T-10T当波形捕获出来后很多工程师觉得波形占屏幕2格就可以很清晰了，没必要将波形调到铺满屏幕格子去看。其实这是一个误区，今天我们就来看看为什么要让波形铺满示波器屏幕的格子。2格显示和尽量满格显示明显的就是，波形被“拉长”了，也就是垂直档位变小了，而垂直档位的变化直接影响了垂直测量的准确性。这其中重要就是示波器8位ADC与垂直量测量的关系。尺子测量就比如用1米尺子和用10厘米的尺子去量1.6cm的物件，米尺可能量出来的就是2cm，或很难去估算，而10厘米的尺子量出来的就是1.6cm。

HN8062A接地电阻表校验装置

用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表，也可做普通电阻箱使用，具有调节范围宽，使用方便，造型美观等优点。示波器的是连接被测电路与示波器输入端的电子部件，它对示波器测试结果的准确性至关重要，选择如果不合适，再先进的示波器也发挥不出作用。简单的是连接被测电路与电子示波器输入端的一根导线。复杂的则由阻容元件和有源器件组成，于是种类就多了，有源、无源、差分、电流……令人眼花缭乱。本文就来理一理，看看不同的究竟该如何使用。1无源1:1无源的等效电路特点：它需要通过线和示波器连接，示波器的输入阻抗一般设为1MΩ。

HN8063A耐电压测试仪校验装置

1、测量准度： 

电压：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

准度：1级  0.5级  0.2级继电器广泛用于各个领域，如电动汽车、智能电表、电化学等，其性能和可靠性也影响设备系统稳定，继而继电器测试验证标准越来越严格，其测试设备综合要求更高。继电器是具有隔离功能的自动开关元件，广泛应用于遥控、遥测、通讯、自动控制、机电一体化及电力电子设备中，是重要的控制元件之一。对于功耗超过1W和工作频率小于1kHz的的高频继电器，在验证测试过程中，通常需求1k~1kHz交流电。以往提供高频交流电一般通过信号发生器与功率放大器组合输出，即信号发生器产生低能量的高频交流电，经过功率放大器增益放大，达到符合实际应用的高能量的高频交流电。

HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置

一、性能特点

1、源、表测量范围：

       电压源（AC，DC）：电压：250V、50V、5V

       电流源（AC，DC）：20mA、2mA

       频率计：10-100Hz此类红外热像仪不需要制冷，且成本比量子探测器红外热像仪低。制冷型量子探测器采用锑化铟(InSb)、铟镓砷(InGaAs)或应变超晶格制成。这类探测器为光电探测器，即光子撞击像素点，转化为可存储于积分电容器的电子。像素采用的电子快门，通过断开或短路积分电容器来控制快门。量子探测器在本质上比微测辐射热计的速度要快，主要原因是微测辐射热计必须要改变温度。与改变像素温度相反的是，量子探测器是将能量加到半导体中的电子里，提至高于进入导电带的探测器能量带隙，根据探测器的不同设计，可以测量为探测器电压或电流的变化。

HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置

2、一次额定电流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、电阻四盘连续带电可调。

4、直接指示一次电流值，可做交直流大电流标准表用。此时可再将IT6412电源的显示模式由电表模式切换至波形显示模式，此时更可清楚看出电流实际的变化曲线，会是在1mA至15mA做变动，周期约是3ms。在波形模式下尚可借由时间长度的调整，更可看出电流波形的细部或是整体的曲线变化。时间轴为5ms/dvi可看出整体波形的变化时间轴为1ms/dvi可看出细部波形的变化IT64系列电池模拟器不管是在电表显示模式或是波形显示模式下，皆可使用IT6412的一键快速图形截取功能，只要插上USB，即可快速的将前面板的显示画面以图标的方式截取下来，以利后续文档报告的整理。

HN8068A型回路电阻测试仪，直流电阻测试仪检定装置

2 一次额定电流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。

4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。

接地电阻表校验装置 耐压测试仪校验装置 HN系列 绝缘电阻测试仪校验仪 可定制测量误差的产生误差客观存在，但人们无法确定得到；且误差不可避免，相对误差可以尽量减少。误差组成成分可分为随机误差与系统误差，即：误差=测量结果-真值=随机误差+系统误差任意一个误差均可分解为系统误差和随机误差的代数和系统误差：系统误差（Systematicerror）定义：在重复性条件下，对同一被测量进行无限多次测量所得结果的平均值与被测量的真值之差。产生原因：由于测量工具（或测量仪器）本身固有误差、测量原理或测量方法本身理论的缺陷、实验操作及实验人员本身心理生理条件的制约而带来的测量误差。