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安规测试仪检定装置有以下几种 回路电阻测试仪检定装置 高精度交直流电流表 HN系列 绝缘电阻表校验仪 规格齐全

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表(兆欧表)检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档:0~500V 0~5000V -10000V
短路电流:0~2mA 0~20mA
电阻0-200G-1T-10T消防领域为什么要用红外热像仪红外热像仪以温度场红外成像测温为基础,是目前预知性维护的高技术领域,也是消防灾害的有效、高速手段。是各行各业在应对危险品火灾、燃爆的重要手段。消防用的红外热像仪,它的主要作用是帮助我们的消防员,在浓烟或者漆黑的环境下,能够看清火场中的环境,对火势做出迅速的判断,营救遇险人员。在火场中由于有浓烟的存在,我们用人眼是看不到很多东西的。浓烟可以说比雾霾更浓重几十倍、几百倍。
HN8062A接地电阻表校验装置
用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表,也可做普通电阻箱使用,具有调节范围宽,使用方便,造型美观等优点。文章写到这里,我相信大家都理解了为什么频率测量准确对测量的数据结果这么重要了吧。那么接下来我们说说如何保证频率测量的准确。保证频率测量准确的关键一点就是信号的量程选择,量程选择不合适比如输入信号的幅值小于设定量程的10%,就会因为信号幅值过低而无法触发测频电路导致无测量结果或测量值错误,从而无法准确测量频率,所以选择合适的量程是准确测频的步。其次如果输入信号含有较大的干扰信号,使测频电路误触发导致测量出错,此时为了保证测量信号的完整性,同时保证测试频率准确,可以开启设置当中的频率滤波器,以消除干扰信号的频率测量的影响。
HN8063A耐电压测试仪校验装置
1、测量准度:
电压:1000v 2500v 5000v 10000v 30000v
准度:1级 0.5级 0.2级它的主要结构如所示。在容器的上部圆管进入容器口处,有一个圆环形漏斗,漏斗的下方圆盘即基准杯,漏斗将整个双室平衡容器分隔成上下两个部分,故称为双室平衡容器。双室平衡容器的液位测量系统主要有平衡容器、引压管、取源阀门、三阀组和差压变送器以及DCS组成。平衡容器由凝汽室、基准杯、溢流室和连通器组成。凝汽室是位于平衡容器上部,与汽包上部相连接,主要是接受饱和水产生的蒸汽,在这里,蒸汽会遇到漏斗释放点汽化热,形成饱和凝结水,积聚在基准杯里,而基准杯内凝结水产生的压力通过导压管传递给差压变送器的负压侧。
HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置
一、性能特点
1、源、表测量范围:
电压源(AC,DC):电压:250V、50V、5V
电流源(AC,DC):20mA、2mA
频率计:10-100Hz电池包通常由不同节数的单体电芯串接而成,若电芯间的内阻差异很大,则也会严重影响整个电池包的放电能力。因此获取单体电芯的内阻值并进行系统的,也是电池的必测项目。电池内阻是决定电池耐充电及耐放电电流大小的关键,在锂电池PACK工艺生产流程中,对电芯进行检验的电池内阻测试仪一般功能简单,测量信息量少,检测精度不高,数据后期处理简单,缺少在线检测和检测高电压大容量电池和电池组的能力。2015年发布的《锂离子电池行业规范条件》中,对电池内阻的测量提出了新的要求:对于多芯电池组的组成电池,应具有开路电压和内阻在线检测能力,检测精度分别为1mV和1mΩ。
HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置
2、一次额定电流:25A、2.5A。(大30A、3A)
3、电阻四盘连续带电可调。
4、直接指示一次电流值,可做交直流大电流标准表用。找来三把电流钳和三个电压,钳子和找到对应位置随便接上,只需确保测试点间不短路,上电后发现接错接反了调换过来就行了,不需要费心管什么火线零线、正极负极或共地什么的。用示波器还得小心翼翼,ZDL6000的通道隔离就是可以这么任性。测试UPS响应时间的测试,主要是在开机状态下,输入(电网)和输出(负载)端的切入和切出。由于ZDL6000具备硬盘容量级别的记录空间,测试时无需每项内容都重复设置触发、启动捕获和命名保存捕捉的数据。
HN8068A型回路电阻测试仪,直流电阻测试仪检定装置
2 一次额定电流:
1A、10A、100A、200A、300A、600A
3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。
4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。
回路电阻测试仪检定装置 高精度交直流电流表 HN系列 绝缘电阻表校验仪 规格齐全无论是实验室环境还是生产车间,都需要采用更的半导体测试方法。半导体测试是NI的战略重点。我们正在扩展我们的软件平台和PXI功能,以帮助芯片制造商应对他们面临的挑战,这一点通过NI的PXISMU可以完全体现出来。”由于其高吞吐量、高性价比和占地面积小,NI的半导体测试系统(STS)正在快速应用到芯片生产中。全新的PXIe-4163SMU则进一步增强了这些功能,它能提供更高的直流通道密度,使多站点应用具有更高的并行性,以及在生产中提供实验室级别的测量质量。