产品名称：接地电阻测试仪校验装置 耐压测试仪检定装置 HN系列 绝缘电阻表校验装置 来电咨询

安规测试仪检定装置有以下几种 接地电阻测试仪校验装置 耐压测试仪检定装置 HN系列 绝缘电阻表校验装置 来电咨询

HN8061A

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表（兆欧表）检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路电流：0～2mA    0～20mA
电阻0-200G-1T-10T此类红外热像仪不需要制冷，且成本比量子探测器红外热像仪低。制冷型量子探测器采用锑华铟（InS、铟镓砷（InGaAs）或应变超晶格制成。这类探测器为光电探测器，即光子撞击像素点，转化为可存储于积分电容器的电子。像素采用的电子快门，通过断开或短路积分电容器来控制快门。锑化铟(InSb)探测器热像仪，比如FLIRX69sc，在测量-2?C至35?C之间的物体温度时，其典型的积分时间可能低至.48μs。

HN8062A接地电阻表校验装置

用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表，也可做普通电阻箱使用，具有调节范围宽，使用方便，造型美观等优点。干扰源、相合途径及敏感设备是电磁兼容的三要素，缺一不可。电磁兼容的详细内容如所示。电磁兼容如所示，电磁干扰信号的耦合途径有传导和辐射两种。而根据耦合结果不同，干扰又分为共模干扰和差模干扰,共模干扰存在于所有的信号线(包括信号线、数据线和电源线等)和地线之间，而差模干扰存在于信号线之间。提高电磁兼容性措施的有三个方面：提高电子设备本身的EMC性能、对辐射性耦合使用技术加以、对传导耦取隔离加以。

HN8063A耐电压测试仪校验装置

1、测量准度： 

电压：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

准度：1级  0.5级  0.2级很少有研究调查车载网络中可能存在的威胁和对策。Liu等人、McCune等人和Kelberger等人，，提出了车载（控制器局域网（CAN），本地互连网络（LIN），FlexRay等）的威胁和可能的对策，网络**问题（基于VANET的问题不是考虑）。我们目前的调查是次在网联车辆的背景下审查异常检测技术。III.调查方法为了确保可重复性，我们的调查遵循Wholin的滚雪球方法如下。范围定义：继Chandola等人之后。

HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置

一、性能特点

1、源、表测量范围：

       电压源（AC，DC）：电压：250V、50V、5V

       电流源（AC，DC）：20mA、2mA

       频率计：10-100Hz测试时，探针压在PCB表面的待测点，然后通电测试每个网点的通断，并报告存在的短路和断路缺陷。其局限在于只能检测短路和断路两种缺陷，缺口、针孔和残留铜等其它缺陷都无法检测。针床夹具的成本过高，小批量生产不合适；但是随着电子组装向更高密度、更小尺寸、更复杂的PCB混合技术的纵深发展，仅依靠人眼检测或电测试印制电路板的质量无法满足品质要求。为提高产品质量，减少进入下步工序的有缺陷电路板的数量，对PCB检测中的关键设备----自动光学检测(AOI)系统的需求也越来越大。

HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置

2、一次额定电流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、电阻四盘连续带电可调。

4、直接指示一次电流值，可做交直流大电流标准表用。RaytekMMMT测温仪巧妙避免火焰测温过程中可能会产生的测量偏差，限度节省成本并提高生产效率。（金属退火与淬火应用）结构钢和金属形状被制造出来以后，金属的特定部分需要进行退火或回火处理。，工字钢的两端必须经过退火处理以防止在施工现场一个工字钢与另一个连接时发生损坏。另一个例子是摩托车的启动踏板，启动踏板的中心位置需要经过回火处理，以承受当有人试图启动摩托车时产生的过矩。

HN8068A型回路电阻测试仪，直流电阻测试仪检定装置

2 一次额定电流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。

4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。

接地电阻测试仪校验装置 耐压测试仪检定装置 HN系列 绝缘电阻表校验装置 来电咨询分工频耐压试验和直流耐压试验两种。工频耐压试验其试验电压为被试设备额定电压的一倍多至数倍，不低于1000V。其加压时间：对于以瓷和液体为主要绝缘的设备为1分钟，对于以有机固体为主要绝缘的设备为5分钟，对于电压互感器为3分钟，对于油浸电力电缆为10分钟。电气设备经耐压试验能够发现绝缘的局部缺陷、受潮及老化。交流耐压试验：在被试设备电压的2.5倍及以上进行，从介质损失的热击穿观点出发，可以有效地发现局部游离性缺陷及绝缘老化的弱点。