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安规测试仪检定装置有以下几种 回路电阻测试仪校验仪 耐压测试仪检定装置 HN系列 绝缘电阻表检定装置 30年经验

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表(兆欧表)检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档:0~500V 0~5000V -10000V
短路电流:0~2mA 0~20mA
电阻0-200G-1T-10T由于压铸过程中,模具温度失控会造成主线缩痕,砂孔,裂缝,气泡等缺陷,压铸行业的模具温度需要通过红外技术监控。那么,红外技术是如何应用在压铸行业,保证模具温度快速调整并**作业的呢?对于模具的表面温度进行实时监控在无需中断生产流程的情况下,即可有效的防止铸造过程中存在的问题,及时将其扼杀在萌芽状态。由于不必要的使用温度调节,压缩空气,水基润滑剂,脱模剂等,造成加工过程中模具温度过高或者过低对于零件的质量,模具的使用寿命,生产周期以及能源消耗和维护成本等产生的负面影响。
HN8062A接地电阻表校验装置
用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表,也可做普通电阻箱使用,具有调节范围宽,使用方便,造型美观等优点。其中EMI包括:CE(传导干扰),RE(辐射干扰),PT(干扰功率测试)等等。EMS包括:ESD(静电放电),RS(辐射耐受),EFT/B(快速脉冲耐受),surge(雷击),CS(传导耐受)等。常见的扰源显然,EMC设计的目的就是使所设计的电子设备或系统在预期的电磁环境中能够实现电磁兼容。换而言之,就是说设计的电子设备或系统必须能够满足EMC标准规定的两方面的能力。常见EMC测试项目电磁干扰(EMI)的原理EMI的产生原因形式的电磁干扰是影响电子设备兼容性的主要原因。
HN8063A耐电压测试仪校验装置
1、测量准度:
电压:1000v 2500v 5000v 10000v 30000v
准度:1级 0.5级 0.2级如果套管内部存在缺陷,也可能导致套管异常发热。在这种情况下,发生故障套管的整体温度一般较其他正常的两相高(如下图红外热像仪应用在套管上)。如果套管内部或外部接头存在接触,或接点被氧化腐蚀,也可能导致套管接触点温度异常。在这种情况下,发生故障套管接触点就会表现出触点的温度明显高于其他正常的点或线路或套管。变压器套管热缺陷的红外热像仪应用检测依据根据DL/T664-20089.1电流致热型设备的判断:套管将军帽与外部接线板或内部导电杆接触是电流致热故障,判断依据如下:套管内部存在缺陷的情况比较复杂:有可能是电压致热故障所引起的,也有可能是套管机械损伤造成的。
HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置
一、性能特点
1、源、表测量范围:
电压源(AC,DC):电压:250V、50V、5V
电流源(AC,DC):20mA、2mA
频率计:10-100Hz直线度公差指单一实际直线允许的变动全量。用于控制平面或空间直线的形状误差,其公差带根据不同的情况有几种不同的形式。直线度的测量自动测量能给工作人员提供准确的信息,保证轧材符合标准。光电法测量光电法测量是以三台测径仪为基础进行检测的,可以用于测量运动中的线、棒、管的外轮廓的直线度。布置上图的的设备3台,三台设备同一时刻测量被测工件的位置数据左边和右边两台采集的位置连线,计算出中间设备的在直线度为0时的理论位置,与中间一台所获的的位置数据比较,差值即为被测工件在当前位置的直线偏差如下图所示。
HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置
2、一次额定电流:25A、2.5A。(大30A、3A)
3、电阻四盘连续带电可调。
4、直接指示一次电流值,可做交直流大电流标准表用。另外,重心法需要使用至少两根谱线,而且受窗函数主瓣宽度限制,频率重心法所能支持的频率下限只能达到频率分辨率的三倍以上。由于频率重心法没有反馈过程,不依赖于信号,模拟电路实现简单,理论上只要采样率和使用的数据点足够,就能得到正确的结果。特别地,因为同步采样需要硬件电路,受限与成本与体积,大部分测量仪器只支持一到两个PLL源,而频率重心法无此限制,甚至可任意定义基波源(对应于PLL源,用于确定基波)。应用实例PA功率仪提供了三种谐波模式:常规谐波、谐波和IEC谐波。
HN8068A型回路电阻测试仪,直流电阻测试仪检定装置
2 一次额定电流:
1A、10A、100A、200A、300A、600A
3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。
4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。
回路电阻测试仪校验仪 耐压测试仪检定装置 HN系列 绝缘电阻表检定装置 30年经验我们可以想象一台具有实验室仪器的性能的、由电池供电的手持式光谱仪。届时,很多目前无法支持的应用都能够被实现。传统光谱方法大多数色散红外(IR)光谱测量在开始时都采用同样的测量方式。将被的光穿过一个小狭缝,它与控制仪器分辨率的光栅组合在一起。这个衍射光栅是一个专门设计用于以已知角度反射不同波长光的元件。这些波长的空间分离使得其它系统能够以波长为基础测量光强度。光谱测量的传统架构的主要差别在于色散光的测量方式。