产品名称：接地电阻测试仪检定装置 大功率直流标准电阻器 HN系列 绝缘电阻表校验装置 使用方法

安规测试仪检定装置有以下几种 接地电阻测试仪检定装置 大功率直流标准电阻器 HN系列 绝缘电阻表校验装置 使用方法

HN8061A

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表（兆欧表）检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路电流：0～2mA    0～20mA
电阻0-200G-1T-10T3D打印过程中，由于速度、距离、材料等特性的不同，在粉末逐层堆叠累积的过程中，温度会出现异常，如跳变、过高、过低、不均匀等，造成打印后的结构件性能下降，韧度差、弹性不够、变脆、隐纹等。使用之选系列热像仪在可以为金属打印过程中，提供有效的检测方案。TiX1000120Hz帧频模式，刘琛拍摄应用案例：某大学机械制造系统工程重点实验室，负责利用3D打印技术可快速而地制造出任意复杂形状的零件，从而实现“自由制造”项目研究。

HN8062A接地电阻表校验装置

用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表，也可做普通电阻箱使用，具有调节范围宽，使用方便，造型美观等优点。LPWAN行业应用而目前LPWAN主要可分为两类：一类是工作于未授权频谱的LoRa技术；另一类是工作于授权频谱下的NB-IoT。频段授权分布LoRa模块是指基于Semtech公司SX127X系列芯片研发的一款工业级射频无线产品，相比传统的窄带调制技术，LoRa模块采用了扩频调制技术在同频干扰的性能方面具有明显优势，解决了传统设计方案无法同时兼顾距离、抗扰和功耗的弊端。NB-IoT指窄带物联网(NarrowBand-InternetofThings)技术，是工作在授权频段的技术，核心是面向低端物联网终端(低耗流)，适合广泛部署在智能家居、智能城市、智能生产等领域，对长距离、低速率、低功耗、多终端的物联网应用具有较大优势。

HN8063A耐电压测试仪校验装置

1、测量准度： 

电压：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

准度：1级  0.5级  0.2级实际传感器中线圈与输出的接线不会变，只是通过铁芯移动来改变电感，所以R1和R2固定不变。输出电压在上下两个线圈并联电容C1和C2后，分别形成了谐振回路I和回路II。如果铁芯在下方时：回路II谐振，回路I失谐。当铁芯在上方时：回路I谐振，回路II失谐。由于谐振电路在谐振时的阻抗会远大于失谐时的阻抗。可以定性地得出，铁芯在下方时Uout的幅值会比没有电容小，在上方时会比没有电容时大，所以灵敏度会增大。

HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置

一、性能特点

1、源、表测量范围：

       电压源（AC，DC）：电压：250V、50V、5V

       电流源（AC，DC）：20mA、2mA

       频率计：10-100Hz根据与不同的工作状态有关的模式数量，耗电量会立即从几百纳安跃升到几百毫安。传统仪器可能会满足低端需求(如皮安表)或需求(如电流)，但其一般不能涵盖整个电流范围。重新配置仪器设置，甚至测试设置不仅容易出错，而且在实践中并不可行。对大多数物联网应用来说，处理这么宽的动态范围，的方法是使用数字万用表(DMM)的自动量程功能。在理想情况下，能使用单一的配置设置，捕获很宽的电压和电流动态测量范围()。

HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置

2、一次额定电流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、电阻四盘连续带电可调。

4、直接指示一次电流值，可做交直流大电流标准表用。微分结构函数中，波峰与波谷的拐点就是两种结构的分界处，便于识别器件内部的各层结构。在结构函数的末端，其值趋向于一条垂直的渐近线，此时代表热流传导到了空气层，由于空气的体积无穷大，因此热容也就无穷大。从原点到这条渐近线之间的x值就是结区到空气环境的热阻，也就是稳态情况下的热阻。利用结构函数识别器件封装内部的“缺陷”：对比上面两个器件的剖面结构，固晶层可见明显差异。如下图，左边为正常产品，右边为固晶层有缺陷的产品。

HN8068A型回路电阻测试仪，直流电阻测试仪检定装置

2 一次额定电流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。

4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。

接地电阻测试仪检定装置 大功率直流标准电阻器 HN系列 绝缘电阻表校验装置 使用方法研发者尝试着减少热切换的影响，但是事实上，很多测试由于时间方面的限制，是需要进行热切换的，这样可以防止在测试的过程中系统的重新启动或者是确保可以模拟间歇性的故障。热切换是研发者避免不了的。其实测试系统中很多的故障不是由于继电器的正常寿命已经到了而引起，一些故障是在生产的阶段就无法进行检测而引起的。很多的故障是在测试系统中的一些意外的情况而引起的。一个经常发生的情况是系统的集成而引起的，由于不该连接的地方连接，如与电源之间的短路或者是在电容性的负载上进行热切换，从而引起的布线和软件方面的故障，从而影响到继电器。