产品名称：接地电阻测试仪校验装置 泄漏电流测试仪校验装置 HN系列 绝缘电阻测试仪校验装置 可定制

安规测试仪检定装置有以下几种 接地电阻测试仪校验装置 泄漏电流测试仪校验装置 HN系列 绝缘电阻测试仪校验装置 可定制

HN8061A

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表（兆欧表）检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路电流：0～2mA    0～20mA
电阻0-200G-1T-10T在使用数字示波器测量波形参数的时候，我们经常会遇到“光标测量”与“自动测量”结果不一致的情况，到底该哪一个比较准确？本文将为大家解开这个困扰。示波器发展到现阶段，已经不仅仅是在调试中观察波形，更重要的是能很好的测量一些参数帮助大家优化设计方案。示波器的测量方法大致有三种：刻度测量；光标测量；自动测量。刻度测量就是根据波形所占格数进行估测，估测的准确度当然是比较低的，只适合做定性。

HN8062A接地电阻表校验装置

用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表，也可做普通电阻箱使用，具有调节范围宽，使用方便，造型美观等优点。桥面通常由多层材料组成，包括用于吸收红外辐射能量的吸收层，和将温度变化转换成电压（或电流）变化的热敏层，桥臂和桥墩起到支撑桥面，并实现电连接的作用。微测辐射热计的工作原理是：来自目标的热辐射通过红外光学系统聚焦到探测器焦平面阵列上，各个微桥的红外吸收层吸收红外能量后温度发生变化，不同微桥接收到不同能量的热辐射，其自身的温度变化就不同，从而引起各微桥的热敏层电阻值发生相应的改变，这种变化经由探测器内部的读出电路转换成电信号输出，经过探测器外部的信号采集和数据处理电路终得到反映目标温度分布情况的可视化电子图像。

HN8063A耐电压测试仪校验装置

1、测量准度： 

电压：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

准度：1级  0.5级  0.2级数字通信开始快速发展，射频功率测量的重点也开始有些变化。因为数字调制信号(如下图)的包络无规律可循，其和电平会随机变化，而且变化量很大。为了描述这类信号的特征，引入了一些新的描述方法，如领道功率、突发功率、通道功率等。很多传统的功率计已经无法满足数字信号功率的测量要求，一部分功率测量的任务已经开始由频谱仪来完成。下面我们介绍常见的几种射频功率测量方法，在此之前我们还需要明确一件事——在频域测试测量中，为什么习惯以功率来描述信号强度，而不是像时域测试测量中常用的电压和电流?那是因为在射频电路中，由于传输线上存在驻波，电压和电流失去了性，所以射频信号的大小一般用功率来表示，通用的功率单位为W、mW、dBm。

HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置

一、性能特点

1、源、表测量范围：

       电压源（AC，DC）：电压：250V、50V、5V

       电流源（AC，DC）：20mA、2mA

       频率计：10-100Hz在diag下效率为67.86%，在OS下效率为66.62%。输入输出电流基本相等，是因为输入电流到输出电流，经过PNP调整管，只在栅极消耗了一点。以S1167B33-I6T2G为例测得的输入输出曲线如下图：输入端大于3.3V时，一直有恒定的3.3V输出，大于2.8V小于3.3V时，输入等于输出，小于2.8V时，系统就不稳定了。把输出端对地短路，并未出现大电流。5V是spec中定义的，由于怕损伤器件，输入并未超过6.5V测量。

HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置

2、一次额定电流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、电阻四盘连续带电可调。

4、直接指示一次电流值，可做交直流大电流标准表用。磁通门传感器常用的应用包括轮船和飞机的电子罗盘以及地质学家用于检测地下结构的仪器。新发展德州仪器(TI)可提供一系列与集成霍尔效应或磁通门传感器相关的解决方案。“我们正在研发各式各样的磁感应技术，并将其集成至半导体工艺中，以开发出有趣的新器件，”系统工程师RossEisenbeis说道。对于希望在芯片设计中使用TI传感器的工程师们来说，TI提供了丰富的片上功能和支持。一系列的工具和软件可以协助工程师打造新设计，而工程师们也可以在我们的论坛上交流看法并讨论实践。

HN8068A型回路电阻测试仪，直流电阻测试仪检定装置

2 一次额定电流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。

4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。

接地电阻测试仪校验装置 泄漏电流测试仪校验装置 HN系列 绝缘电阻测试仪校验装置 可定制复杂系统的调试和验证面临许多测试技术挑战，包括捕获和可视化多个不频繁或间断出现的事件，如串行数据包、激光脉冲和故障信号。为了准确测量和表征这些信号，必须在长时间内高采样率捕获它们。示波器的默认采集模式因为其有限的记录长度会强制在采样率和捕获时间进行妥协。使用更高的采样率可以更快地填充仪器的内存，减少数据采集的时间窗口。相反，捕获长时间的数据通常是以牺牲水平时间分辨率(采样率)为代价的。分段存储架构FastFrameTM分段存储允许将内存分割成多帧。