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安规测试仪检定装置有以下几种 接地电阻表校验装置 耐压测试仪检定装置 HN系列 兆欧表校验仪 生产厂家

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表(兆欧表)检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档:0~500V 0~5000V -10000V
短路电流:0~2mA 0~20mA
电阻0-200G-1T-10T带宽、采样率和存储深度是数字示波器的三大关键指标。相对于工程师们对示波器带宽的熟悉和重视,采样率和存储深度往往在示波器的选型、评估和测试中为大家所忽视。这篇文章的目的是通过简单介绍采样率和存储深度的相关理论结合常见的应用帮助工程师更好的理解采样率和存储深度这两个指针的重要特征及对实际测试的影响,同时有助于我们掌握选择示波器的权衡方法,树立正确的使用示波器的观念。在开始了解采样和存储的相关概念前,我们先回顾一下数字存储示波器的工作原理。
HN8062A接地电阻表校验装置
用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表,也可做普通电阻箱使用,具有调节范围宽,使用方便,造型美观等优点。测试时,探针压在PCB表面的待测点,然后通电测试每个网点的通断,并报告存在的短路和断路缺陷。其局限在于只能检测短路和断路两种缺陷,缺口、针孔和残留铜等其它缺陷都无法检测。针床夹具的成本过高,小批量生产不合适;但是随着电子组装向更高密度、更小尺寸、更复杂的PCB混合技术的纵深发展,仅依靠人眼检测或电测试印制电路板的质量无法满足品质要求。为提高产品质量,减少进入下步工序的有缺陷电路板的数量,对PCB检测中的关键设备----自动光学检测(AOI)系统的需求也越来越大。
HN8063A耐电压测试仪校验装置
1、测量准度:
电压:1000v 2500v 5000v 10000v 30000v
准度:1级 0.5级 0.2级多功能校验仪是以电信号为输入的温度仪表为基础,兼顾其他功能的多功能校验仪。在多年的检定工作中,专业人士通过实践发现,对多功能校验仪的软件稍加修改即可方便地检测酸度电计、电导率仪电计;若提高准确度并配合Pt-100铂电阻就可以检测气相色谱仪的柱箱温度、程序升温等与温度有关的技术指标。多功能校验仪现有的基本功能1.测量功能测量直流电流、直流电压、交流电流、交流电压、电阻、频率、热电偶、热电阻等功能与万用表大致相同,但准确度较高。
HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置
一、性能特点
1、源、表测量范围:
电压源(AC,DC):电压:250V、50V、5V
电流源(AC,DC):20mA、2mA
频率计:10-100Hz了解电磁干扰的产生原因是电磁干扰,提高电子产品电磁兼容性的重要前提。电磁干扰的产生可以分为:1.内部干扰内部电子元件之间的相互干扰工作电源通过线路的分布电源和绝缘电阻产生漏电造成的干扰。信号通过地线、电源和传输导线的阻抗互相耦合,或导线之间的互感造成的影响。设备或系统内部某些元件发热,影响元件本身及其他元件的稳定性造成的干扰。大功率和高点压部件产生的磁场、电场通过耦合影响其他部件造成的干扰。
HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置
2、一次额定电流:25A、2.5A。(大30A、3A)
3、电阻四盘连续带电可调。
4、直接指示一次电流值,可做交直流大电流标准表用。用DSA13A可以对测试滤波器做简单的定性,测试方法和实测效果如下图所示。应用实例图测试连接方法为了确保通带测量具有高的幅度精度,要求有好的原始和经修正的系统特性。所以要做归一化的操作。如所以,用线缆将TG输出的GENOUTPUT与频谱的RFINPUT连接,图连接GENOUTPUT与RFINPUT连接后,做归一化的操作。图归一化前后比较根据测试的具体滤波器,设置频谱仪的参数。此测试中,将中心频率CenterFreq设定为2GHz,带宽Span设定为1MHz。
HN8068A型回路电阻测试仪,直流电阻测试仪检定装置
2 一次额定电流:
1A、10A、100A、200A、300A、600A
3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。
4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。
接地电阻表校验装置 耐压测试仪检定装置 HN系列 兆欧表校验仪 生产厂家因为探测器口的位置及挡板的设置是固定的,而不同的反射分布直接表现为信号起伏。在普通的测量系统中,不同的正向发散角的LE同一LED不同的放置方向、同一方向不同位置等差异,即使光通量是一致,表现出来的测量值也表现出的差。根据客户的验证结果,普通LED测量系统LED的放置方向对光通量测量结果的影响往往超过50%(这一点尤其在国产设备上表现特别明显)。在测量不同LED不同发光角度时,由于在积分球内表面的分布差异使得直接反射的分布对探测器的影响也不同,从而直接影响到两者测量的准确性的差异。