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HN7062A变压器损耗参数测试仪 (容量,空负载测试仪 )变压器容量特性测试仪 变压器损耗参数测试仪 HN系列 规格齐全
设备相当于四种设备:有源变压器容量测试仪 +变压器损耗参数测试仪 +谐波仪 +示波器。它可对变压器的容量、空载电流、空载损耗、短路损耗、阻抗电压等一系列工频参数进行准确的测量,并能测量空负载试验时的电压、电流失真度和谐波含量,还可以进行矢量。它以大屏幕彩色液晶作为显示窗口,菜单操作并配有汉字提示,集多参量于一屏的显示界面,人机对话界面友好,使用简便、快捷,是各级电力用户的采购产品。电路板缺陷检测包括两部分:焊点缺陷检测和元器件检测,传统的检测采用人工检测方法,容易漏检、检测速度慢、检测时间长、成本高,已经逐渐不能够满足生产需要。设计一种搭载工业相机以取代人眼的机器视觉电路板检测系统,具有非常重要的现实意义。机器视觉检测技术是建立在图像处理算法的基础上,通过数字图像处理与模式识别的方法来实现,与传统的人工检测技术相比,提高了缺陷检测的效率和准确度。机器视觉系统一般采用CCD或CMOS工业相机摄取检测图像并转化为数字信号,再通过计算机软、硬件技术对图像数字信号进行处理,从而得到所需要的目标图像特征值,并由此实现零件识别或缺陷检测等多种功能。
主菜单共有五个可选项,分别为:容量测试、负载测试、空载测试、历史数据。需要选择就用手触摸相应的图标,下端显示当前的日期时间、内部电池的电压幅值和剩余电量百分比,从而可以及时掌握仪器的电池电量情况,了解仪器是否要充电避免没有及时充电而在现场无法正常工作的情况。浮球中的磁体和传感器(磁簧开关)作用,使串连入电路的元件(如定值电阻)的数量发生变化,进而使仪表电路系统的电学量发生改变。也就是使磁性浮子位置的变化引起电学量的变化。通过检测电学量的变化来反映容器内液位的情况。适用范围及特点磁浮球液位计几乎可以适用与工业自动化过程控制中的液位测量与控制,可以广泛运用于石油加工、食品加工、化工、水处理、制药、电力、造纸、冶金、船舶和锅炉等领域中的液位测量、控制与监测。
各功能选项的用途分别为:
容量测试:用来测量变压器的容量值。
负载测试:使用外接的三相电源进行变压器的负载测试
空载测试:使用外接的三相电源进行变压器的空载试验。
历史数据:查看已保存的测试结果记录。
系统设置:设置仪器的参数,及厂家出厂调
下面介绍每个界面的操作方法和仪器接线方法
容量测试仪配有三把测试钳(黄、绿、红),每只钳子分别引出两根测试线,一根粗线、一根细线,粗线接到仪器面板上容量测试端子对应颜色的电流端子(Ia、Ib、Ic),细线接到仪器面板上容量测试端子对应颜色的电压端子(Ua、Ub、Uc),将钳头按颜色分别夹在被试变压器的高压侧各相接线柱上,变压器的低压侧要用短接线良好短接。
容量测试设置界面如图,项目有:一次电压,二次电压,变压器类型,阻抗电压,当前温度,矫正温度,连接组别,标称容量,变压器编号,测试人员。点击确定开始测试。点击返回,返回主界面
各项参数的含义和作用如下:Atmel、赛普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已经把部分用户可定义逻辑添加到自己的部件上,用于修复部分此类问题。这些器件主要是带附加逻辑的微控制器。CPU仍然是主要的处理器件,附加逻辑的作用是提高CPU的工作效率。这类器件常见于成本敏感性产品中,但也在低级任务中用作小型协处理器,以减轻主处理器的负担,从而提升效率。另一方面FPGA也正在朝着类似的目标前进,虽然是从另一个方向。赛灵思和Altera多年来一直在添加软硬核处理器以创建片上系统。
一次电压:变压器高压测电压值,指被试变压器施压侧的额定电压值。用于区别不同电压等级的变压器;相同容量、不同电压等级变压器的短路试验参数值是不同的;要做到准确判断,就必须输入被试变压器的高压侧额定电压。点击黄色输入框,仪器弹出数字键盘,输入一次电压值,默认为10KV。且由于中性线导线截面一般应是相线截面的50%,但在选择时,有的往往偏小,加上接头质量不好,使导线电阻增大。中性线烧断的几率更高。同理在配电屏上,造成开关重负荷相烧坏、接触器重负荷相烧坏,因而整机损坏等严重后果。致远电子给用户提供了一套远程电力监控方案,它可以自动为用户检测电力相关参数,如电压、电流的有效值、相角、谐波、功率、三相不平衡等电能量,一旦有异常发生可以时间通知用户,尽可能快的排除故障避免悲剧发生。
二次电压:变压器低压测电压值,点击黄色输入框,仪器弹出数字键盘,输入二次电压值,默认为0.4KV。变压器类型:指变压器的不同类型。(不是变压器形式),主要有8中类型,1油式无励磁调压配电,2油式无励磁调压电力,3油式有载调压配电,4油式有载调压电力,5干式无励磁调压配电,6干式无励磁调压电力,7干式有载调压配电,8干式有载调压电力。点击黄色输入框,出现下拉菜单,选择点击相应的变压器类型。默认为类型1(即1油式无励磁调压配电)。
1、 容量测试界面实际的电路设计中,由于晶体管的开关以及实际互连线的特性等原因导致电源在一定范围内波动。当实际供电值高于波动上限时,就会引起芯片工作的可靠性问题;当实际供电值低于下限时会导致芯片的工作性能降低甚至不能工作;当电压波动幅度较大时,可能会直接影响相关电路的信号质量。基于上述这些问题,随着单板高速高密度的发展,电源完整性已经成为制约设计的一个重要因素。在硬件设计和调测过程中,必须保证电源电路高质量工作。
1)实验接线方法
2)界面操作