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  • 产品名称:变压器容量及损耗测试仪 变压器损耗参数测试仪 华能牌 可定制

  • 产品型号:HNDL
  • 产品厂商:华能
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简单介绍:
冲击测试系统系应用于诸如电力变压器、比成器、高压开关及电力电缆等高压器材的冲击电压试验。此种测试系依据相关的国际标准规范执行全波(full)或截断(chopped) 的闪电突波(L.I)变压器容量及损耗测试仪 变压器损耗参数测试仪 华能牌 可定制
详情介绍:

HN7062A变压器损耗参数测试仪 (容量,空负载测试仪 )变压器容量及损耗测试仪 变压器损耗参数测试仪 华能牌 可定制

变压器容量及损耗测试仪 变压器损耗参数测试仪 华能牌 可定制设备相当于四种设备:有源变压器容量测试仪 +变压器损耗参数测试仪 +谐波+示波器。它可对变压器的容量、空载电流、空载损耗、短路损耗、阻抗电压等一系列工频参数进行准确的测量,并能测量空负载试验时的电压、电流失真度和谐波含量,还可以进行矢量。它以大屏幕彩色液晶作为显示窗口,菜单操作并配有汉字提示,集多参量于一屏的显示界面,人机对话界面友好,使用简便、快捷,是各级电力用户的采购产品。一个是测量室,一个是参比室。两室通过切光板以一定周期同时或交替开闭光路。在测量室中导入被测气体后,具有被测气体特有波长的光被吸收,从而使透过测量室这一光路而进入红外线接收气室的光通量减少。气体浓度越高,进入到红外线接收气室的光通量就越少;而透过参比室的光通量是一定的,进入到红外线接收气室的光通量也一定。被测气体浓度越高,透过测量室和参比室的光通量差值就越大。这个光通量差值是以一定周期振动的振幅投射到红外线接收气室的。变压器容量及损耗测试仪 变压器损耗参数测试仪 华能牌 可定制

主菜单共有五个可选项,分别为:容量测试、负载测试、空载测试、历史数据。需要选择就用手触摸相应的图标,下端显示当前的日期时间、内部电池的电压幅值和剩余电量百分比,从而可以及时掌握仪器的电池电量情况,了解仪器是否要充电避免没有及时充电而在现场无法正常工作的情况。滤波器是通用的无源、线性、两端口器件,通常采用扫频传输/反射测试技术来完整的表征他的特性。虽然滤波器是一种简单的电气元件,但是它的特性在元件测试系统中的地位是很重要的。此案例是测试一个低通滤波器,要求它对于带宽内的信号具有的损耗和失真,而对宽带之外的信号具有的。为了地测试这些特性,要求测量系统的频率和功率电平在很宽的范围内都要非常。用GA4063可以对测试滤波器做简单的定性,测试方法和实测效果如下图所示。变压器容量及损耗测试仪 变压器损耗参数测试仪 华能牌 可定制

各功能选项的用途分别为:

容量测试:用来测量变压器的容量值。

负载测试:使用外接的三相电源进行变压器的负载测试

空载测试:使用外接的三相电源进行变压器的空载试验。

历史数据:查看已保存的测试结果记录。

系统设置:设置仪器的参数,及厂家出厂调

下面介绍每个界面的操作方法和仪器接线方法

1、 容量测试界面近日,“-希腊激光技术联合实验室”在故宫启动并举行揭牌仪式。活动当日,故宫对外展示了五个仪器——大样品室环境扫描电子显微镜、粉末X射线衍射仪、波长色散X射线荧光光谱仪、能量色散X射线荧光光谱仪和显微共聚焦激光拉曼光谱仪。故宫博物院作为明清两朝皇宫,无数的奇珍异宝汇聚其中,很多馆藏都历经了数百年乃至上千年的沧桑,对于的保养修复似乎是一个永远说不尽的话题。近日,“-希腊激光技术联合实验室”在故宫启动并举行揭牌仪式。变压器容量及损耗测试仪 变压器损耗参数测试仪 华能牌 可定制

1实验接线方法

容量测试仪配有三把测试钳(黄、绿、红),每只钳子分别引出两根测试线,一根粗线、一根细线,粗线接到仪器面板上容量测试端子对应颜色的电流端子(IaIbIc),细线接到仪器面板上容量测试端子对应颜色的电压端子(UaUbUc),将钳头按颜色分别夹在被试变压器的高压侧各相接线柱上,变压器的低压侧要用短接线良好短接

2)界面操作

容量测试设置界面如图,项目有:一次电压,二次电压,变压器类型,阻抗电压,当前温度,矫正温度连接组别,标称容量,变压器编号,测试人员。点击确定开始测试。点击返回,返回主界面

各项参数的含义和作用如下:热成像通过检测人表面的热辐射进行测温,基于测温大数据,通过测温算法映射为内部温度。红外测温如何筑起防疫的道防线?毒2019-nCoV的症状为发热、干咳、呼吸急促及呼吸困难。温度升高或发热通常是许多严重传染的可靠预示。红外热成像能够帮助检测表示可能存在发热症状的体温升高,还能用作辅助诊断工具,帮助检测可能发热的人或限制毒性的传播,如禽流感和猪流感,或感染,如非典型肺炎。变压器容量及损耗测试仪 变压器损耗参数测试仪 华能牌 可定制

一次电压:变压器高压测电压值,指被试变压器施压侧的额定电压值。用于区别不同电压等级的变压器;相同容量、不同电压等级变压器的短路试验参数值是不同的;要做到准确判断,就必须输入被试变压器的高压侧额定电压。点击黄色输入框,仪器弹出数字键盘,输入一次电压值,默认为10KV。半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。

二次电压:变压器低压测电压值,点击黄色输入框,仪器弹出数字键盘,输入二次电压值,默认为0.4KV变压器类型:指变压器的不同类型。(不是变压器形式),主要有8中类型,1油式无励磁调压配电,2油式无励磁调压电力,3油式有载调压配电,4油式有载调压电力,5干式无励磁调压配电,6干式无励磁调压电力,7干式有载调压配电,8干式有载调压电力。点击黄色输入框,出现下拉菜单,选择点击相应的变压器类型。默认为类型1(1油式无励磁调压配电)

4151调制域仪具有的时间间隔测量功能及应用演示如下:正时间间隔测量。4151调制域仪提供的正时间间隔测量功能,既可以实现单通道的连续周期测试,也可以实现双通道之间的相对时间间隔测试,双通道时间间隔测量需设置相对关系,AB或BA的正时间间隔测量。4151调制域仪正时间间隔的测量范围为4ns~8s,时间测量分辨率为5ps。正时间间隔测量演示上图是用Tek公司的任意波形发生模拟了雷达发射与接收脉冲信号的正时间间隔测试结果,B通道输入脉冲信号的周期为1us,相对延迟时间为ns。变压器容量及损耗测试仪 变压器损耗参数测试仪 华能牌 可定制

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