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HN7062A变压器损耗参数测试仪 (容量,空负载测试仪 )可测s20变压器 变压器容量及空负载测试仪 HN系列 变压器空载负载测试仪 大量供应
设备相当于四种设备:有源变压器容量测试仪 +变压器损耗参数测试仪 +谐波仪 +示波器。它可对变压器的容量、空载电流、空载损耗、短路损耗、阻抗电压等一系列工频参数进行准确的测量,并能测量空负载试验时的电压、电流失真度和谐波含量,还可以进行矢量。它以大屏幕彩色液晶作为显示窗口,菜单操作并配有汉字提示,集多参量于一屏的显示界面,人机对话界面友好,使用简便、快捷,是各级电力用户的采购产品。多种商用固定式或手持式读取器经测试也可与这些标签配合使用。智能无源传感器采用激励回路,能够通过测量阻抗变化实现湿度或压力监测,并采用了一个无微控制器的自微调IC,其中含有自适应RFID前端、片载温度传感器以及用于标识的集成式存储器。标签使用行业标准第2代UHF协议进行通信。当读取器初始化通信时,IC测量此激励回路内的温度条件,并将含数字化温度的测量数据从片载传感器传输到读取器。
主菜单共有五个可选项,分别为:容量测试、负载测试、空载测试、历史数据。需要选择就用手触摸相应的图标,下端显示当前的日期时间、内部电池的电压幅值和剩余电量百分比,从而可以及时掌握仪器的电池电量情况,了解仪器是否要充电避免没有及时充电而在现场无法正常工作的情况。拉曼散射是由光纤中非传播的局域密度不均匀和成分不均匀所致,这种不均匀性是在拉纤阶段,化硅由熔融态转变为凝固态的过程中形成的。激光脉冲在光纤中所走过的路程为:2L=vt。其中,t为入射光经后向散射返回到光纤入射端所需时间;v为光在光纤中的传播速度,v=c/n,c为真空中的光速,n为光纤的折射率;L为光纤某处到光纤入射端的距离。在t时刻测量距光纤入射端距离为L处局域的后向拉曼散射光,OTDR为分布式测量提供可靠的理论依据。
各功能选项的用途分别为:
容量测试:用来测量变压器的容量值。
负载测试:使用外接的三相电源进行变压器的负载测试
空载测试:使用外接的三相电源进行变压器的空载试验。
历史数据:查看已保存的测试结果记录。
系统设置:设置仪器的参数,及厂家出厂调
下面介绍每个界面的操作方法和仪器接线方法
容量测试仪配有三把测试钳(黄、绿、红),每只钳子分别引出两根测试线,一根粗线、一根细线,粗线接到仪器面板上容量测试端子对应颜色的电流端子(Ia、Ib、Ic),细线接到仪器面板上容量测试端子对应颜色的电压端子(Ua、Ub、Uc),将钳头按颜色分别夹在被试变压器的高压侧各相接线柱上,变压器的低压侧要用短接线良好短接。
容量测试设置界面如图,项目有:一次电压,二次电压,变压器类型,阻抗电压,当前温度,矫正温度,连接组别,标称容量,变压器编号,测试人员。点击确定开始测试。点击返回,返回主界面
各项参数的含义和作用如下:在必须将工件从投影比较仪再送到其它仪器(如测量系统或万工显)上作进一步检测的情况下,就可以充分体现出组合测量方式的潜在价值。用户或许可以用投影比较仪的低倍放大镜完成大部分测量工作,但OV2系统却能完成用投影比较仪难以完成的检测任务。QC300触摸显示屏的应用可使投影比较仪用途更广泛、读数更,它能显示X-Y读数和测量数据,同时内置的卡可支持摄像机的实时图像。此外,它还具有CNC系统普遍具有的边缘检测功能,即可通过扫描在显示器十字瞄准线周围圆形区内的图像,对工件的边缘点进行自动检测和定标,从而可消除操作者用十字线肉眼瞄准工件边缘造成的主观人为误差。
一次电压:变压器高压测电压值,指被试变压器施压侧的额定电压值。用于区别不同电压等级的变压器;相同容量、不同电压等级变压器的短路试验参数值是不同的;要做到准确判断,就必须输入被试变压器的高压侧额定电压。点击黄色输入框,仪器弹出数字键盘,输入一次电压值,默认为10KV。而基于成像光度测量灯具光强分布的研究由于更加复杂,精度难以提高,目前仍处于研究阶段。灯具的分布光度测量是灯具设计和照明设计中质量控制的重要环节,尤其是随着LED等新光源和新兴照明技术的发展,对灯具分布光度测量提出了新的挑战。因此我们根据目前发展状况及需求,进行基于成像光度法的LED光强分布测试的分布光度计研制。目前国内灯具市场产品质量良莠不齐,每年有大量新款灯具涌入市场。其实际照明效果的评估往往得不到有效评估。
二次电压:变压器低压测电压值,点击黄色输入框,仪器弹出数字键盘,输入二次电压值,默认为0.4KV。变压器类型:指变压器的不同类型。(不是变压器形式),主要有8中类型,1油式无励磁调压配电,2油式无励磁调压电力,3油式有载调压配电,4油式有载调压电力,5干式无励磁调压配电,6干式无励磁调压电力,7干式有载调压配电,8干式有载调压电力。点击黄色输入框,出现下拉菜单,选择点击相应的变压器类型。默认为类型1(即1油式无励磁调压配电)。
1、 容量测试界面目前T/R组件测试大多采用串行顺序测试的模式,即执行完一个测试任务,再启动另一个测试任务,直至完成测试。这相当于要求几个人累计完成1千米的跑步,现在采用的是接力跑模式,为什么不能根据每个人的能力一起跑呢?岂不是更快?多T/R组件并行测试模式就是在同一时刻,不同的T/R组件以多线程的方式执行不同的测试任务,测试任务之间所需的仪器和通道并不冲突。并行测试难点不同于数字和低频测试仪器,当今射频微波测试仪器自身的测试通道还比较少,一般也只能完成某一类性能参数的测试。
1)实验接线方法
2)界面操作