产品名称：交流采样校验仪 多表位电压监测仪校验装置 作用 三相仪表校验仪

HN8001A三相交直流指示仪表，电测仪表检定装置 交流采样校验仪 多表位电压监测仪校验装置 作用 三相仪表校验仪

车高平 13608980122/15689901059

输出交直流电压、电流、相位和功率均为高精度、高稳定度标准源，软件校准。各项输出均采用动态负载自动调整技术,降低了负载调整率。采用高速交流采样、高速数字信号处理器（DSP）、复杂可编程逻辑阵列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式计算机系统设计而成，将系统、测试和信号高度集成，体积小，重量轻，可靠性极高，功能性极强。用于检测数字仪表、指示仪表、电能表、互感器、数字测控装置、变送器、交流采样装置

testo89红外热成像仪因其高热灵敏度、高分辨率、德图的湿度成像功能，顺利完成检测任务。解决方案德图专家来到洞窟后，对现场评估。洞内的石像在古代依山开凿而成，历经朝代更迭，石像表面进行了泥塑彩绘并以这样的姿态流传现今。此次，针对此类石窟石像，有三个检测目标：发现裂纹检测佛像表面的泥塑裂纹，使得修复专家尽早发现并着手修复。当泥塑的裂纹扩大到肉眼可见甚至开始脱落时，石像的修复难度就越大。佛像均有十几米高，近距离检查佛像本体十分不便。
 技术参数：

整机有效精度 0.05级

交直流电压输出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

调节范围：(0～120)%RG RG为量限,下同

准确度：0.05%RG

 交直流电流输出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

调节范围:  (0～120)%RG   RG为量限,下同；

准确度： 0.05%RG

     交流采样校验仪 多表位电压监测仪校验装置 作用 三相仪表校验仪目前常用的方法是使用双狄拉克模型。该模型假定概率密度函数两侧的尾部是服从高斯分布的，高斯分布很容易模拟，并且可以向下推算出较低的概率分布。总抖动是RJ和DJ概率密度函数的卷积。业界对于高斯分布能否地描绘随机抖动直方图的尾部还存在争议。真正的随机抖动是遵守高斯分布的，但实际的测量中多个低幅度的DJ会卷积到一个分布函数，这导致测量出的概率密度分布的中心接近高斯分布，而尾部却夹杂了一些DJ。频率设置：在源关闭状态可通过鼠标选中液晶屏的频率编辑框设置频率。频率设置范围是40Hz～70Hz，分辨率为0.0001Hz 。超出范围将会自动按频率的值或者值输出频率值。也可通过面板按键编辑器进行频率设置：对交流源的频率信号进行调节。按键编辑器显示为F=××.××××Hz；若交流源处于关闭状态，则打开并输出交流源，源幅度为量限幅度。光标指示当前欲调节细度，按【←】键可左移光标，按【→】键可右移光标。确定好调节细度后旋转编码器可对频率信号进行升/降调节

实际的电路设计中，由于晶体管的开关以及实际互连线的特性等原因导致电源在一定范围内波动。当实际供电值高于波动上限时，就会引起芯片工作的可靠性问题；当实际供电值低于下限时会导致芯片的工作性能降低甚至不能工作；当电压波动幅度较大时，可能会直接影响相关电路的信号质量。基于上述这些问题，随着单板高速高密度的发展，电源完整性已经成为制约设计的一个重要因素。在硬件设计和调测过程中，必须保证电源电路高质量工作。

直流标准源参数操作

当用鼠标选中标准源视窗中〖交直流〗单选按钮的〖直流〗选项时，标准源视窗将处于直流标准源状态。此时所有交流源参数将处于变灰无效状态。仅直流源参数可进行操作。

在直流标准源输出前可以对直流标准源的量限进行设置；设置完毕，按下〖源输出〗按钮或【F1】键，HN8005B将输出所设定的标准直流信号。

对于直流参数的设置与修改可以通过两种方式:

方式一：直接使用【百分比键】操作。直流源将按当前选择的量限百分比进行输出。若直流源处于关闭状态，则打开并输出直流源，若直流源已处于输出状态，则直接按量限百分比输出相应幅度。

电子产品的发展日新月异，尤其是消费电子产品如智能，更新换代之快更是令人目不暇接，几个月就可能有一款新产品上市。而测试测量仪器从外形、使用方法上多年来还基本保持其一贯的风格，以集成有屏幕、操作面板和处理器的传统的台式机器为主。电子行业基础的测试测量设备——示波器，数年来也持续追求高带宽、高精度、多通道等技术。而随着外部接口信号速度的进一步提升，如USB3.0的传输速度可达5Gbps/s，USB3.1的传输速度可达10Gbps/s，以及电子产品的发展趋势如传统大哥大到智能的转变蕴含了从大而功能简单到紧凑而功能强大的发展思路，传统台式仪器的演变似乎也有了新的趋势，如近来泰克就发布了基于PC（USB）的频谱仪和网络仪，而基于PC测试仪器尤其是基于PC的实时示波器和采样示波器的开创鼻祖当属来自英国女皇奖企业英国比克科技（PicoTechnology），其致力于PC测试仪器的研发和生产已有26年的历史。