产品名称：三相交流采样变送器校验仪台 多表位电压监测仪校验仪 高质量供应 三相交直流仪表校验装置

HN8001A三相交直流指示仪表，电测仪表检定装置 三相交流采样变送器校验仪台 多表位电压监测仪校验仪 高质量供应 三相交直流仪表校验装置

车高平 13608980122/15689901059

输出交直流电压、电流、相位和功率均为高精度、高稳定度标准源，软件校准。各项输出均采用动态负载自动调整技术,降低了负载调整率。采用高速交流采样、高速数字信号处理器（DSP）、复杂可编程逻辑阵列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式计算机系统设计而成，将系统、测试和信号高度集成，体积小，重量轻，可靠性极高，功能性极强。用于检测数字仪表、指示仪表、电能表、互感器、数字测控装置、变送器、交流采样装置

波形记录仪的主流分辨率为12比特，而ZLG致远电子ZDL6000示波记录仪分辨率为14比特，在同样的条件下，可以读到的刻度值为0.0012V。分辨率越高，采集精度越大，更容易测量信号的值、有效值等数据，还可以根据这些数值进行高精度的运算(如：瞬时功率，能量积分等)。通道数量数字示波器一般都是4通道的，而波形记录仪根据机型不同，支持通道数一般在8通道以上。通道越多，可同时观察的信号也就越多，可比较性就越好。
 技术参数：

整机有效精度 0.05级

交直流电压输出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

调节范围：(0～120)%RG RG为量限,下同

准确度：0.05%RG

 交直流电流输出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

调节范围:  (0～120)%RG   RG为量限,下同；

准确度： 0.05%RG

     三相交流采样变送器校验仪台 多表位电压监测仪校验仪 高质量供应 三相交直流仪表校验装置用户可以使用4个中等功率SMU(42-SMU,421-SMU)或高功率SMU(421-SMU,4211-SMU)，对高电阻材料，要求使用42-PA前置放大器。A-SCS包括多项内置测试，在需要时把SMU的功能自动切换到电压表或电流源，霍尔电压测量要求对样本应用磁场。A-SCS包括交互软件，在半导体材料上进行范德堡法和霍尔电压测量。A-SCSClarius+软件提供了的程序库，除电阻率和霍尔电压测试外，还包括许多其他测试和项目。频率设置：在源关闭状态可通过鼠标选中液晶屏的频率编辑框设置频率。频率设置范围是40Hz～70Hz，分辨率为0.0001Hz 。超出范围将会自动按频率的值或者值输出频率值。也可通过面板按键编辑器进行频率设置：对交流源的频率信号进行调节。按键编辑器显示为F=××.××××Hz；若交流源处于关闭状态，则打开并输出交流源，源幅度为量限幅度。光标指示当前欲调节细度，按【←】键可左移光标，按【→】键可右移光标。确定好调节细度后旋转编码器可对频率信号进行升/降调节

模拟偏置模拟偏置，也称为DC偏置，是一个非常有用的功能，大多数示波器都具有该功能。如果运用得当，可以避免小信号测试时垂直分辨率的丢失的问题。模拟偏置给输入的信号加上一个直流偏置电压，如果输入信号超出了示波器ADC的测量范围，加上偏置电压之后，能将信号调节到示波器的范围内。超出范围的信号通过模拟偏置将信号调节至示波器的测量范围内典型应用：LVDS1）LVDS信号特征LVDS（低压差分信号），如所示，两组相位相反的差分信号，信号特征如下：峰峰值：350mV共模电压偏置：1.2V高压：1.2V+0.5*350mV=1.375V低压：1.2V+0.5*350mV=1.025V该测的是PicoScope6404B示波器，4通道，500MHz，8位分辨率，信号是仿真的LVDS信号。

直流标准源参数操作

当用鼠标选中标准源视窗中〖交直流〗单选按钮的〖直流〗选项时，标准源视窗将处于直流标准源状态。此时所有交流源参数将处于变灰无效状态。仅直流源参数可进行操作。

在直流标准源输出前可以对直流标准源的量限进行设置；设置完毕，按下〖源输出〗按钮或【F1】键，HN8005B将输出所设定的标准直流信号。

对于直流参数的设置与修改可以通过两种方式:

方式一：直接使用【百分比键】操作。直流源将按当前选择的量限百分比进行输出。若直流源处于关闭状态，则打开并输出直流源，若直流源已处于输出状态，则直接按量限百分比输出相应幅度。

在过去的几十年里，很少有其它检测仪器像光学投影比较仪那样测量快捷、使用方便。光学投影比较测量是将投射到投影屏上的工件放大轮廓与绘制有按比例放大的工件正确外形及公差带的透明胶片进行对比，以直接判定工件合格与否。虽然随着采用电子技术、精度更高的几何形貌测量技术的发展，光学比较测量这种简单的检测方式已显得有些过时，但投影比较仪仍然是生产车间常用的视觉检测仪器。与此同时，其它高技术测量仪器的测量能力在不断提高，如基于摄像机的视觉检测系统能够降低操作者的人为误差，使微小的工件形貌可见和可测。