产品名称：交直流标准源 电压监测仪校验装置 高质量供应 仪表校验装置

HN8001A三相交直流指示仪表，电测仪表检定装置 交直流标准源 电压监测仪校验装置 高质量供应 仪表校验装置

车高平 13608980122/15689901059

输出交直流电压、电流、相位和功率均为高精度、高稳定度标准源，软件校准。各项输出均采用动态负载自动调整技术,降低了负载调整率。采用高速交流采样、高速数字信号处理器（DSP）、复杂可编程逻辑阵列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式计算机系统设计而成，将系统、测试和信号高度集成，体积小，重量轻，可靠性极高，功能性极强。用于检测数字仪表、指示仪表、电能表、互感器、数字测控装置、变送器、交流采样装置

当今，为了美化环境，热力管道直埋已经十分普遍，但是由于管道腐蚀老化、荷载震动、管道质量，施工质量，使用年限等多种原因，不可避免的会发生泄漏情况，既造成了能源浪费和供热成本的增加，又影响热用户的取暖，因此管道查漏一直困扰着供热企业。对于热力管道泄漏，传统方法很难，但是红外热像仪作为一种新型检测设备，能够通过扫描被测区域，观察热图像中温度分布状况，快速准确地对地下供暖管道泄漏部位进行，而FLIRE85红外热像仪和FLIRE8红外热像仪正是这样的设备。
 技术参数：

整机有效精度 0.05级

交直流电压输出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

调节范围：(0～120)%RG RG为量限,下同

准确度：0.05%RG

 交直流电流输出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

调节范围:  (0～120)%RG   RG为量限,下同；

准确度： 0.05%RG

     交直流标准源 电压监测仪校验装置 高质量供应 仪表校验装置LED研发一LED光源半导体芯片发热利用热像仪，工程师可以根据得到的光源半导体芯片发热红外热图，出其芯片在工作时的温度，以及温度的分布情况，在此基础，达到提高LED产品寿命的目的。二LED模块驱动电路在LED产品研发中，需要工程师进行一部分驱动电路设计，整流器电路模块。利用红外热像仪，工程师可以迅速而便捷地发现电路上温度异常之处，便于完善电路设计。三光衰试验LED产品的光衰就是光在传输中的信号减弱，而现阶段的LED大厂们做出的LED产品光衰程度都不相同，大功率LED同样存在光衰，这和温度有着直接的关系，主要是由晶片、荧光粉和封装技术决定的。频率设置：在源关闭状态可通过鼠标选中液晶屏的频率编辑框设置频率。频率设置范围是40Hz～70Hz，分辨率为0.0001Hz 。超出范围将会自动按频率的值或者值输出频率值。也可通过面板按键编辑器进行频率设置：对交流源的频率信号进行调节。按键编辑器显示为F=××.××××Hz；若交流源处于关闭状态，则打开并输出交流源，源幅度为量限幅度。光标指示当前欲调节细度，按【←】键可左移光标，按【→】键可右移光标。确定好调节细度后旋转编码器可对频率信号进行升/降调节

在风口气流分布不均匀的场合，间接法测量不再准确，与直接法测量结果差异大。现场实测：在风机出风口处，分别适用风量罩和1mm大叶轮风速仪测量测量。使用风量罩完全罩住风口，得出风量值27m3/h.使用1mm大叶轮风速仪在风口做时间平均的风速测量，通过计算得出风量值18m3/h.结论解释：风机出风口处气流分布可近似为一致均匀状态，两种方法测得结果近似一致。难题：风压（风机压力、管道压力、部件阻力）该如何理解并测量？解答：风机压力为风机出风口与回风口压力之差，风机压力为系统送风能力的衡量指标（可类比为血压）。

直流标准源参数操作

当用鼠标选中标准源视窗中〖交直流〗单选按钮的〖直流〗选项时，标准源视窗将处于直流标准源状态。此时所有交流源参数将处于变灰无效状态。仅直流源参数可进行操作。

在直流标准源输出前可以对直流标准源的量限进行设置；设置完毕，按下〖源输出〗按钮或【F1】键，HN8005B将输出所设定的标准直流信号。

对于直流参数的设置与修改可以通过两种方式:

方式一：直接使用【百分比键】操作。直流源将按当前选择的量限百分比进行输出。若直流源处于关闭状态，则打开并输出直流源，若直流源已处于输出状态，则直接按量限百分比输出相应幅度。

1共模干扰共模干扰是信号对地的电位差，主要由电网串入、地电位差及空间电磁辐射在信号线上感应的共态（同方向）电压迭加所形成。共模电压有时较大，特别是采用隔离性能差的配电器供电室，变送器输出信号的共模电压普遍较高，有的可高达130V以上。共模电压通过不对称电路可转换成差模电压，直接影响测控信号，造成元器件损坏（这就是一些系统I/O器件损坏率较高的主要原因），这种共模干扰可为直流、亦可为交流。2差模干扰差模干扰是指作用于信号两极间的干扰电压，又叫串模干扰，主要由空间电磁场在信号间耦合感应及由不平衡电路转换共模干扰所形成的电压，这种干扰直接叠加在信号上，直接影响测量与控制精度。