产品名称：三相程控功率源 电压监测仪校验台 高质量供应 仪表检定装置

HN8001A三相交直流指示仪表，电测仪表检定装置 三相程控功率源 电压监测仪校验台 高质量供应 仪表检定装置

车高平 13608980122/15689901059可广泛用于检测数字仪表、指示仪表、电能表、互感器、数字测控装置、变送器、交流采样装置、负控终端、用电管理终端、集中器、无功补偿控制器及其他电子产品的各项指标。

可软件校准输出电压、电流、相位和功率，各项输出均采用动态负载自动调整技术,降低了负载调整率

。

如电子设备不满足噪声限制规则，则产品就不能出售和使用。由于上述种种原因，在电源设备中必须要设计使用满足要求的电网噪声滤波器。EMI噪声和滤波器的类型在电源设备输入引线上存在二种EMI噪声：共模噪声和差模噪声，如所示。把在交流输入引线与地之间存在的EMI噪声叫作其共模噪声，它可看作为在交流输入线上传输的电位相等、相位相同的干扰信号，即的电压V1和V2。而把交流输入引线之间存在的EMI噪声叫作差模噪声，它可看作为在交流输入线传输的相位差180°的干扰信号，即中的电压V3。
 技术参数：

整机有效精度 0.05级

交流电压输出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

调节范围：(0～120)%RG RG为量限,下同

调节细度：0.001%RG

准确度：0.05%RG

3.2 交流电流输出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

调节范围:  (0～120)%RG   RG为量限,下同；

调节细度:  0.001%RG

准确度： 0.05%RG

     三相程控功率源 电压监测仪校验台 高质量供应 仪表检定装置半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

主操作界面介绍

开机主视窗（图5）是HN8005B三相交直流标准源的主控平台，通过操作鼠标、键盘、面板按键可选择进入不同的功能视窗。操作键盘上的方向键或用鼠标选择视窗中的各功能按钮，再按回车键或单击鼠标左键可该按钮。以上操作在下文中简称“按下××按钮”。

 

按下〖标准源〗按钮或【1】键，将进入交直流标准源视窗。

按下〖电工试验〗按钮或【2】键，将进入电工试验视窗。

按下〖参数设置〗 按钮或【3】键，将进入系统参数设置视窗。

按下〖系统校准〗按钮或【4】键，在输入正确的后将进入交直流标准源校准视窗。

按下〖电能表检定〗按钮或【6】键，将进入电能表检定视窗。

电容器完成充电之后必须及时拔除电源，以避免它向电源放电。USB中的数据可以导入Excel进行深入。技巧3了解瞬态响应您注意过在启动空调以后屋里的灯光瞬间变暗的情况吗？这是因为空调吸收了大量电流，致使供电电压下降，进而导致了灯光变暗。一小段时间之后，电压还会恢复正常。直流电源上的输出阻抗，也会造成类似的电压瞬变。对电流的需求突然增加时，电源的输出电压就会瞬间下降。同理，电流的下降会导致电源电压突然升高。

交流标准源参数操作

当用鼠标选中〖交直流〗单选按钮的〖交流〗选项时，标准源视窗将处于交流标准源状态。

在交流标准源输出前可以对交流标准源的各项参数（电压、电流、相位、频率等）进行设置；设置完毕，按下〖源输出〗按钮或【F1】键，HN8005B将输出所设定的标准交流信号。

对于参数的设置与修改可以通过多种方式，既可通过视

激光测距传感器在宇宙空间探测领域的应用空间激光测距技术在监测大陆板块运动、地壳形变、地球自转，改进地球重力场和地心引力常数，确定地球和海洋潮汐变化的规律，监测空间碎片等方面具有重要作用。它也是当前高精度卫星精密观测的主要手段之一，是现代观测手段中单点采样精度的一种，是支持地球自转与参考系服务（IERS）的技术手段之一。卫星激光测距技术在如下应用方面已经取得了显著的成就，具有广阔的应用前景。