产品名称：交流变送器校验仪 电压监测仪检定装置 定制定做 多功能交直流仪表校验台

HN8001A三相交直流指示仪表，电测仪表检定装置 交流变送器校验仪 电压监测仪检定装置 定制定做 多功能交直流仪表校验台

车高平 13608980122/15689901059可广泛用于检测数字仪表、指示仪表、电能表、互感器、数字测控装置、变送器、交流采样装置、负控终端、用电管理终端、集中器、无功补偿控制器及其他电子产品的各项指标。

可软件校准输出电压、电流、相位和功率，各项输出均采用动态负载自动调整技术,降低了负载调整率

。

光标测量由于是人为手动测量，所以会引入一定的人为误差。但是相对于噪声大的信号来说，光标测量可以人为的去忽略掉这部分噪声，更能把握波形重点。自动测量，当示波器正确捕获波形后，示波器可以对波形参数进行自动测量。自动测量需要参考点，一般称为Vtop（顶部值）和Vbase（底部值），参考点的测量采用幅度统计方法。示波器的工作过程是对捕获波形进行的幅度，先确定值Max和值Min，然后对电压上的40%和电压下的40%进行，然后进行累积概率统计，出现概率的值为Vtop和Vbase。
 技术参数：

整机有效精度 0.05级

交流电压输出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

调节范围：(0～120)%RG RG为量限,下同

调节细度：0.001%RG

准确度：0.05%RG

3.2 交流电流输出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

调节范围:  (0～120)%RG   RG为量限,下同；

调节细度:  0.001%RG

准确度： 0.05%RG

     交流变送器校验仪 电压监测仪检定装置 定制定做 多功能交直流仪表校验台再检查进样口和检测器的石墨垫圈是否紧固、不漏气。然后检查色谱柱是否有断裂漏气情况。后观察检测器出口是否畅通。检测器出口的畅通是很重要的，有人在工作中会遇到这样的问题：前仪器工作还一切正常，天开机后却无响应峰信号。检查进样口、注射器、垫圈和色谱柱都正常，可就是不出峰，无意中发现进样口柱头压达不到设定值，总是偏高，这时才怀疑是ECD检验器出口不畅通。由于ECD的排放物有一定的放射性，所以ECD出口是引到室外的。

主操作界面介绍

开机主视窗（图5）是HN8005B三相交直流标准源的主控平台，通过操作鼠标、键盘、面板按键可选择进入不同的功能视窗。操作键盘上的方向键或用鼠标选择视窗中的各功能按钮，再按回车键或单击鼠标左键可该按钮。以上操作在下文中简称“按下××按钮”。

 

按下〖标准源〗按钮或【1】键，将进入交直流标准源视窗。

按下〖电工试验〗按钮或【2】键，将进入电工试验视窗。

按下〖参数设置〗 按钮或【3】键，将进入系统参数设置视窗。

按下〖系统校准〗按钮或【4】键，在输入正确的后将进入交直流标准源校准视窗。

按下〖电能表检定〗按钮或【6】键，将进入电能表检定视窗。

IEC61850有什么特点作为基于网络通讯平台的变电站的标准，IEC61850系列标准共10大类、14个标准，它的特点也是十分的鲜明。，它定义了变电站的信息分层结构，将变电站的通信体系分为3个层次，即变电站层、间隔层和过程层，并且定义了层和层之间的通信接口；其次它采用了面向对象的数据建模技术，定义了基于客户机/服务器结构数据模型；并且它对数据进行自描述，定义了采用设备名、逻辑节点名、实例编号和数据类名建立对象名的命名规则；采用面向对象的方法，定义了对象之间的通信服务。

交流标准源参数操作

当用鼠标选中〖交直流〗单选按钮的〖交流〗选项时，标准源视窗将处于交流标准源状态。

在交流标准源输出前可以对交流标准源的各项参数（电压、电流、相位、频率等）进行设置；设置完毕，按下〖源输出〗按钮或【F1】键，HN8005B将输出所设定的标准交流信号。

对于参数的设置与修改可以通过多种方式，既可通过视

半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。