产品名称：多功能电测仪表检定装置 5年保修 交流采样检定装置 单相交流标准源

HN8001A三相交直流指示仪表，电测仪表检定装置 多功能电测仪表检定装置 5年保修 交流采样检定装置 单相交流标准源

车高平 13608980122/15689901059本装置可自动或手动检验电力系统中工频电表（电压表、电流表、功率表、频率表、功率因数表、相位表）、单相交流电能表（选项）、三相交流电能表（选项）以及直流电压、电流表的基本误差。滤波器的储存属性造成了振铃现象，即信号中增加了多余周期。群延时显示了提升滤波器占据的时长。低频凸起具有很长的振铃，这不足为奇。群延时与滤波器频率成反比（与波长成正比），相位偏移相等时，频率越低，群延时越长。为方便演示，我们以所示的信号处理链路为例。我们输入一个测试信号，看看将发生什么。为2通道示波器显示的结果。蓝色轨迹为1000Hz6.5周期的小波。这是DonKeele测试信号中的一个。红色轨迹为此信号通过一个1000Hz提升滤波器之后的结果。
 技术参数：

整机有效精度 0.05级

3．1  交流电压量程 50V，100V，200V，400V，800V    输出容量 20VA；

3．2  交流电流量程 0.5A，1A ，2.5A，5A，10A，20A 输出容量 20VA；

3．3  交流电压、电流调节范围 0∽120% FS（800V量程除外）， 调节细度 5×10^－5；

3．4  工频交流电压、电流、有功功率准确度    0.05% FS；

3．5  无功功率准确度    0.1% FS

3．6  电流对同名相电压的相位准确度 0.05⁰；

     多功能电测仪表检定装置 5年保修 交流采样检定装置 单相交流标准源丈量垂直、水平的距离容易，用直尺、米尺或卷尺都可以；但如果测量表面凹凸不平、上下弯曲的物体呢？现在用智能测量仪，一个巴掌大小的工具，在物体表面轻轻滑动，就可以测试出具体的尺寸，然后保存到智能上。我们还可以对物品拍照，然后对目标的数据进行标注。搬了新家、买了新房子，在畅想一个漂亮小窝之前，是不是应该好好规划一下呢？除了聘请专业的摄影师之外，相信有很多对自己充满信心的朋友，还是更喜欢自己动手来规划设计一番。

 交流源操作

在主菜单中，按“1”键进入“源操作”界面，在“源操作”界面中按“1”则显示如图4。在这里，可根据需要对交流源输出进行设置。图的上半部分（输出检测）显示内置标准所测得的各相电压、电流、功率、功率因数和频率值。下半部分用于设置输出档位，设置各相电压、电流幅值，设置功率因数和相角，设置各次谐波幅值、角度，设置频率。

由P区引出的电极为阳极，由N区引出的电极为阴极，如下图所示，温度对二极管的性能有较大的影响，这是由于半导体材料的特性所致，温度升高时，二极管的正向压降将减小，每增加1oC，正向压降减小约2mV，可以从下图看出，由半导体理论可以得出，PN结所加端电压u与流过它的电流i的关系为：其中，Is为反向饱和电流，对于硅材料来说，Is约为10pA;q为电子的电量，q=1.6*10-9C；k是玻耳茨曼常数，k=1.38*10-23J/K；T为温度，kT/q可以用UT来代替，则常温下，即T=300K时，UT约为26mV。

直流源操作

在主菜单中，按“1”键进入“源操作”界面，在“源操作”界面中按“2”则显示如图7。

在这里，可根据需要对直流源输出进行设置。通过显示器下边和右边的按键根据提示设置直流电压和电流的档位、输出值。

研发者尝试着减少热切换的影响，但是事实上，很多测试由于时间方面的限制，是需要进行热切换的，这样可以防止在测试的过程中系统的重新启动或者是确保可以模拟间歇性的故障。热切换是研发者避免不了的。其实测试系统中很多的故障不是由于继电器的正常寿命已经到了而引起，一些故障是在生产的阶段就无法进行检测而引起的。很多的故障是在测试系统中的一些意外的情况而引起的。一个经常发生的情况是系统的集成而引起的，由于不该连接的地方连接，如与电源之间的短路或者是在电容性的负载上进行热切换，从而引起的布线和软件方面的故障，从而影响到继电器。

 交流指示仪表半自动检测

5.4.1.1  在指示仪表校验子菜单（图10）中按“1”后，显示如图11。图的上半部分显示内置标准所测得的各相电压、电流、功率、功率因数和频率值。下半部分用于输入被检表一次值、二次值、计量单位、额定值、上限值和均匀校验点数等信息。

严格地讲，流量仪表的离线检定结果只能说明其在检定条件下的计量特性，大多数的实际使用现场环境条件、仪表的安装条件和操作条件与检定条件相比有很大不同，这样会给流量仪表带来附加误差，而附加误差大小总是以一定的经验主观判断的，所以离线检定对于流量测量结果要求不高，或者说即使有附加误差也能满足预期的测量要求，不失为一种简单易行的选择。对物性参数影响的修正程度不同几乎所有流量测量仪表的测量结果都受到被测介质有关物性参数的影响，只是影响程度不一样。