产品名称：电测仪表检定装置 5年保修 交直流变送器校验装置 三相程控功率源

HN8001A三相交直流指示仪表，电测仪表检定装置 电测仪表检定装置 5年保修 交直流变送器校验装置 三相程控功率源

车高平 13608980122/15689901059本装置可自动或手动检验电力系统中工频电表（电压表、电流表、功率表、频率表、功率因数表、相位表）、单相交流电能表（选项）、三相交流电能表（选项）以及直流电压、电流表的基本误差。在长期的使用，并不能轻易更换或标定的场合，选择的传感器稳定性要求更严格，要能够经受住考验的延长有一定要求的传感器。其二：选择的灵敏度通常情况下，在该传感器的线性范围内，它是理想的灵敏度越高越好。因为只有灵敏度高，测量相应的输出信号值比较大，有利于信号处理。立的外部噪声将被放大系统放大影响测量精度，高灵敏度的测量。传感器本身应具有较高的信号-噪声比，和从外部信号引入的干扰化。其三：传感器的数量和范围的选择传感器的数量的选择是根据电子秤的身体需要使用支持点的数量（原则上应根据支承点的几何重心和秤体重合的重心的实际中心确定）而定。
 技术参数：

整机有效精度 0.05级

3．1  交流电压量程 50V，100V，200V，400V，800V    输出容量 20VA；

3．2  交流电流量程 0.5A，1A ，2.5A，5A，10A，20A 输出容量 20VA；

3．3  交流电压、电流调节范围 0∽120% FS（800V量程除外）， 调节细度 5×10^－5；

3．4  工频交流电压、电流、有功功率准确度    0.05% FS；

3．5  无功功率准确度    0.1% FS

3．6  电流对同名相电压的相位准确度 0.05⁰；

     电测仪表检定装置 5年保修 交直流变送器校验装置 三相程控功率源ISO17025明确要求校准结果要报告测量（校准）不确定度，校准实验室或测试实验室做所有校准测量时，应该拥有并使用固定的程序来评估测量不确定度。实验室认可委员会CNAS-CL07:2011《测量不确定度的要求》，要求切实执行ISO17025，在校准结果中逐点正确报告校准不确定度。报告不确定度就是要说明在各项校准工作中，实验室的校准能力是否达到要求，保证校准质量。福禄克55XX系列校准器，包括5500A，5502A,5520A,5522A等多产品校准器，在国内已有近两千台，服务于各级计量校准实验室以及研究机构。

 交流源操作

在主菜单中，按“1”键进入“源操作”界面，在“源操作”界面中按“1”则显示如图4。在这里，可根据需要对交流源输出进行设置。图的上半部分（输出检测）显示内置标准所测得的各相电压、电流、功率、功率因数和频率值。下半部分用于设置输出档位，设置各相电压、电流幅值，设置功率因数和相角，设置各次谐波幅值、角度，设置频率。

后说到的频谱仪通常用在射频领域，来观察和被测信号的频域特性，而我们常用其配合近场来扫描电磁干扰的功率峰值以及找到其对应的频点，初步判定辐射源属性。眼看上去这三种仪器用途各不相同，但其实都可以用来测试晶体振荡电路的频率。如果使用示波器或者频率计，配合无源电压点测芯片的时钟输入引脚，就可以测量到频率，如下是各部分的电路结构：其中：CC2是晶体的负载电容，影响到频率、负性阻抗等电路参数RC3是无源电压的电路参数，R3是9Mohm，C3是几个pF不等R是示波器或者频率计输入通道的等效阻抗和电容，R4是1Mohm，是几十pF不等如果使用频谱仪，配合近场靠近晶体封装外壳就可以探测到辐射功率峰值的频率，这个频率也是晶体电路的振荡频率。

直流源操作

在主菜单中，按“1”键进入“源操作”界面，在“源操作”界面中按“2”则显示如图7。

在这里，可根据需要对直流源输出进行设置。通过显示器下边和右边的按键根据提示设置直流电压和电流的档位、输出值。

一般的测定方法有以下几种：红外光度法：试样中的碳、硫经过富氧条件下的高温加热，氧化为化碳、气体。该气体经处理后进入相应的吸收池，对相应的红外辐射进行吸收，由探测器转发为信号，经计算机处理输出结果。此方法具有准确、快速、灵敏度高的特点，高低碳硫含量均使用，采用此方法的红外碳硫仪，自动化程度较高，价格也比较高，适用于精度要求较高的场合。容量法：常用的有测碳为气体容量法和非水滴定法，测硫为碘量法、酸碱滴定法。

 交流指示仪表半自动检测

5.4.1.1  在指示仪表校验子菜单（图10）中按“1”后，显示如图11。图的上半部分显示内置标准所测得的各相电压、电流、功率、功率因数和频率值。下半部分用于输入被检表一次值、二次值、计量单位、额定值、上限值和均匀校验点数等信息。

本文说明了一种通用的集成电路RF噪声测量技术。RF抗干扰能力测试将电路板置于可控制的RF信号电平下，RF电平代表电路工作时可能受到的干扰强度。从而产生了一个标准化、结构化的测试方法，使用这种方法能够得到在质量中可重复的测试结果。这样的测试结果有助于IC选型，从而获得能够抵抗RF噪声的电路。可以将被测器件(DUT)靠近正在工作的蜂窝，以测试其RF敏感度。为了得到一个的、具有可重复性的测试结果，需要采用一种固定的测量方法，在可重复的RF场内测试DUT。