产品名称：多功能电测仪表校验装置 HN系列 三相交流采样变送器校验装置 三相标准功率源

HN8001A三相交直流指示仪表，电测仪表检定装置 多功能电测仪表校验装置 HN系列 三相交流采样变送器校验装置 三相标准功率源

车高平 13608980122/15689901059本装置可自动或手动检验电力系统中工频电表（电压表、电流表、功率表、频率表、功率因数表、相位表）、单相交流电能表（选项）、三相交流电能表（选项）以及直流电压、电流表的基本误差。是德科技拥有丰富的产品系列，而且鼎力支持开放接口和体系结构，能够为客户提供广泛的电子战场景仿真解决方案，从单一测试台测试到场景仿真应有尽有。这款现代化的电子战测试和评估解决方案具有出色的可扩展性，通过重新配置系统，能够实现对射频测试资产的利用。是德科技信息战事业部总经理GregPatschke表示：“是德科技深知，我们的客户需要强大的解决方案以便从容应对日新月异的电子战环境。我们将继续与客户携手合作，开发和交付能够快速适应新环境的解决方案，帮助客户提升实验室的测试水平。
 技术参数：

整机有效精度 0.05级

3．1  交流电压量程 50V，100V，200V，400V，800V    输出容量 20VA；

3．2  交流电流量程 0.5A，1A ，2.5A，5A，10A，20A 输出容量 20VA；

3．3  交流电压、电流调节范围 0∽120% FS（800V量程除外）， 调节细度 5×10^－5；

3．4  工频交流电压、电流、有功功率准确度    0.05% FS；

3．5  无功功率准确度    0.1% FS

3．6  电流对同名相电压的相位准确度 0.05⁰；

     多功能电测仪表校验装置 HN系列 三相交流采样变送器校验装置 三相标准功率源工业现场经常需要同时隔离RS-232与RS-485，通常是用两个隔离DC-DC搭配单的信号隔离电路的方案，但隔离的性能存在差，并且占板面积较大。本文将为你介绍一种稳定可靠、应用简便的全隔离解决方案。通讯管理机的接口电路简述通讯管理机在电力系统中可以采集多个子系统的数据，通过集中处理和回执，完成电力系统中的数据交互。对外通常需要集成多路RS-23RS-48CAN、以太网接口等。通讯管理机应用拓扑通讯管理机对于嵌入式主控CPU的接口资源要求较高，常常需要通过方式来扩展通讯接口;同时电力通讯设备工作环境较为复杂，对于隔离抗干扰性能有刚性需求。

 交流源操作

在主菜单中，按“1”键进入“源操作”界面，在“源操作”界面中按“1”则显示如图4。在这里，可根据需要对交流源输出进行设置。图的上半部分（输出检测）显示内置标准所测得的各相电压、电流、功率、功率因数和频率值。下半部分用于设置输出档位，设置各相电压、电流幅值，设置功率因数和相角，设置各次谐波幅值、角度，设置频率。

智能电磁流量计的变送器结构简单，没有可动部件，也没有任何阻碍流体流动的节流部件，所以当流体通过时不会引起任何附加的压力损失，同时它不会引起诸如磨损，堵塞等问题，特别适用于测量带有固体颗粒的矿浆，污水等液固两相流体，以及粘性较大的浆液等.同样，由于它结构上无运动部件，故可通过附上耐腐蚀绝缘衬里和选择耐腐材料制成电极，起到很好的耐腐蚀性能，使之可用于腐蚀性介质的测量.智能电磁流量计怎么选择，选哪一种，怎么安装，如何正确安装，故障现象如何处理？在选择应用中会有很多问题发生，所以一定要正确对特仪表选型和安装。

直流源操作

在主菜单中，按“1”键进入“源操作”界面，在“源操作”界面中按“2”则显示如图7。

在这里，可根据需要对直流源输出进行设置。通过显示器下边和右边的按键根据提示设置直流电压和电流的档位、输出值。

在该电源接入电网后，会对电网内其他的用电设备产生影响，导致电网内直流电源的输出纹波较高，无法正常测试。即使移除地线的连接，将交直流源各自分开至很远的位置，并通过不同的空开接入后，干扰依旧存在。某电源对电网内直流源输出干扰波形而在相同的测试环境使用APM全天科技可编程交流电源后，直流源输出纯净稳定，无任何影响。APM全天科技可编程交流电源通过严苛的EMC测试等级，符合欧盟电磁兼容指令214/3/EU/EN61326-1:213ClassA以及FCCCFR47第15部分的要求。

 交流指示仪表半自动检测

5.4.1.1  在指示仪表校验子菜单（图10）中按“1”后，显示如图11。图的上半部分显示内置标准所测得的各相电压、电流、功率、功率因数和频率值。下半部分用于输入被检表一次值、二次值、计量单位、额定值、上限值和均匀校验点数等信息。

半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。