产品名称：仪表校验台 价格 交流采样校验仪 交流标准源

HN8001A三相交直流指示仪表，电测仪表检定装置 仪表校验台 价格 交流采样校验仪 交流标准源

车高平 13608980122/15689901059本装置可自动或手动检验电力系统中工频电表（电压表、电流表、功率表、频率表、功率因数表、相位表）、单相交流电能表（选项）、三相交流电能表（选项）以及直流电压、电流表的基本误差。波形本质的图解示波器带宽的内涵奥林匹克的口号是“更快、更高、更强”，在示波器上的“更快”，则是对带宽的要求。示波器中的模拟通道，简化来看就是个低通滤波器。它对频率越高的信号，衰减就越严重。一般会把信号功率衰减了-3dB时的频率，定义为示波器的带宽。当然，目前示波器的模拟技术发展神速，在示波器标定的带宽频率点时，会有一定的裕量，所以在示波器的带宽频率点，幅度的衰减是-3dB以内的。特别说明的是，也是组成测量系统的重要一环，若测试中使用到，则必须考虑对带宽的影响。
 技术参数：

整机有效精度 0.05级

3．1  交流电压量程 50V，100V，200V，400V，800V    输出容量 20VA；

3．2  交流电流量程 0.5A，1A ，2.5A，5A，10A，20A 输出容量 20VA；

3．3  交流电压、电流调节范围 0∽120% FS（800V量程除外）， 调节细度 5×10^－5；

3．4  工频交流电压、电流、有功功率准确度    0.05% FS；

3．5  无功功率准确度    0.1% FS

3．6  电流对同名相电压的相位准确度 0.05⁰；

     仪表校验台 价格 交流采样校验仪 交流标准源就以上的难点，ITECH依托于强大的硬件韧体功能，均已一一突破，并为国内熔断器制造商实验室完成了3A熔断时间的系统方案。熔断时间方案优势使用IT89A/E系列负载自带Measure功能量测熔断时间在熔断器熔断时间测试应用中，熔断时间对应下图中从C点下降到E点的时间（正脉宽时间），且时间量测精度可媲美示波器.量测时间的测定通过上位机软件发送指令，，测试电源电压从1V到8V，电流从1A到5A的上升和下降时间，可以发送如下指令：在熔断器测试方案中，主要应用到IT89A/E系列大功率负载和IT6系列大功率电源。

 交流源操作

在主菜单中，按“1”键进入“源操作”界面，在“源操作”界面中按“1”则显示如图4。在这里，可根据需要对交流源输出进行设置。图的上半部分（输出检测）显示内置标准所测得的各相电压、电流、功率、功率因数和频率值。下半部分用于设置输出档位，设置各相电压、电流幅值，设置功率因数和相角，设置各次谐波幅值、角度，设置频率。

X射线光谱仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品测量的精度，被样品的制样技术成为影响准确度的至关重要的因素，在样品制备方面所花的工夫将会反映在结果的质量上。X射线荧光仪器误差的来源主要有以下几个方面：1.采样误差：非均质材料样品的代表性2.样品的制备：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3.不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型：不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。

直流源操作

在主菜单中，按“1”键进入“源操作”界面，在“源操作”界面中按“2”则显示如图7。

在这里，可根据需要对直流源输出进行设置。通过显示器下边和右边的按键根据提示设置直流电压和电流的档位、输出值。

电动汽车制造商长期以来一直希望有一种更小、更轻、更便宜的方案，以解决电池断开问题。功率半导体方案经常被用作替代接触器，并将生成一种紧凑的固态方案。对半导体电源开关设计提出的挑战也相当大。简单的直接交换每个继电器与适当的电源开关将不可行。由于电动汽车电池系统中的电流可以双向流动，所以电源开关必须能够双向传导和阻挡电流。当车辆处于静止状态(停放车辆)时，电池断态漏电流必须极低，以防止放电和潜在危险情况。

 交流指示仪表半自动检测

5.4.1.1  在指示仪表校验子菜单（图10）中按“1”后，显示如图11。图的上半部分显示内置标准所测得的各相电压、电流、功率、功率因数和频率值。下半部分用于输入被检表一次值、二次值、计量单位、额定值、上限值和均匀校验点数等信息。

和微波暗室的测试目的一样，TEMCELL也是一个模拟理想空间的天线测试环境，金属箱能够提供足够的功能来消除外部干扰对天线的影响，而内部的吸波材料也能吸收入射波，减小反射波。TEMCELL不能对天线进行无源测试，只能对有源指标进行测试。由于空间限制，TEMCELL的吸波材料比较薄，而对于劈状吸波材料，是通过劈尖间的多次反射增加对入射波进行吸收，因此微波暗室里的吸波材料都比较厚，而TEMCELL的吸波材料都不购厚，因此对入射波的吸收都不是很充分，因此会导致测试的结果不。