HN2016智能sf6微水测试仪sf6微量水分测试仪 密度继电器测试仪 sf6冷镜法露点测试仪 30年经验

露点	测量范围	－80 ℃～+20 ℃
	测量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	测量时间 （＋20℃）	<3分钟。
环境温度	－40℃～＋60℃

在玻璃尺或玻璃盘上类似于刻线标尺或度盘那样，进行长刻线（一般为1?12mm）的密集刻划，得到如下图所示的黑白相间间隔细小的条纹，没有刻划的白的地方透光，刻划的发黑处不透光，这就是光栅。栅线放大图实际上，光栅很早就被人们发现了，但应用于技术领域只有一百多年的历史。早期，人们利用光栅的衍射效应进行光谱和光波波长的测定。到了2世纪5年代，人们开始利用光栅的莫尔条纹现象进行精密测量，从而出现了光栅式传感器。1、连接SF₆设备

将测量管道上螺纹端与开关接头连接好，用扳手拧紧，关闭测量管道上另一端的针型阀；

再把测试管道上的快速接头一端插入仪器上的采样口；

将排气管道连接到出气口。

后将开关接头与SF₆电气设备测量接口连接好，用扳手拧紧；

2、检查电量

本仪器优先使用交流电。

使用直流电时，请查看右上角显示的电池电量，如果电量低于约20％，请关机充电后继续使用。

3、开始测量

打开仪测量管道上的针型阀，然后用面板上的流量阀调节流量，把流量调节到0.5L/M左右，开始测量SF₆露点。

设备测量时间需要5～10分钟，其后每台设备需要3～5分钟。

4、存储数据

设备测量完成后，可以将数据保存在仪器中，按“确定”键调出操作菜单，具体操作方式见下节内容。漏电与短路的本质相同，只是事故发展程度不同而已，严重的漏电可能造成短路。对照明线路的漏电，切不可掉以轻心，应经常检查线路的绝缘情况，尤其是发现漏电现象时，应及时查明原因，找出故障点，并予以消除。照明线路漏电的主要原因是：一是导线或电气设备的绝缘受到外力损伤；二是线路经长期运行，导致绝缘老化变质；三是线路受潮气侵袭或被污染，造成绝缘。，判断是否确实漏电。可用指针式万用表的R×10k档测测量路绝缘电阻的大小，或数字万用表置于交流电流档(此时相当于一个电流表)，串联在总开关上，接通开关，取下所有负载(包括灯泡)。

5、测量其他设备

一台设备测量后，关闭测量管道上的针型阀和微水仪上的调节阀。将转接头从SF₆电气设备上取下。如果需要继续测量其他设备，按照上面步骤继续测量下一台设备。

6、测量结束

所有设备测量结束后，关闭仪器电源。

一、 菜单操作

在测量状态，通过确定键可以进入功能菜单，如图1。

1、保存数据

在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“保存记录”菜单，按“确定”键，进入保存数据页面，保存数据时，可以根据设备进行编号。

设备编号多为六位，可以通过“上”、“下”键增加数值大小，“左”、“右”键调整数据位数。

输入编号后，按“确定”键，完成保存数据。按“返回”键可以返回上一页，此时不保存数据。

2、查看记录

在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“查看记录”菜单，按“确定”键，进入查看记录页面。

显示时从后一个被保存的数据开始。

可以按“上”、“下”键翻看数据。CSP(ChipScalePACkage)：芯片级封装，该方式相比BGA同等空间下可以将存储容量提升三倍，是由日本三菱公司提出来的。DIP(DualIn-linePACkage)：双列直插式封装，插装型封装之一，指采用双列直插形式封装的集成电路芯片，体积比较大。MCM(MultiChipModel)：多芯片模块封装，可根据基板材料分为MCM-L，MCM-C和MCM-D三大类。QFP(QuadFlatPackage)：四侧引脚扁平封装，表面贴装型封装之一，引脚通常在100以上，适合高频应用，基材方面有陶瓷、金属和塑料三种。

3、删除记录

在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“删除记录”菜单，按“确定”键，可删除所有数据。

4、修改时间

在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择修改时间，按“确定”键，进入修改时间页面。

通过“上”、“下”键可以增加时间数值，“左”、“右”键可以减小时间数值。

输入小时、分钟、秒后，按“确定”键可以转到下一个修改域内。

 放大器进行通道多路复用时工作异常，原因究竟是什么呢？有些人（尤其是工程师）声称，质疑争辩是否超速的一种方法就是要求提供雷达装置的校验证书。他们认为，如果校验证书过期，司机就不该被罚款。无论这是否真的适合所有人（仪器可能近期已经校准过），避开超速罚单**的方法仍是不要超过限速。但是如果你没有意识到自己速度太快该怎么办呢？这种理由通常都不管用。同样的事情也发生在放大器上。在一些应用中，工程师可能忘记了放大器输入与具有超快速瞬变的设备相连。