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HN2016智能sf6微水测试仪微水测试仪 密度继电器校验仪 sf6冷镜式露点仪 5年保修
露点 |
测量范围 |
-80 ℃~+20 ℃ |
测量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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测量时间 (+20℃) |
<3分钟。 |
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环境温度 |
-40℃~+60℃ |
低于1m?的分流电阻具有并联电感,在电流检测线上会引起尖峰瞬态事件,从而使CSA前端过载。我们来谈谈滤除这些特定的尖峰瞬态事件的主要考虑因素。在某些应用中,被测量的电流可能具有固有噪声。在有噪声信号的情况下,电流检测放大器输出后的滤波通常更简单,特别是当放大器输出连接到高阻抗电路时。放大器输出节点在为滤波器选择组件时提供了的自由度,并且实现起来非常简单,尽管它可能需要后续的缓冲。当分流电阻值减小时,并联电感对频率响应有显著影响。1、连接SF6设备
将测量管道上螺纹端与开关接头连接好,用扳手拧紧,关闭测量管道上另一端的针型阀;
再把测试管道上的快速接头一端插入仪器上的采样口;
将排气管道连接到出气口。
后将开关接头与SF6电气设备测量接口连接好,用扳手拧紧;
2、检查电量
本仪器优先使用交流电。
使用直流电时,请查看右上角显示的电池电量,如果电量低于约20%,请关机充电后继续使用。
3、开始测量
打开仪测量管道上的针型阀,然后用面板上的流量阀调节流量,把流量调节到0.5L/M左右,开始测量SF6露点。
设备测量时间需要5~10分钟,其后每台设备需要3~5分钟。
4、存储数据
设备测量完成后,可以将数据保存在仪器中,按“确定”键调出操作菜单,具体操作方式见下节内容。否则,有可能造成光缆打滚折断纤芯。分纤将光纤穿过热缩管。将不同束管,不同颜色的光纤分开,穿过热缩管。剥去涂覆层的光纤很脆弱,使用热缩管,可以保护光纤熔接头。打开古河S176熔接机电源,采用预置的42种程式进行熔接,并在使用中和使用后及时去除熔接机中的灰尘,特别是夹具,各镜面和V型槽内的粉尘和光纤碎未。CATV使用的光纤有常规型单模光纤和色散位移单模光纤,工作波长也有1310nm和1550nm两种。
5、测量其他设备
一台设备测量后,关闭测量管道上的针型阀和微水仪上的调节阀。将转接头从SF6电气设备上取下。如果需要继续测量其他设备,按照上面步骤继续测量下一台设备。
6、测量结束
所有设备测量结束后,关闭仪器电源。
一、 菜单操作
在测量状态,通过确定键可以进入功能菜单,如图1。
采矿业中,产生的有毒化学物品,一旦出现泄漏是很危险的事,需要借助灵敏的检测工具,有效预防事故的发生。传统的监控系统在及早检测少量泄漏方面显得非常吃力。有鉴于此,加拿大技术专家IntelliView近开发出用于监控地上设施的DCAM?双摄像头解决方案。IntelliView利用FLIRA65热像仪,为金矿开采行业打造了一款根据温度和发射率差异发现表面液体泄漏的先进解决方案。液体泄漏检测“借助标准的泄漏检测技术,如压力传感器或大量计算,很难在早期就检测到少量泄漏,这主要是泄漏规模较小的缘故。
1、保存数据
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“保存记录”菜单,按“确定”键,进入保存数据页面,保存数据时,可以根据设备进行编号。
设备编号多为六位,可以通过“上”、“下”键增加数值大小,“左”、“右”键调整数据位数。
输入编号后,按“确定”键,完成保存数据。按“返回”键可以返回上一页,此时不保存数据。
2、查看记录
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“查看记录”菜单,按“确定”键,进入查看记录页面。
显示时从后一个被保存的数据开始。
可以按“上”、“下”键翻看数据。但是由于测量现场的环境和使用条件与制造商校验的环境并不一致,有的甚至相差很大,导致许多生产商所标注的免维护的优点并不能完全地得到体现,检测的需求也随之增加。这里和大家分享下在现场使用磁翻板液位计有哪些校准方法。现场校准的实际意义按照检定规程的描述,2m以下液位计需通过标准水箱装置进行检定,超过2m的还需用模拟法进行检定。受大量程磁翻板液位计本身尺寸的限制,磁翻板液位计超过2m的液位计在实验室的安装存在问题,而规程对模拟检定方法又未作具体说明。
3、删除记录
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“删除记录”菜单,按“确定”键,可删除所有数据。
4、修改时间
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择修改时间,按“确定”键,进入修改时间页面。
通过“上”、“下”键可以增加时间数值,“左”、“右”键可以减小时间数值。
输入小时、分钟、秒后,按“确定”键可以转到下一个修改域内。
微型化传感器的微型化值在功能不变甚至增强的条件下,大幅度减小传感器的体积。微型化是现代精密测量与控制的要求,原则上将,传感器的尺寸越小对被测对象及环境的影响越小,对能量的消耗越少,越易实现测量。成化传感器的集成化指下面两个方向的集成:多测量参数的集成,即可测量多种参数。传感去与后续电路的集成,即将敏感元件、转换元件、转换电路乃至电源等集成在同一块芯片上,使其具有很高的性能。