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HN2016智能sf6微水测试仪sf6微量水分测试仪 密度继电器测试仪 sf6检漏仪 30年经验
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露点 |
测量范围 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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测量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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测量时间 （＋20℃） |
<3分钟。 |
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环境温度 |
－40℃～＋60℃ |
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如果电源模块的外围电路设计使用不当，非但不能发挥模块的优势，还可能降低系统可靠性，本次我们就来谈谈一些电源模块外围电路设计核心要点。两级浪涌防护电路，使用不当适得其反电源模块体积小，在EMC要求比较高的场合，需要增加额外的浪涌防护电路，以提升系统EMC性能。如所示，为提高输入级的浪涌防护能力，在外围增加了压敏电阻和TVS管。但图中的电路、原目的是想实现两级防护，但可能适得其反。如果中MOV2的压敏电压和通流能力比MOV1低，在强干扰场合，MOV2可能无法承受浪涌冲击而提前损坏，导致整个系统。
1、连接SF6设备
将测量管道上螺纹端与开关接头连接好，用扳手拧紧，关闭测量管道上另一端的针型阀；
再把测试管道上的快速接头一端插入仪器上的采样口；
将排气管道连接到出气口。
后将开关接头与SF6电气设备测量接口连接好，用扳手拧紧；
2、检查电量
本仪器优先使用交流电。
使用直流电时，请查看右上角显示的电池电量，如果电量低于约20％，请关机充电后继续使用。
3、开始测量
打开仪测量管道上的针型阀，然后用面板上的流量阀调节流量，把流量调节到0.5L/M左右，开始测量SF6露点。
设备测量时间需要5～10分钟，其后每台设备需要3～5分钟。
4、存储数据
设备测量完成后，可以将数据保存在仪器中，按“确定”键调出操作菜单，具体操作方式见下节内容。工频电磁场波形由于是测量电路存在周期性波动，那工频电磁场扰动的可能性更大，用示波器观测工频电磁场波形如，一般认为50Hz工频电磁场干扰是由两方面原因产生：-50Hz工频干扰通过传导进入系统；-50Hz工频干扰通过空间耦合进入系统。针对上述问题，消除50Hz工频电磁场干扰的方法也相对明确，有下述四种方案可供电路设计者去参考：利用电气隔离，阻断工频干扰的传导路径；-敏感电路处搭建共模和滤波电路，滤除进入输入通道的工频扰动；-软件中构建IIR陷波或者FIR带阻数字滤波器，消除工频干扰对测量结果的影响；-降低测量引线回路面积，增加，减弱空间耦合效应。
5、测量其他设备
一台设备测量后，关闭测量管道上的针型阀和微水仪上的调节阀。将转接头从SF6电气设备上取下。如果需要继续测量其他设备，按照上面步骤继续测量下一台设备。
6、测量结束
所有设备测量结束后，关闭仪器电源。
一、 菜单操作
在测量状态，通过确定键可以进入功能菜单，如图1。
示波器是常用的测量仪器，具有强大的数据采集与能力，还可以将采集到的波形导出，放到电脑上进行。这个功能与波形记录仪十分相似，那么我们能不能将示波器用出波形记录仪的效果呢？传统波形记录仪能长时间的采集信号，并将数据保存到设备的硬盘中，采集的时间长度取决于采样率以及硬盘容量，其缺点是不具备实时功能，而这正好是示波器的强项，示波器能在长时间采集的同时对波形进行。示波器没有配备大容量硬盘，要将示波器用出记录仪的效果，需要把存储深度发挥出。
1、保存数据
在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“保存记录”菜单，按“确定”键，进入保存数据页面，保存数据时，可以根据设备进行编号。
设备编号多为六位，可以通过“上”、“下”键增加数值大小，“左”、“右”键调整数据位数。
输入编号后，按“确定”键，完成保存数据。按“返回”键可以返回上一页，此时不保存数据。
2、查看记录
在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“查看记录”菜单，按“确定”键，进入查看记录页面。
显示时从后一个被保存的数据开始。
可以按“上”、“下”键翻看数据。ZLG致远电子ZDL6000示波记录仪提供了20G存储深度，可持续采集20余天的数据，解决用户数据监测问题。基于“实时运算+触发+搜索”功能，用户可捕获突发异常。配合“动作/Go-NoGo”功能，在异常出现时，用户可时间通过警报、邮件等方式获得通知，设备可自动以图片或数据文件方式保存异常现场，的提升问题与解决效率。除此之外ZDL6000示波记录仪延续了ZDS系列示波器的用户体验，在满足大数据记录与异常需求的同时，保证了灵活的示波功能，可谓是同时将示波与大数据记录做到了完用户体验。
3、删除记录
在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“删除记录”菜单，按“确定”键，可删除所有数据。
4、修改时间
在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择修改时间，按“确定”键，进入修改时间页面。
通过“上”、“下”键可以增加时间数值，“左”、“右”键可以减小时间数值。
输入小时、分钟、秒后，按“确定”键可以转到下一个修改域内。
天下武功，唯快不破。在保证**的基础上尽可能提高测试效率也是T/R组件测试领域不变的追求和目标。当然，提高测试效率的方法有很多，提高测试仪器仪表的性能（提高扫描速度和增加测试功能等）、简化连接和校准过程以及优化测试程序和工艺等。还有没有其它办法呢？那就是并行测试，这也是当今自动测试技术领域发展的重要趋势和方向之一。所谓并行测试就是充分利用测试仪器和测试通道等资源，按照一定的调度规划同时执行多个测试任务，从而提高测试效率。