产品详情
  • 产品名称:冷镜式露点仪 SF6综合测试仪 sf6冷镜法露点测试仪 高质量

  • 产品型号:HNDL
  • 产品厂商:华能
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简单介绍:
适用于JP柜,配电箱温升试验,电力系统技术人员检验电流互感器保护装置及二次回路电流试验。也可用于开关,电缆、直流电流传感器和其它电器设备作电流负载试验及温升试验。冷镜式露点仪 SF6综合测试仪 sf6冷镜法露点测试仪 高质量
详情介绍:

HN2016智能sf6微水测试仪冷镜式露点仪 SF6综合测试仪 sf6冷镜法露点测试仪 高质量
冷镜式露点仪 SF6综合测试仪 sf6冷镜法露点测试仪 高质量

露点

测量范围

80 ℃~+20

测量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

测量时间

(+20℃)

<3分钟。

环境温度

  40℃~+60

可在恶劣天气下使用。坚固耐用、全天候应用。设计紧凑、易于使用。选择32×24或64×48热分辨率;选择的分辨率越高,图像细节和距离性能更优。mm到1mm的可更换镜头。红外夜视仪让您能够在漆黑的环境下看清物体。高达2倍,4倍的电子变焦让您能够获得更多细节信息。捕获静态图像和。电子变焦4倍电子变焦产品图例可切换镜头应用领域人员和搜救组织难以组织难以在漆黑环境中或恶劣天气下寻找失踪人员。冷镜式露点仪 SF6综合测试仪 sf6冷镜法露点测试仪 高质量1、连接SF6设备

将测量管道上螺纹端与开关接头连接好,用扳手拧紧,关闭测量管道上另一端的针型阀;

再把测试管道上的快速接头一端插入仪器上的采样口;

将排气管道连接到出气口。

后将开关接头与SF6电气设备测量接口连接好,用扳手拧紧;

2、检查电量

本仪器优先使用交流电。

使用直流电时,请查看右上角显示的电池电量,如果电量低于约20%,请关机充电后继续使用。

3、开始测量

打开仪测量管道上的针型阀,然后用面板上的流量阀调节流量,把流量调节到0.5L/M左右,开始测量SF6露点。

设备测量时间需要510分钟,其后每台设备需要35分钟。

4、存储数据

设备测量完成后,可以将数据保存在仪器中,按“确定”键调出操作菜单,具体操作方式见下节内容。Sirault博士解释说:“在APPF的CSIRO分支机构进行的研究中广泛使用了红外技术。这项技术已被用于研究作物中的气孔反应以及根据气孔行为差异对植物表型进行鉴定,如用于盐分或耐旱性和/或水分利用效率性状的基因研究,”“这项技术通常作为由合作研究基础设施提供的正在进行的服务的一部分,根据冠层温度变化(代替蒸腾速率),每年在繁殖种群中筛选数万种基因型。”冠层温度是植物通过气孔对环境条件的反应来管理其水分利用的有力指标。冷镜式露点仪 SF6综合测试仪 sf6冷镜法露点测试仪 高质量

5、测量其他设备

一台设备测量后,关闭测量管道上的针型阀和微水仪上的调节阀。将转接头从SF6电气设备上取下。如果需要继续测量其他设备,按照上面步骤继续测量下一台设备。

6、测量结束

所有设备测量结束后,关闭仪器电源。

 

一、 菜单操作

在测量状态,通过确定键可以进入功能菜单,如图1

根据该合同提供的装置将通过美国的士兵随身传感器(SBS)项目批订单,提升分队的监视和侦察能力。FLIRSystems总裁兼执行官JamesCannon表示:“美国选择FLIR在此次推出士兵随身传感器项目的早期阶段提供黑黄蜂PRS,是赋予每支美国分队的士兵在现代战场上关键性优势的一次重要机会。这份合同不仅证明FLIR的纳米无人机技术有着强劲需求,而且还为其在各军种的广泛部署开辟了道路。冷镜式露点仪 SF6综合测试仪 sf6冷镜法露点测试仪 高质量

1、保存数据

在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“保存记录”菜单,按“确定”键,进入保存数据页面,保存数据时,可以根据设备进行编号。

设备编号多为六位,可以通过“上”、“下”键增加数值大小,“左”、“右”键调整数据位数。

输入编号后,按“确定”键,完成保存数据。按“返回”键可以返回上一页,此时不保存数据。

2、查看记录

在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“查看记录”菜单,按“确定”键,进入查看记录页面。

显示时从后一个被保存的数据开始。

可以按“上”、“下”键翻看数据。建筑工程、土木研究中,测量仪器为各项建筑工作提供数据,担负着重要使命。随着科技的发展,测量仪器种类渐多,功能也更加。选购测量仪器,要了解测量仪器有哪些,根据所需选购合适的测量仪器,然后熟练掌测量仪器的使用方法。电子测量仪的种类很多,包括多用电表、示波器、信号发生器、全站仪等。二次元测量仪又称影像仪、影像测量仪、二维影像测量仪等,包括手动影响仪和自动影像测量仪。三坐标测量仪根据操作方式分类,有手动、马达驱动和CNC等三种型式。冷镜式露点仪 SF6综合测试仪 sf6冷镜法露点测试仪 高质量

3、删除记录

在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“删除记录”菜单,按“确定”键,可删除所有数据。

4、修改时间

在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择修改时间,按“确定”键,进入修改时间页面。

通过“上”、“下”键可以增加时间数值,“左”、“右”键可以减小时间数值。

输入小时、分钟、秒后,按“确定”键可以转到下一个修改域内。

 可靠性是对产品耐久力的测量,我们主要典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线来表示。集成电路的失效原因大致分为三个阶段:阶段被称为早期失效期,这个阶段产品的失效率快速下降,造成失效的原因在于IC设计和生产过程中的缺陷;阶段被称为偶然失效期,这个阶段产品的失效率保持稳定,失效的原因往往是随机的,比如温度变化等等;阶段被称为损耗失效期,这个阶段产品的失效率会快速升高,失效的原因就是产品的长期使用所造成的老化等。冷镜式露点仪 SF6综合测试仪 sf6冷镜法露点测试仪 高质量


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