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HN2016智能sf6微水测试仪微水测试仪 密度继电器测试仪 sf6冷镜法露点仪 30年经验
露点 |
测量范围 |
-80 ℃~+20 ℃ |
测量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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测量时间 (+20℃) |
<3分钟。 |
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环境温度 |
-40℃~+60℃ |
不同于使用已知的带电电压源,利用PRV24检验测试仪时,无需穿戴个人防护用品(PPE)。与在可能存在危险的电气环境下用高能量源来检验测试仪器相比,使用PRV24降低了和电弧的风险,因为PRV24提供符合**标准要求的小电流受控电压。口袋大小的PRV24可输出24V交流和直流稳态电压,用于测试高阻抗和低阻抗万用表、电流钳表和双极测试仪,无需使用多个检验工具和已知的高能量电压源来检验测试仪器。1、连接SF6设备
将测量管道上螺纹端与开关接头连接好,用扳手拧紧,关闭测量管道上另一端的针型阀;
再把测试管道上的快速接头一端插入仪器上的采样口;
将排气管道连接到出气口。
后将开关接头与SF6电气设备测量接口连接好,用扳手拧紧;
2、检查电量
本仪器优先使用交流电。
使用直流电时,请查看右上角显示的电池电量,如果电量低于约20%,请关机充电后继续使用。
3、开始测量
打开仪测量管道上的针型阀,然后用面板上的流量阀调节流量,把流量调节到0.5L/M左右,开始测量SF6露点。
设备测量时间需要5~10分钟,其后每台设备需要3~5分钟。
4、存储数据
设备测量完成后,可以将数据保存在仪器中,按“确定”键调出操作菜单,具体操作方式见下节内容。此模式继承了普通模式的所有优点,且改善了水平时基较大时,波形输出太慢的缺点,故被称为大时基模式。小提示:当时基较小,边采样边输出是没有意义的,因为人眼跟不上刷新的速度,所以普通模式和大时基模式一般会根据水平时基自动切换。如ZDS2000系列示波器在水平时基大于等于100ms/div时,会自动进入大时基模式如.2所示。.2为了更好展示地边采样边输出,大时基模式还提供了与上一帧数据对比刷新,让您更好地观察输入信号的变化如.3所示。
5、测量其他设备
一台设备测量后,关闭测量管道上的针型阀和微水仪上的调节阀。将转接头从SF6电气设备上取下。如果需要继续测量其他设备,按照上面步骤继续测量下一台设备。
6、测量结束
所有设备测量结束后,关闭仪器电源。
一、 菜单操作
在测量状态,通过确定键可以进入功能菜单,如图1。
同时也具有更高的**性和可靠性,尤其是EMC特性的传导扰、辐射扰和ESD静电放电等性能上也更好一些,且在系统中可轻松完成输出接线,而不与主接地发生冲突。仪器仪表如何实现电源隔离目前业界电源隔离方案主要有两种:一种是使用变压器磁隔离+光耦光电隔离组合实现初级侧与次级侧之间的电气隔离。这种方式,电路简单成熟普遍,较容易实现,能实现高输出电压精度、线性调整率和负载调整率性能,满足目前电子产品的高性能要求。
1、保存数据
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“保存记录”菜单,按“确定”键,进入保存数据页面,保存数据时,可以根据设备进行编号。
设备编号多为六位,可以通过“上”、“下”键增加数值大小,“左”、“右”键调整数据位数。
输入编号后,按“确定”键,完成保存数据。按“返回”键可以返回上一页,此时不保存数据。
2、查看记录
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“查看记录”菜单,按“确定”键,进入查看记录页面。
显示时从后一个被保存的数据开始。
可以按“上”、“下”键翻看数据。在所有的电子量测仪器当中,示波器算是被运用广泛的仪器之一,可以说身为电子工程师都应该知道如何使用它。不过,示波器的使用,还是有一些小技巧的。本文列举了4点小技巧,来看看你是不是都已经知道了呢?1.校准和补偿示波器使用前一定要进行校准和补偿。校准主要是为了使当前的测量值处于化的,不受外界温度环境等的影响。校准的方法是调用示波器里面自行加载的校准文件进行校准,基本上就是按下校准键就可以了。补偿是为了使输入示波器的信号,不会因为阻抗不匹配而发生信号完整性问题。
3、删除记录
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“删除记录”菜单,按“确定”键,可删除所有数据。
4、修改时间
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择修改时间,按“确定”键,进入修改时间页面。
通过“上”、“下”键可以增加时间数值,“左”、“右”键可以减小时间数值。
输入小时、分钟、秒后,按“确定”键可以转到下一个修改域内。
灯具分布光度计是一种大型的精密光学测试设备,是灯具分布光度测量中必备的重要设备。传统的分布光度计主要为机械式结构,通过机械控制旋转测量整个三维空问的灯具光强分布。目前在发展中的这类传统分布光度计主要有旋转反光镜式分布光度计。运动反光镜式分布光度计和旋转灯具式分布光度计等几种结构形式℃IEl27一1997对LED的光学和电学测试进行了要求,也是采用传统光度测量方法进行LED测试的依据。近年来,随着CCD成像技术的发展与成熟,同时由于其可视化效果好,简易方便,人们开始逐渐寻求采用成像技术来进行光度测量,目前已有可用于基于成像技术的亮度计,辅助传统类型的亮度计。