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HN2016智能sf6微水测试仪微水测试仪 SF6分解物测试仪 sf6气体定量检漏仪 30年经验
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露点 |
测量范围 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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测量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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测量时间 （＋20℃） |
<3分钟。 |
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环境温度 |
－40℃～＋60℃ |
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传感器是将一种物理量经过电路转换成一种能以另外一种直观的可表达的物理量的描述。本文对传感器的概念、原理及特性进行逐一介绍，进而解析传感器设计的要点。传感器的概念传感器是一种检测装置，能感受到被测量的信息，并能将感受到的信息，按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出，以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求。它是实现自动检测和自动控制的要环节。传感器的工作原理传感器工作原理的分类物理传感器应用的是物理效应，诸如压电效应，磁致伸缩现象，离化、极化、热电、光电、磁电等效应。
1、连接SF6设备
将测量管道上螺纹端与开关接头连接好，用扳手拧紧，关闭测量管道上另一端的针型阀；
再把测试管道上的快速接头一端插入仪器上的采样口；
将排气管道连接到出气口。
后将开关接头与SF6电气设备测量接口连接好，用扳手拧紧；
2、检查电量
本仪器优先使用交流电。
使用直流电时，请查看右上角显示的电池电量，如果电量低于约20％，请关机充电后继续使用。
3、开始测量
打开仪测量管道上的针型阀，然后用面板上的流量阀调节流量，把流量调节到0.5L/M左右，开始测量SF6露点。
设备测量时间需要5～10分钟，其后每台设备需要3～5分钟。
4、存储数据
设备测量完成后，可以将数据保存在仪器中，按“确定”键调出操作菜单，具体操作方式见下节内容。如果发现校准漂移，必须立即重新校准阀门器。实现以上目的比较好的工具是能够测试和重新校准电子阀门的手持式工具，Fluke789ProcessMeter过程万用表。该工具提供信号输出，激励连接到阀门器输入的控制器，可递增连续调节输出电流，所以能够检查阀门的线性度和响应时间。以下是利用789ProcessMeter过程万用表检查常闭阀门的基本步骤：1.将ProcessMeter过程万用表设置为输出模式，采用适合器的相应电流范围。将输出电流测试线插入到mA输出插孔。将旋转功能开关从关闭位置(OFF)移动至上面的个mA输出位置，选择4~2mA范围。将过程万用表连接至阀门器的输入端子。为了确定器在4mA时是否完全关闭阀门，利用按键将输出电流调节到4.mA。阀门应关闭。同时观察阀门是否移动，按粗调(Coarse)下箭头按钮一次，将电流降低至3.9mA。阀门应无任何运动。在设定阀门开始打开的位置点时，确保执行器上没有反向压力(控制器输入为4.mA时，该压力使阀门保持闭合)。
5、测量其他设备
一台设备测量后，关闭测量管道上的针型阀和微水仪上的调节阀。将转接头从SF6电气设备上取下。如果需要继续测量其他设备，按照上面步骤继续测量下一台设备。
6、测量结束
所有设备测量结束后，关闭仪器电源。
一、 菜单操作
在测量状态，通过确定键可以进入功能菜单，如图1。
总线越长、经过的环境越复杂越容易出现通信问题。外部环境中复杂多变的电磁场会间接抬高总线的电势，静电、浪涌、短路等会直接作用到通信线上。以上情况的出现，轻则导致损坏，重则造成主板故障。与总线连接前加入隔离是十分必要的。如何隔离?隔离的方法及原理与I/O隔离相似，不同的是通信隔离需要考虑到隔离器件对通信信号的影响，不当的隔离往往导致通信中断或通信不畅。对来说，隔离可以从两方面入手，通信隔离和供电隔离。
1、保存数据
在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“保存记录”菜单，按“确定”键，进入保存数据页面，保存数据时，可以根据设备进行编号。
设备编号多为六位，可以通过“上”、“下”键增加数值大小，“左”、“右”键调整数据位数。
输入编号后，按“确定”键，完成保存数据。按“返回”键可以返回上一页，此时不保存数据。
2、查看记录
在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“查看记录”菜单，按“确定”键，进入查看记录页面。
显示时从后一个被保存的数据开始。
可以按“上”、“下”键翻看数据。激光测距传感器在宇宙空间探测领域的应用空间激光测距技术在监测大陆板块运动、地壳形变、地球自转，改进地球重力场和地心引力常数，确定地球和海洋潮汐变化的规律，监测空间碎片等方面具有重要作用。它也是当前高精度卫星精密观测的主要手段之一，是现代观测手段中单点采样精度的一种，是支持地球自转与参考系服务（IERS）的技术手段之一。卫星激光测距技术在如下应用方面已经取得了显著的成就，具有广阔的应用前景。
3、删除记录
在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“删除记录”菜单，按“确定”键，可删除所有数据。
4、修改时间
在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择修改时间，按“确定”键，进入修改时间页面。
通过“上”、“下”键可以增加时间数值，“左”、“右”键可以减小时间数值。
输入小时、分钟、秒后，按“确定”键可以转到下一个修改域内。
根据上图显示，固晶层缺陷会造成的热阻增大，影响散热性能，具体的影响程度与缺陷的大小有关。测量结壳热阻：这两次测试的分别：次测量，器件直接接触到基板热沉上；次测量，器件和基板热沉中间夹着导热双面胶。由于两次散热路径的改变仅仅发生在器件封装壳之外，因此结构函数上两次测量的分界处就代表了器件的壳。如下图所示的曲线变化，可得出器件的热阻。结构无损检测：同批次产品，取固晶层完好、边缘缺陷以及中间缺陷的样品测试。