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HN2016智能sf6微水测试仪冷镜法露点仪 密度继电器测试仪 sf6冷镜式露点仪 30年经验
露点 |
测量范围 |
-80 ℃~+20 ℃ |
测量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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测量时间 (+20℃) |
<3分钟。 |
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环境温度 |
-40℃~+60℃ |
4151调制域仪具有的时间间隔测量功能及应用演示如下:正时间间隔测量。4151调制域仪提供的正时间间隔测量功能,既可以实现单通道的连续周期测试,也可以实现双通道之间的相对时间间隔测试,双通道时间间隔测量需设置相对关系,AB或BA的正时间间隔测量。4151调制域仪正时间间隔的测量范围为4ns~8s,时间测量分辨率为5ps。正时间间隔测量演示上图是用Tek公司的任意波形发生模拟了雷达发射与接收脉冲信号的正时间间隔测试结果,B通道输入脉冲信号的周期为1us,相对延迟时间为ns。1、连接SF6设备
将测量管道上螺纹端与开关接头连接好,用扳手拧紧,关闭测量管道上另一端的针型阀;
再把测试管道上的快速接头一端插入仪器上的采样口;
将排气管道连接到出气口。
后将开关接头与SF6电气设备测量接口连接好,用扳手拧紧;
2、检查电量
本仪器优先使用交流电。
使用直流电时,请查看右上角显示的电池电量,如果电量低于约20%,请关机充电后继续使用。
3、开始测量
打开仪测量管道上的针型阀,然后用面板上的流量阀调节流量,把流量调节到0.5L/M左右,开始测量SF6露点。
设备测量时间需要5~10分钟,其后每台设备需要3~5分钟。
4、存储数据
设备测量完成后,可以将数据保存在仪器中,按“确定”键调出操作菜单,具体操作方式见下节内容。但是本身的仪器原理也包含了终将会被时代抛弃的硬伤。大抵有以下几条:带宽有限:这是致命硬伤。前面已经提到,模拟示波器的输入信号是放大后直接控制CRT显示屏的电子枪偏转。虽然放大器的带宽可以越来预高,但是CRT电子枪的偏转速度是有限的,对于高频信号,电子枪的速度跟不上信号变化。当前模拟示波器带宽真的很难做上去。无法存储和:很多老工程师非常清楚,用模拟示波器保存波形是要拿相机拍照的,如果要测幅度、周期、上升时间,只能手动去搞。
5、测量其他设备
一台设备测量后,关闭测量管道上的针型阀和微水仪上的调节阀。将转接头从SF6电气设备上取下。如果需要继续测量其他设备,按照上面步骤继续测量下一台设备。
6、测量结束
所有设备测量结束后,关闭仪器电源。
一、 菜单操作
在测量状态,通过确定键可以进入功能菜单,如图1。
RaytekMMMT测温仪巧妙避免火焰测温过程中可能会产生的测量偏差,限度节省成本并提高生产效率。(金属退火与淬火应用)结构钢和金属形状被制造出来以后,金属的特定部分需要进行退火或回火处理。,工字钢的两端必须经过退火处理以防止在施工现场一个工字钢与另一个连接时发生损坏。另一个例子是摩托车的启动踏板,启动踏板的中心位置需要经过回火处理,以承受当有人试图启动摩托车时产生的过矩。
1、保存数据
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“保存记录”菜单,按“确定”键,进入保存数据页面,保存数据时,可以根据设备进行编号。
设备编号多为六位,可以通过“上”、“下”键增加数值大小,“左”、“右”键调整数据位数。
输入编号后,按“确定”键,完成保存数据。按“返回”键可以返回上一页,此时不保存数据。
2、查看记录
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“查看记录”菜单,按“确定”键,进入查看记录页面。
显示时从后一个被保存的数据开始。
可以按“上”、“下”键翻看数据。日常我们经常用的方法有光谱测温技术、全息干涉测温技术、基于CCD的三基色测温技术、以及如下所示的红外辐射测温技术:.非接触式红外热成像仪接触式测量法接触式测温仪温度一般有热电偶和热电阻两种:热电偶的工作原理是基于塞贝克(seeback效应),两种不同成分的导体两端连接成回路,如两连接端温度不同,则在回路内产生热电流的物理现象,利用此现象来测量温度。热电阻的测量原理是根据温度变化时本身电阻也变化的特性来测量温度。
3、删除记录
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“删除记录”菜单,按“确定”键,可删除所有数据。
4、修改时间
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择修改时间,按“确定”键,进入修改时间页面。
通过“上”、“下”键可以增加时间数值,“左”、“右”键可以减小时间数值。
输入小时、分钟、秒后,按“确定”键可以转到下一个修改域内。
我们可以想象一台具有实验室仪器的性能的、由电池供电的手持式光谱仪。届时,很多目前无法支持的应用都能够被实现。传统光谱方法大多数色散红外(IR)光谱测量在开始时都采用同样的测量方式。将被的光穿过一个小狭缝,它与控制仪器分辨率的光栅组合在一起。这个衍射光栅是一个专门设计用于以已知角度反射不同波长光的元件。这些波长的空间分离使得其它系统能够以波长为基础测量光强度。光谱测量的传统架构的主要差别在于色散光的测量方式。