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HNDL800 JP柜 配电箱温升试验系统 配电箱温升试验装置HNDL 大电流试验装置 容量大 5年保修
联系人车高平13608980122/15689901059用于箱变,配电箱额定电流温升试验。温升试验装置技术性能需满足根据GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等试验标准对开关柜进行试验的要求。推理机只负责诊断推理,测试则由测试系统完成。与传统的诊断和测试融合在一起不同,诊断模块(IEEE1232推理机)在不同测试系统间是可互换的。在故障树时,依照IEEE1232标准生成可交换的诊断信息文件,诊断知识将在不同测试系统间共享。通过严格按标准实施推理机的通信接口,就可以实现诊断模块的移植,达到测试与诊断的分离。参考IEEE1232标准,TestCenter开发了故障诊断子系统,如所示,TestCenter故障诊断由三部分组成:诊断模型制作器、诊断推理机和诊断程序。
1.2 技术参数要求
恒流输出电流:AC范围 0到额定电流,连续可调, 且该输出电流为真有效值(指负载被试开关柜及相关标准规定的试验附件, 可输出的电流有效值, 电流稳定输出时间应满足工作时间要求)
输出波形:标准正弦波
输出频率: 50Hz (+5%, -2%)
输出电压:0-6V,且连续可调
工作时间:大电流输出不少于24小时
输出相数:三相 多路
可控硅检测方案电控系统长时间运行后,电发动机会出现跳闸等故障。基于此,对可控硅性能好坏进行检测,对于系统的日常维护、保证正常运转具有十分重要的意义。通常对电气设备的检测设备及方法有万用表、漏电仪、摇表,另外,还可以利用示波器观测导通电流以判断可控硅导通情况。在实际生产中,仅采用万用表无法判断可控硅的故障。下面对几种检测方法进行对比,以得出可控硅检测的方法。漏电仪检测法(耐压试验)采用大电流发生器(简称升流器)对可控硅K两极之间进行漏电试验。
1.3 恒流源配置列表:(按照客户具体需求配置)
序号 |
名称 |
数量 |
1 |
3回路三相0-100A电流调节器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A电流调节器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A电流调节器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A电流调节器 |
1 |
