产品名称：JP柜温升试验装置HNDL 三相大电流发生器 容量大 30年经验

HNDL800 JP柜 配电箱温升试验系统 JP柜温升试验装置HNDL 三相大电流发生器 容量大 30年经验 

联系人车高平13608980122/15689901059用于箱变,配电箱额定电流温升试验。温升试验装置技术性能需满足根据GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等试验标准对开关柜进行试验的要求。CSP(ChipScalePACkage)：芯片级封装，该方式相比BGA同等空间下可以将存储容量提升三倍，是由日本三菱公司提出来的。DIP(DualIn-linePACkage)：双列直插式封装，插装型封装之一，指采用双列直插形式封装的集成电路芯片，体积比较大。MCM(MultiChipModel)：多芯片模块封装，可根据基板材料分为MCM-L，MCM-C和MCM-D三大类。QFP(QuadFlatPackage)：四侧引脚扁平封装，表面贴装型封装之一，引脚通常在100以上，适合高频应用，基材方面有陶瓷、金属和塑料三种。

1.2 技术参数要求

恒流输出电流：AC范围 0到额定电流，连续可调， 且该输出电流为真有效值（指负载被试开关柜及相关标准规定的试验附件， 可输出的电流有效值， 电流稳定输出时间应满足工作时间要求）

输出波形：标准正弦波

输出频率： 50Hz （+5%， -2%）

输出电压：0-6V，且连续可调

工作时间：大电流输出不少于24小时

输出相数：三相  多路

磁耦器件可提供5000Vrms/min及6000V/10sec的电压隔离保护，多种型号的磁耦带有±15KV的ESD保护。长寿命。采用芯片级变压器技术传输信号，消除光耦传输时的器件损耗。器件内部基本不存在损耗，正常工作条件下至少达到50年工作寿命。低功耗。磁耦基于芯片级变压器传输原理，信号传输时几乎不存在能量损耗，因此能以极低的功耗实现高度的数据隔离。相同速率下，其功耗仅为光耦的1/10~1/6。电源隔离信号通道做隔离后，建议电源通道也做隔离，可直接采用带隔离的DC-DC隔离模块实现，如下图所示。

1.3 恒流源配置列表：（按照客户具体需求配置）

JP柜温升试验装置HNDL 三相大电流发生器 容量大 30年经验征能ES31多功能四线接地电阻测试仪具有：4线法接地电阻、土壤电阻率、接地电压测量。USB接口，数据上传功能，报警功能，数据存储3组，接地电阻量程：.Ω～3.KΩ，土壤电阻率量程：.ΩM～9999KΩM电压量程：～1V、测试频率：128Hz等。以下是测量变压器接地电阻的一个实例。要测量的变压器打开征能ES31多功能四线接地电阻测试仪仪表箱、工具袋准备接线按下图接线。16年，全天科技将重点推介可编程直流电源在汽车电子测试领域、电动领域、自动测试领域以及科研机构的应用。全天科技可编程直流电源，内置符合德国DIN4839标准的汽车电子引擎启动测试波形，符合ISO1675-2标准的电压中断测试波形，为汽车电子行业提供解决方案。省去测试前繁琐的编辑过程，同时，测试工程师可自行调整波形的设置参数，以便输出不同测试等级下的波形。以下对内置的4种测试波形做进一步说明。