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HNDL800 JP柜 配电箱温升试验系统 配电箱多回路温升试验设备HNDL 开关柜温升试验设备 容量大 定制定做
联系人车高平13608980122/15689901059用于箱变,配电箱额定电流温升试验。温升试验装置技术性能需满足根据GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等试验标准对开关柜进行试验的要求。数字可调增益通过内部精密电阻阵列实现。为了优化增益、CMRR和失调,可以对这些电阻阵列进行片内调整,从而获得良好的整体直流性能。还可以运用设计技巧来实现紧凑的IC布局,使寄生效应,并提供出色的匹配,产生良好的交流性能。由于这些优点,如果有符合设计要求的PGIA,强烈建议选择这样的器件。表1列出了可用的集成PGIA以及一些关键规格。PGIA的选择取决于应用。AD825x由于具有快速建立时间和高压摆率,在多路复用系统中非常有用。
1.2 技术参数要求
恒流输出电流:AC范围 0到额定电流,连续可调, 且该输出电流为真有效值(指负载被试开关柜及相关标准规定的试验附件, 可输出的电流有效值, 电流稳定输出时间应满足工作时间要求)
输出波形:标准正弦波
输出频率: 50Hz (+5%, -2%)
输出电压:0-6V,且连续可调
工作时间:大电流输出不少于24小时
输出相数:三相 多路
使用组合透镜系统对物体成像,实现加电时液晶透镜区域清晰,具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向:液晶透镜成像系统测试目的:展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果,测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF,其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程:1.实验室制备液晶透镜,并通过干涉法获取波前信息,得到zernike系数,得到液晶透镜的性能参数,以选择合适的驱动电压;组装成像系统,对不同区域的物体进行成像实验;使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试,测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。
1.3 恒流源配置列表:(按照客户具体需求配置)
序号 |
名称 |
数量 |
1 |
3回路三相0-100A电流调节器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A电流调节器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A电流调节器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A电流调节器 |
1 |
