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HNDL系列全自动大电流发生器测试系统交流恒流源 大电流冲击试验装置 电缆热循环试验设备 5年保修
是青岛华能远见有限公司自主研制开发的专业应用于母线槽、频率50Hz开关、电流互感器和其它电器设备的电流负载速断试验及温升试验。则有效的保证了测试数据的准确性。整机测试单元包括:高精度毫秒计、真有效值电流表、电流传感器(进口件)、调压器、大功率升流器、微电脑控制器等部分。自动调压输出电流。三大功能的组合?FFT功能:可以有效地信号中的噪声的频域范围;?数字滤波功能:可以有效地过滤信号中的噪声成分;?自动测量功能:可以用于测量经过数算或者数字滤波后的波形的各个参数指标。如上所述,我们已经无形中就将“FFT+数字滤波+自动测量”组合成了一个可用于噪声、减少噪声、波形测量的利器,可有效地用于存在干扰的被测信号的干扰和快速测量。下面,我们就用这个利器来解决一个经常会遇到的信号测量的问题。
特点
1、 采用10英寸真彩大液晶触摸屏操作;测试无需外接任何辅助设备,全自动控制,式操作,简单方便。
2、 带有自动稳流系统,工控机可实现四遥控能
3、 采用当前电力电子技术,抗干扰能力强,输出精度高,纹波系数小于0.2%,准确度高于0.5%;。
4、 自动试验只需设置好目标电流即可,无需人工监控,仅需设定测试电流,省去手动调压,减小劳动强度,提高工作效率。运行时间可自由设定
5、绝缘耐压 1800/AC 1min, 绝缘等级:B级
数字滤波技术的核心是算法,但也并不是完全脱离硬件的。比如数字信号处理器(DSP)就是常见的数字滤波设备,除了滤波,DSP还会对数字信号进行变换、检测、谱、估计、压缩、识别等一系列的加工处理。模拟滤波技术一般都是通过硬件电路实现的。举个例子,比如——车身蓄电池提供的12V直流电源,它其实并不纯洁。除了纯净的12V恒压电源外,还掺杂着一些交流杂波。所以我们需要用电容、电感、电阻来组成硬件滤波电路,以频率为标识符来滤除这些杂波。
二、技术指标
1.输入 交流50Hz , 380V。
2.可三相平衡的输出0—20000A交流大电流。运行时段可自行设定。
3. 输出开口电压:0-20V.
4.电流精度 :各电流均可平滑平稳连续可调,精度高于0.5级.电流电压表显示为真有效数值,精度高、稳定度高。
5.电流波形失真 THD 1% 设计标准远远高于国标<<GB14048.2-14>>.
6.保护设置 过流、过压
7.绝缘阻抗 20兆欧
8.绝缘耐压 1800/AC 1MIN
9.可测被测元件的电流动作时间。并可同步记录锁定动作时间。常开、常闭触点自动判别。测时范围:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.PID修复装置与逆变器直流输入并联,在光伏组件的负级和地之间施加一个高电压,并且支持输出固定电压和输出智能调节的电压。在夜间,它能把光伏组件在白天因为负极与地之间的负偏压所积累下来的电荷释放掉,持续运转,PID-BOX将会修复那些因为PID效应导致效率衰减的电池组件。PID修复装置(PID-BOX)接线示意图其实光伏组件漏电流的大小影响着衰减现象,监控组件实时漏电流的大小,能够有效反映出组件衰减程度并以此做调节。
三、操作方法
1、仪器接入380V电压,在将仪器后面电流输出端子与被测品接通构成电流回路接线端子要紧固。面板上的常闭触点要接到被测品的辅助常闭触点上。
2、打开仪器侧面空气开关,等待几秒进入试验选择界面如下图:
电流输出线与常闭触点接入后,注急停按钮不要按下,直接按启动按钮,即可通过点击触控屏升降按钮来调节电流输出大小。(每次试验结束后,都要按下面板归零按钮让调压器自动归零位)。
2) 自动升流就选择进入“自动试验”界面如下图:
自动试验时,每次都要先选择“参数设置”来设置输出电流大小。做长时间运行可自由设定运行时间。如下图:对于一些大型较重的模具、检具,测量结束后应及时吊下工作台,以避免工作台长时间处于承载状态。检测完毕后,清洁三坐标测量仪工作台台面。测量仪器的选购评定测量仪器是否优良的标准是:准、快、省。准:测量结果的数值度高;快:测量效率高;省:所用测量工具价格低廉,操作方便,测量费用低。测量仪器的保养若仪器不使用时,取出电池时应分清其电池的安装位置,并与其他附件一起放回仪器箱,确保设备不被撞击、挤压和磨损。
1.在连接仪器测试线前,应先检查各项调压器是否归零。急停按钮是否关闭。
2.输出电流2500A以上时,电流输出线一定要紧固。试验时间≤300s。对有源天线阵列进行校准需要很长的生产测试时间。大型阵列可能包含成百上千个阵元,有必要通过表征这些阵元间的相位和增益关系,以确保精密的波束赋形。而且,进行阵元调整所需的测试时间会随着阵元数量的增加而大幅增长。使用多个相参测量通道能够有效地缩短测试时间。现在通常使用一台多端口网络仪在天线上执行相对增益和相位测量,一般是通过开关矩阵对所有的天线端口或通道执行这种测量。这会产生很长的测试时间,尤其是对包含成百上千阵元的阵列。