产品名称：直流开关试验装置 交流温升试验设备 全自动温升测试仪 30年经验

HNDL系列全自动大电流发生器测试系统直流开关试验装置 交流温升试验设备 全自动温升测试仪 30年经验

是青岛华能远见有限公司自主研制开发的专业应用于母线槽、频率50Hz开关、电流互感器和其它电器设备的电流负载速断试验及温升试验。则有效的保证了测试数据的准确性。整机测试单元包括：高精度毫秒计、真有效值电流表、电流传感器（进口件）、调压器、大功率升流器、微电脑控制器等部分。自动调压输出电流。汽车自动变速器上的控制设备，包括：液压回路，其利用控制压力使至少一个摩擦元件动作；选择器，其选择变速器区段；阀，其切换变速器换档器；以及控制单元，其响应于所选择的变速器区段来使所述阀切换所述变速器换档器，并且在切换所述变速器换档器之前减小所述控制压力。变速器的控制方法，包括：利用控制压力使至少一个摩擦元件动作；选择期望变速器区段；响应于所选择的期望变速器区段来切换变速器区段；以及在切换变速器区段之前减小所述控制压力。

特点

1、 采用10英寸真彩大液晶触摸屏操作；测试无需外接任何辅助设备，全自动控制，式操作，简单方便。

2、 带有自动稳流系统，工控机可实现四遥控能

3、 采用当前电力电子技术，抗干扰能力强，输出精度高，纹波系数小于0.2％，准确度高于0.5%；。

4、 自动试验只需设置好目标电流即可，无需人工监控，仅需设定测试电流，省去手动调压，减小劳动强度，提高工作效率。运行时间可自由设定

5、绝缘耐压 1800/AC  1min,   绝缘等级：B级

 互感器过热的情况通常表现为，电流互感器一次侧导电回路引起的局部发热;整体介质损耗上升引起的温度整体上升;电流互感器套管缺油引起的温度分布异常。互感器过热的情况通常表现为，电流互感器一次侧导电回路引起的局部发热;整体介质损耗上升引起的温度整体上升;电流互感器套管缺油引起的温度分布异常。电压互感器存在局部缺陷、受潮或老化，使介质损耗增加或局部放电;由铁芯损耗引起，随着电压等级的升高，绝缘的介质损耗严重。

二、技术指标

1.输入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的输出0—20000A交流大电流。运行时段可自行设定。

3. 输出开口电压：0-20V.

4.电流精度 ：各电流均可平滑平稳连续可调，精度高于0.5级.电流电压表显示为真有效数值，精度高、稳定度高。

5.电流波形失真   THD 1%  设计标准远远高于国标<<GB14048.2-14>>.

6.保护设置  过流、过压

7.绝缘阻抗  20兆欧

8.绝缘耐压  1800/AC  1MIN

9.可测被测元件的电流动作时间。并可同步记录锁定动作时间。常开、常闭触点自动判别。测时范围：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.测量参数1.基本参数亮度Lv，色度xy和uv，色温TΔuv，照度Ev。其它参数辐射度、对比度、均匀度、γ特性、特征波长λd，色纯度、闪烁度。应用部门1.研发部门通常对精度及功能要求极高。可选择CS-2，CS-2，CA-2或CL-2等。品质控制部门对精度及使用方便性要求较高。可选择CS-2，CA-21等。生产部门对使用方便性及测量速度要求较高。可选择CA-21等。

三、操作方法

1、仪器接入380V电压，在将仪器后面电流输出端子与被测品接通构成电流回路接线端子要紧固。面板上的常闭触点要接到被测品的辅助常闭触点上。

2、打开仪器侧面空气开关，等待几秒进入试验选择界面如下图：

电流输出线与常闭触点接入后，注急停按钮不要按下，直接按启动按钮，即可通过点击触控屏升降按钮来调节电流输出大小。(每次试验结束后，都要按下面板归零按钮让调压器自动归零位)。

2) 自动升流就选择进入“自动试验”界面如下图：

自动试验时，每次都要先选择“参数设置”来设置输出电流大小。做长时间运行可自由设定运行时间。如下图：它还采用智能DigjtalDNA技术，在66MHz下工作速度为59Dhrystone2.1MIPS。此外，MCF5282微处理器还具有新型设备：快速以太网媒体存取控制(MAC)，支持100MbpsMII，10MlapsMII和10Mbps7线实际接口，它使以太网连接从板级扩展到芯片级，这是MCF5282区别于其他类型处理器的特色之一。QSPI模块，提供带有序列传输性能的串行外围接口。3个通用异步串行接口模块UART。

1.在连接仪器测试线前，应先检查各项调压器是否归零。急停按钮是否关闭。

2.输出电流2500A以上时，电流输出线一定要紧固。试验时间≤300s。微波暗室由电磁室、滤波与隔离、接地装置、通风波导、室内配电系统、监控系统、吸波材料等部分组成。它是以吸波材料作为衬面的房间，它可以吸收射到六个壁上的大部分电磁能量较好的模拟空间自由条件。暗室是天线设计公司都需要建造的测试设备，因为对于天线的测试比较而且比较系统，其测试指标可以用来衡量一个天线的性能的好与坏。主要是天线公司使用，但其造价昂贵。TEMCELL测TEMCELL测试天线有源指标，因为微波暗室和天线测试系统造价比较昂贵，一般要百万以上，一般的设计和研发公司没有这种设备，而用TEMCELL(也较三角锥)来代替测试。