产品名称：小电流发生器 三相温升试验装置 开关柜温升测试仪 5年保修

HNDL系列全自动大电流发生器测试系统小电流发生器 三相温升试验装置 开关柜温升测试仪 5年保修

是青岛华能远见有限公司自主研制开发的专业应用于母线槽、频率50Hz开关、电流互感器和其它电器设备的电流负载速断试验及温升试验。则有效的保证了测试数据的准确性。整机测试单元包括：高精度毫秒计、真有效值电流表、电流传感器（进口件）、调压器、大功率升流器、微电脑控制器等部分。自动调压输出电流。擅长“小型化”的日本厂家过去，电子产品的进步主要是以半导体为中心的“小型化”的发展（也就是所谓的“摩尔定律”），同时附加很多功能。如今，电子产品的进步主要是体现在当今发展到顶点的智能、以智能手表（SmartWatch）为代表的可穿戴设备（WearableDevice）。这些产品都是通过电池驱动且具有较高的计算（Computing）功能，另外也具备摄像、运动（Motion）、气压、温度等多个传感器。

特点

1、 采用10英寸真彩大液晶触摸屏操作；测试无需外接任何辅助设备，全自动控制，式操作，简单方便。

2、 带有自动稳流系统，工控机可实现四遥控能

3、 采用当前电力电子技术，抗干扰能力强，输出精度高，纹波系数小于0.2％，准确度高于0.5%；。

4、 自动试验只需设置好目标电流即可，无需人工监控，仅需设定测试电流，省去手动调压，减小劳动强度，提高工作效率。运行时间可自由设定

5、绝缘耐压 1800/AC  1min,   绝缘等级：B级

 近，FLIR隆重推出一款针对科研热像仪的新型数据处理软件：FLIRResearchStudio?。对于研究人员和工程师而言，强大的数据软件可能就像热像仪的画质和速度一样重要。这款软件不但要简单易用，还要提供广泛的测量工具。关于它的优势，旨在以用户习惯的方式和简化的工作流程显示、记录、查看和FLIR热像仪数据。用户界面简单易用——无论Windows、MacOS还是Linux操作系统——并且有助于缩短实验和收集有效数据所需时间。

二、技术指标

1.输入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的输出0—20000A交流大电流。运行时段可自行设定。

3. 输出开口电压：0-20V.

4.电流精度 ：各电流均可平滑平稳连续可调，精度高于0.5级.电流电压表显示为真有效数值，精度高、稳定度高。

5.电流波形失真   THD 1%  设计标准远远高于国标<<GB14048.2-14>>.

6.保护设置  过流、过压

7.绝缘阻抗  20兆欧

8.绝缘耐压  1800/AC  1MIN

9.可测被测元件的电流动作时间。并可同步记录锁定动作时间。常开、常闭触点自动判别。测时范围：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.与仪器仪表有关的生命周期服务有：安装与调试、支持与维护服务、搬迁规划与升级项目、仪器咨询与流程，以及培训、校验、零件与维修服务。这些服务的一个重要方面是协助客户避免因信号完整性不足或仪器、执行器的故障引起突发停机。突发停机会带来严重后果会造成数千甚至数百万美元的生产损失和资源浪费。ABB提供的紧急维修协助，旨在缩短突发停机的时间。在目前情况下，客户要求仪器供应商进行拜访或签署合同，在预定的停工时间内进行定期维护，这种方法的检修成本势必很高。

三、操作方法

1、仪器接入380V电压，在将仪器后面电流输出端子与被测品接通构成电流回路接线端子要紧固。面板上的常闭触点要接到被测品的辅助常闭触点上。

2、打开仪器侧面空气开关，等待几秒进入试验选择界面如下图：

电流输出线与常闭触点接入后，注急停按钮不要按下，直接按启动按钮，即可通过点击触控屏升降按钮来调节电流输出大小。(每次试验结束后，都要按下面板归零按钮让调压器自动归零位)。

2) 自动升流就选择进入“自动试验”界面如下图：

自动试验时，每次都要先选择“参数设置”来设置输出电流大小。做长时间运行可自由设定运行时间。如下图：今天我们一起来深扒MVB协议。MVB介绍TCN是铁路列车车辆之间和车辆内部可编程设备互联传送控制、检测与诊断信息的数据通信网络。MVB为多功能车辆总线，它是列车通信网TCN的一部分，TCN网络由WTB+MVB构成。MVB是一种主要用于对有互操作性和互换性要求的互连设备之间的串行数据通信总线，它将位于同一车辆，或不同车辆中的标准设备连接到列车通信。其固定传输速率为1.5Mbit/s。列车通信网络列车通信网络通常采用分层结构，根据列车控制的特点分为上下两层，每一层根据不同的特性要求相应有不同适用局部网络，包括列车总线层（WTB）和多功能车辆总线层（MVB）。

1.在连接仪器测试线前，应先检查各项调压器是否归零。急停按钮是否关闭。

2.输出电流2500A以上时，电流输出线一定要紧固。试验时间≤300s。简介40多年来，数字功能测试一直是测试领域的一部分。早的测试系统采用简单的静态数字测试功能。然而，随着这些数字设备，模块和系统的性能、复杂性的发展，数字测试仪器也在不断发展。特别是，器件切换速率相关技术的持续进步已经对测试仪器和系统提供了相对更高的性能要求，而今天的半导体测试系统提供了具有高功耗的数GHz测试功能。在**-航天应用，数字功能测试要求不断的提出一系列特的要求和挑战。与设备测试相关的测试要求不同，M-A应用主要侧重于支持模块和系统级测试。