产品名称：小电流发生器 直流开关试验电源 配电箱温升测试仪 5年保修

HNDL系列全自动大电流发生器测试系统小电流发生器 直流开关试验电源 配电箱温升测试仪 5年保修

是青岛华能远见有限公司自主研制开发的专业应用于母线槽、频率50Hz开关、电流互感器和其它电器设备的电流负载速断试验及温升试验。则有效的保证了测试数据的准确性。整机测试单元包括：高精度毫秒计、真有效值电流表、电流传感器（进口件）、调压器、大功率升流器、微电脑控制器等部分。自动调压输出电流。借助此表可完成：查看制冷系统高、低压端运行压力。指示系统保压状态（系统存在泄漏或者气密性良好）。辅助判断抽真空时管道杂质去除程度。通过压力判断制冷剂充注程度。但此种压力表在实际使用中亦存在不足，从而影响使用体验，：指针刻度式读数，容易因观察角度造成读数误差。压力精度为±1.6%，测量高压时误差较大。压力传感器指示真空度较差，无法检测中、高真空。充注时只能提供压力数据，据此判断充注不。解决方案：客户在现场也了德图的电子式冷媒压力表testo557.与指针式表不同，电子冷媒表实现了：1.数字式显示高、低压端压力及温度情况。

特点

1、 采用10英寸真彩大液晶触摸屏操作；测试无需外接任何辅助设备，全自动控制，式操作，简单方便。

2、 带有自动稳流系统，工控机可实现四遥控能

3、 采用当前电力电子技术，抗干扰能力强，输出精度高，纹波系数小于0.2％，准确度高于0.5%；。

4、 自动试验只需设置好目标电流即可，无需人工监控，仅需设定测试电流，省去手动调压，减小劳动强度，提高工作效率。运行时间可自由设定

5、绝缘耐压 1800/AC  1min,   绝缘等级：B级

 目标信号变得相干或相关，但不会恢复失真项。在测试中实现的修改方法是将每个本振(LO)频率合成器设置为不同的频率，然后在数字处理过程中以数字方式调谐数控振荡器(NCO)，以校正修改。所示为ADI公司ADRV9009的功能框图。每个波形发生器或接收器都是用直接变频架构实现的。DanielRabinkin的文章《前端非线性失真与阵列波形合成》详细地讨论了直接变频架构。4LO频率可以立编程到各IC上。

二、技术指标

1.输入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的输出0—20000A交流大电流。运行时段可自行设定。

3. 输出开口电压：0-20V.

4.电流精度 ：各电流均可平滑平稳连续可调，精度高于0.5级.电流电压表显示为真有效数值，精度高、稳定度高。

5.电流波形失真   THD 1%  设计标准远远高于国标<<GB14048.2-14>>.

6.保护设置  过流、过压

7.绝缘阻抗  20兆欧

8.绝缘耐压  1800/AC  1MIN

9.可测被测元件的电流动作时间。并可同步记录锁定动作时间。常开、常闭触点自动判别。测时范围：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.关于数采配置及现场测试应用的部分问题，是工作者在实践过程中时常会遇到的状况。为什么记录了许久但导出文件却发现没有数据，为什么采样数据文件找不到，为什么趋势图不显示，为什么设置了运算公式却没显示结果？本文为你详细讲解。事件数据与显示数据的区别事件数据将各测量周期采集的数据按照设定的记录周期进行记录。虽然记录了详细的数据，但是数据量较大。其记录的数据格式为.TEV，记录的数值为瞬时值，使用Excel打开后的界面如所示。

三、操作方法

1、仪器接入380V电压，在将仪器后面电流输出端子与被测品接通构成电流回路接线端子要紧固。面板上的常闭触点要接到被测品的辅助常闭触点上。

2、打开仪器侧面空气开关，等待几秒进入试验选择界面如下图：

电流输出线与常闭触点接入后，注急停按钮不要按下，直接按启动按钮，即可通过点击触控屏升降按钮来调节电流输出大小。(每次试验结束后，都要按下面板归零按钮让调压器自动归零位)。

2) 自动升流就选择进入“自动试验”界面如下图：

自动试验时，每次都要先选择“参数设置”来设置输出电流大小。做长时间运行可自由设定运行时间。如下图：对于需要经常进行数据流传输的系统数据，SPI是，因为它拥有较快的时钟速率，速率可从几兆赫兹到几十兆赫兹。然而，对于系统管理活动，如读取温度传感器的读数和查询多个从器件的状态，或者需要多个主器件共存于同一系统总线上(系统冗余常会要求这一点)，或者面向低功耗应用，这时I2C或SMBus将是接口。：数字温度传感器简化框图下面几部分将介绍每种串行总线及其优缺点。SPISPI是一种四线制串行总线接口，为主/从结构，四条导线分别为串行时钟(SCLK)、主出从入(MOSI)、主入从出(MISO)和从选(SS)信号。

1.在连接仪器测试线前，应先检查各项调压器是否归零。急停按钮是否关闭。

2.输出电流2500A以上时，电流输出线一定要紧固。试验时间≤300s。系统基于全制式全覆盖的测试能力可解决物联网产业链的测试难题，具体包括芯片模组测试、综合测试、产线测试等多个环节。典型测试场景如下：发射机指标测试：UE发射功率UE指的是NB-IOT的终端产品，包括NB-IOT模块以及使用了这些模块的终端。UE占用带宽，占用带宽指的是分配信道之内测量的99%积分平均功率时对应的信号带宽。NB-IOT下行信号占用带宽典型测试UE发射ACLR相邻信道泄漏比，这个测来判定终端产品是否有可能对相邻(或高或低)信道中的接收机产生干扰。