产品名称：大电流发生器 母线槽温升试验设备 配电箱温升试验系统 5年保修

HNDL系列全自动大电流发生器测试系统大电流发生器 母线槽温升试验设备 配电箱温升试验系统 5年保修

是青岛华能远见有限公司自主研制开发的专业应用于母线槽、频率50Hz开关、电流互感器和其它电器设备的电流负载速断试验及温升试验。则有效的保证了测试数据的准确性。整机测试单元包括：高精度毫秒计、真有效值电流表、电流传感器（进口件）、调压器、大功率升流器、微电脑控制器等部分。自动调压输出电流。电磁传感器用于洗碗机中控制喷水臂的移动。许多其他家电中也使用了先进的传感器。非接触式检测系统，，用于温度控制的微加工热电偶红外传感器，它还可以用于炊具、头发护理和烤面包机中。流量传感器可用于电扇和真空吸尘器中空气质量的检测。加速度和坡度传感器可用在电奥斗中。智能多气体传感器(人造鼻)可用于自动陪烤控制中。用于加热和温度控制方面的传感器有:温度传感器和开关、压力传感器和开关、气体和液体流量传感器。

特点

1、 采用10英寸真彩大液晶触摸屏操作；测试无需外接任何辅助设备，全自动控制，式操作，简单方便。

2、 带有自动稳流系统，工控机可实现四遥控能

3、 采用当前电力电子技术，抗干扰能力强，输出精度高，纹波系数小于0.2％，准确度高于0.5%；。

4、 自动试验只需设置好目标电流即可，无需人工监控，仅需设定测试电流，省去手动调压，减小劳动强度，提高工作效率。运行时间可自由设定

5、绝缘耐压 1800/AC  1min,   绝缘等级：B级

 可选用IT8800系列高性能直流电子负载，设置负载工作在CV恒压模式，且电压设定值大于模拟蓄电池的电源的输出电压，避免消耗供电直流源输出的电量。IT8800系列功率范围150W-55kW，电压/电流测量速度可达50kHz，分辨率可达0.1mV/0.01mA，满足客户高精度的测试需求；具有定电压、定电流、定电阻、定功率四种操作模式，保护功能完善，内置RS232/GPIB/USB通讯接口，满足通讯需求。

二、技术指标

1.输入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的输出0—20000A交流大电流。运行时段可自行设定。

3. 输出开口电压：0-20V.

4.电流精度 ：各电流均可平滑平稳连续可调，精度高于0.5级.电流电压表显示为真有效数值，精度高、稳定度高。

5.电流波形失真   THD 1%  设计标准远远高于国标<<GB14048.2-14>>.

6.保护设置  过流、过压

7.绝缘阻抗  20兆欧

8.绝缘耐压  1800/AC  1MIN

9.可测被测元件的电流动作时间。并可同步记录锁定动作时间。常开、常闭触点自动判别。测时范围：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.电感位移传感器被广泛应用于微小位移量检测中，但在一些工程中现有传感器的测量精度和灵敏度达不到测量要求。针对这一问题，对传感器前段信号处理电路进行改进，在传感器上下线圈并联电容形成LC电路，利用LC电路谐振效应改善电路的性能，以提高信号源头的灵敏度;采用Multisim软件对半桥和全桥电路在并联不同大小的电容后的性能进行仿真，并用Matlab对生成的曲线进行二乘拟合，比较得出使电路性能的电容值和并联方法。

三、操作方法

1、仪器接入380V电压，在将仪器后面电流输出端子与被测品接通构成电流回路接线端子要紧固。面板上的常闭触点要接到被测品的辅助常闭触点上。

2、打开仪器侧面空气开关，等待几秒进入试验选择界面如下图：

电流输出线与常闭触点接入后，注急停按钮不要按下，直接按启动按钮，即可通过点击触控屏升降按钮来调节电流输出大小。(每次试验结束后，都要按下面板归零按钮让调压器自动归零位)。

2) 自动升流就选择进入“自动试验”界面如下图：

自动试验时，每次都要先选择“参数设置”来设置输出电流大小。做长时间运行可自由设定运行时间。如下图：代数字存储示波器（DSO，DigitalStorgeOscilloscope，如b）主要通过高速的ADC将模拟信号转换为数字信号，然后存储于内存中，再由CPU运算与绘制波形。采用这种结构所设计的数字存储示波器，其功能比模拟示波器有了很大的提升，波形存储、波形运算、自动测量等等。模拟示波器的优势在于他的即时、快速和丰富表现信号的能力，这也是数字示波器的缺点，原因在于CPU的运算能力远不及信号的变化速度。

1.在连接仪器测试线前，应先检查各项调压器是否归零。急停按钮是否关闭。

2.输出电流2500A以上时，电流输出线一定要紧固。试验时间≤300s。半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。