产品详情
  • 产品名称:三相温升大电流发生器 交流温升试验设备 直流温升测试仪 定制定做

  • 产品型号:HNDL
  • 产品厂商:华能
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简单介绍:
适用于JP柜,配电箱温升试验,电力系统技术人员检验电流互感器保护装置及二次回路电流试验。也可用于开关,电缆、直流电流传感器和其它电器设备作电流负载试验及温升试验。三相温升大电流发生器 交流温升试验设备 直流温升测试仪 定制定做
详情介绍:

HNDL系列全自动大电流发生器测试系统三相温升大电流发生器 交流温升试验设备 直流温升测试仪 定制定做
三相温升大电流发生器 交流温升试验设备 直流温升测试仪 定制定做
是青岛华能远见有限公司自主研制开发的专业应用于母线槽、频率
50Hz开关、电流互感器和其它电器设备的电流负载速断试验及温升试验。
则有效的保证了测试数据的准确性。整机测试单元包括:高精度毫秒计、真有效值电流表、电流传感器(进口件)、调压器、大功率升流器、微电脑控制器等部分。自动调压输出电流。所有获取帧叠加显示允许快速的视觉比较.所有获取帧叠加显示允许快速的视觉比较在中,分段存储帧被叠加,因此所有的脉冲在屏幕上看起来都是堆叠在一起的。这允许对所有获取帧进行快速的可视比较。选定的帧被设置为100,000,波形以蓝色显示在叠加帧的顶部。参考帧和所选帧之间的时间差(Delta)显示在显示器右侧的结果面板中。Fastframe分段存储方法的优点包括:?高Fastframe波形捕获率增加捕获偶发事件的概率?使用高采样率保证了波形细节?使捕捉脉冲的死区时间,确保有效利用记录长度?存储帧可以快速和直观地进行比较,以确定是否在叠加显示中出现异常显示平均总结帧信息.5系列MSO分段存储显示,显示平均总结帧信息Fastframe分段存储支持标准的样本采集模式,以及峰值检测和高分辨率模式。

三相温升大电流发生器 交流温升试验设备 直流温升测试仪 定制定做特点

1、 采用10英寸真彩大液晶触摸屏操作;测试无需外接任何辅助设备,全自动控制,式操作,简单方便。

2、 带有自动稳流系统,工控机可实现四遥控能

3、 采用当前电力电子技术,抗干扰能力强,输出精度高,纹波系数小于0.2%,准确度高于0.5%;

4、 自动试验只需设置好目标电流即可,无需人工监控,仅需设定测试电流,省去手动调压,减小劳动强度,提高工作效率。运行时间可自由设定

5、绝缘耐压 1800/AC  1min,   绝缘等级:B

 三相温升大电流发生器 交流温升试验设备 直流温升测试仪 定制定做一般来说,示波器都必须具备双轨迹输出显示装置,同时内建有IEEE-48IEEE-1394或RS-232等介面功能以便与绘图仪器连结,而利于后续量测显示资讯输出与绘图的研究比较之用。只是示波器缺点在于只侷限于低频信号,对于高频信号的便成为一大挑战。频谱仪的优势,正是在于弥补示波器针对高频信号的不足,并可同时将多频信号以频域的方式来呈现,以方便辨识各不同频率的功率装置,并显示信号在频域里的特性。

二、技术指标

1.输入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的输出0—20000A交流大电流。运行时段可自行设定

3. 输出开口电压:0-20V.

4.电流精度 :各电流均可平滑平稳连续可调,精度高于0.5级.电流电压表显示为真有效数值,精度高、稳定度高。

5.电流波形失真   THD 1%  设计标准远远高于国标<<GB14048.2-14>>.

6.保护设置  过流、过压

7.绝缘阻抗  20兆欧

8.绝缘耐压  1800/AC  1MIN

9.可测被测元件的电流动作时间。并可同步记录锁定动作时间。常开、常闭触点自动判别。测时范围:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.三相温升大电流发生器 交流温升试验设备 直流温升测试仪 定制定做带宽、采样率和存储深度是数字示波器的三大关键指标。相对于工程师们对示波器带宽的熟悉和重视,采样率和存储深度往往在示波器的选型、评估和测试中为大家所忽视。这篇文章的目的是通过简单介绍采样率和存储深度的相关理论结合常见的应用帮助工程师更好的理解采样率和存储深度这两个指针的重要特征及对实际测试的影响,同时有助于我们掌握选择示波器的权衡方法,树立正确的使用示波器的观念。在开始了解采样和存储的相关概念前,我们先回顾一下数字存储示波器的工作原理。

三、操作方法

1、仪器接入380V电压,在将仪器后面电流输出端子与被测品接通构成电流回路接线端子要紧固。面板上的常闭触点要接到被测品的辅助常闭触点上

2、打开仪器侧面空气开关,等待几秒进入试验选择界面如下图:

电流输出线与常闭触点接入后,注急停按钮不要按下直接按启动按钮,即可通过点击触控屏升降按钮来调节电流输出大小。(每次试验结束后,都要按下面板归零按钮让调压器自动归零位)

2) 自动升流就选择进入“自动试验”界面如下图:

自动试验时,每次都要先选择“参数设置”来设置输出电流大小。做长时间运行可自由设定运行时间。如下图:CSP(ChipScalePACkage):芯片级封装,该方式相比BGA同等空间下可以将存储容量提升三倍,是由日本三菱公司提出来的。DIP(DualIn-linePACkage):双列直插式封装,插装型封装之一,指采用双列直插形式封装的集成电路芯片,体积比较大。MCM(MultiChipModel):多芯片模块封装,可根据基板材料分为MCM-L,MCM-C和MCM-D三大类。QFP(QuadFlatPackage):四侧引脚扁平封装,表面贴装型封装之一,引脚通常在100以上,适合高频应用,基材方面有陶瓷、金属和塑料三种。三相温升大电流发生器 交流温升试验设备 直流温升测试仪 定制定做

1.在连接仪器测试线前,应先检查各项调压器是否归零。急停按钮是否关闭。

2.输出电流2500A以上时,电流输出线一定要紧固。试验时间300s。老化测试是产品生产中的环节,对于CAN通信设备如何进行批量的老化测试呢?本文将从成本及方案优化两方面简述测试方法。什么是老化测试老化测试是将产品置于实际使用环境中评测其使用寿命、稳定性等指标的一种测试方式。比如对塑胶材料制品,常使用光照老化、湿热老化、热风老化。对于电子设备的老化测试,除了以上材料老化测试还经常需要上电测试,以此来考验产品的稳定性。老化测试通常在的老化室中进行。老化室CAN通讯设备老化测试对于CAN通信设备的老化测试,主要是功能性老化测试。三相温升大电流发生器 交流温升试验设备 直流温升测试仪 定制定做

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