产品名称：大电流直流电源 母线槽温升试验设备 JP柜温升试验装置 30年经验

HNDL系列全自动大电流发生器测试系统大电流直流电源 母线槽温升试验设备 JP柜温升试验装置 30年经验

是青岛华能远见有限公司自主研制开发的专业应用于母线槽、频率50Hz开关、电流互感器和其它电器设备的电流负载速断试验及温升试验。则有效的保证了测试数据的准确性。整机测试单元包括：高精度毫秒计、真有效值电流表、电流传感器（进口件）、调压器、大功率升流器、微电脑控制器等部分。自动调压输出电流。灵敏度与准确度测量输出变化与标准值变化之间的关系称为灵敏度。理想情况下这种关系呈现为线性，但在实际操作中所有测量均会存在某些瑕疵或不确定性。被测值与与标准值的一致性通常简单地称为“准确度”，但这是一个略微模糊的术语。严格定义的准确度通常包括重复性。重复性指在测量条件不变的情况下，仪器在重复测量时能够达到相似测量结果的能力(见)。但是其可能包含也可能不包含湿滞、温度依赖性、非线性和长期稳定性。重复性本身通常是测量不确定性的次要来源，如果精度规范不包含其它不确定性，则其可能会造成对实际测量性能的错误印象。

特点

1、 采用10英寸真彩大液晶触摸屏操作；测试无需外接任何辅助设备，全自动控制，式操作，简单方便。

2、 带有自动稳流系统，工控机可实现四遥控能

3、 采用当前电力电子技术，抗干扰能力强，输出精度高，纹波系数小于0.2％，准确度高于0.5%；。

4、 自动试验只需设置好目标电流即可，无需人工监控，仅需设定测试电流，省去手动调压，减小劳动强度，提高工作效率。运行时间可自由设定

5、绝缘耐压 1800/AC  1min,   绝缘等级：B级

 在自动驾驶行人横穿紧急制动测试中，测试工程师会根据自动驾驶车辆行驶的速度，准确的让行人以一定速度横穿测试道路，同时时刻关注并记录车辆运动过程中的速度、加速度、横纵向相对距离、以及判断触发AEB时刻起到后刹停时自动驾驶车辆的加速度，刹停时相对于假人的相对距离等高精度数据是否满足《重庆市自动驾驶道路测试准入测试规范》中的测试要求。在整个测试过程中测试驾驶员不得踩踏制动踏板或转动方向盘，且自动驾驶车辆不得与前方车辆及行人发生碰撞。

二、技术指标

1.输入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的输出0—20000A交流大电流。运行时段可自行设定。

3. 输出开口电压：0-20V.

4.电流精度 ：各电流均可平滑平稳连续可调，精度高于0.5级.电流电压表显示为真有效数值，精度高、稳定度高。

5.电流波形失真   THD 1%  设计标准远远高于国标<<GB14048.2-14>>.

6.保护设置  过流、过压

7.绝缘阻抗  20兆欧

8.绝缘耐压  1800/AC  1MIN

9.可测被测元件的电流动作时间。并可同步记录锁定动作时间。常开、常闭触点自动判别。测时范围：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.在耐压测试前，因为进行了接线的检测，即使只花了很少的时间，还是增加了接触时间，这是该方法的欠缺。监测电压外加部分的电压耐压测试仪所显示的电压，是发生端的电压，并不是被测物电压外加部分的电压。所以如果接线正常，发生端电压和电压外加部分电压应该是相同的。如果断线或接触，电压外加部的电压会小于发生端的电压，这时即可判断为接线有异常。因为能够检测出耐压测试中接线的异常，且对于生产线的接触时间又没什么影响，这一点是比较便利的。

三、操作方法

1、仪器接入380V电压，在将仪器后面电流输出端子与被测品接通构成电流回路接线端子要紧固。面板上的常闭触点要接到被测品的辅助常闭触点上。

2、打开仪器侧面空气开关，等待几秒进入试验选择界面如下图：

电流输出线与常闭触点接入后，注急停按钮不要按下，直接按启动按钮，即可通过点击触控屏升降按钮来调节电流输出大小。(每次试验结束后，都要按下面板归零按钮让调压器自动归零位)。

2) 自动升流就选择进入“自动试验”界面如下图：

自动试验时，每次都要先选择“参数设置”来设置输出电流大小。做长时间运行可自由设定运行时间。如下图：半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

1.在连接仪器测试线前，应先检查各项调压器是否归零。急停按钮是否关闭。

2.输出电流2500A以上时，电流输出线一定要紧固。试验时间≤300s。接收气室用几微米厚的金属薄膜分隔为两半部，室内封有浓度较大的被测组分气体，在吸收波长范围内能将射入的红外线吸收，从而使脉动的光通量变为温度的周期变化，再可根据气态方程使温度的变化转换为压力的变化，然后用电容式传感器来检测，经过放大处理后指示出被测气体浓度。除用电容式传感器外，也可用直接检测红外线的量子式红外线传感器，并采用红外干涉滤光片进行波长选择和配以可调激光器作光源，形成一种崭新的全固体式红外气体检测仪。