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HN11C高压开关综合测试仪高压开关时间特性测试仪 HN11C系列 移相器 定制定做
一、功能特点
测试指标:可测试国产(进口)真空、六氟化硫、油高压断路器,负荷开关、GIS接地刀闸开关、接触器、继电器、空气开关等。合、分闸时间、同期、弹跳时间、次数、自动重合闸、行程、速度、电流、动作电压等各项数据、波形。
抗扰通道:可抵御550KV变电所现场静电干扰!世界半导体工业界,这种进步至少仍将持续10到15年。面对现有的晶体管模式及技术已经临近极限,借助芯片设计人员巨大的创造才能,使一个个看似不可逾越的难关化险为夷,硅晶体管继续着小型化的步伐。近期美国科学家的科技成果显示,将10纳米长的图案压印在硅片上的时间为四百万分之一秒,把硅片上晶体管的密度提高了100倍,同时也大大提高了线生产的速度。这一成果将使电子产品继续微小化,使摩尔定律继续适用。
位移通道:1路位移信号采集,适配耐用的精密电阻线性位移、角位移传感器。亦可适配用户传统自配的滑线电阻传感器。
同步触发:可响应电压、电流、传感器、断口变化多种同步触发方式。具有无电位接点操作控制模块,无弹跳接点,接点开断容量: 30A,250V(AC/DC)
操作界面:5.7″黑白液晶屏,菜单式操作,并在面板上增加了快捷设置按键。配备高精度激光传感器,传感器安装迅速、快捷、简单;同时也可配置滑线电阻传感器和角度传感器;并配备齐全相关传感器、断路器的测试支架;传统传感器是以机-电测量为基础,而光纤传感器则以光学测量为基础。如下图所示,以电为基础的传统传感器是一种把被测量的状态转变为可测电信号的装置,是由电源、敏感元件、信号接收和处理系统,以及传输信息所用金属导线组成。光纤传感器则是一种把被测量的状态转变为可测光信号的装置。由光发送器、敏感元件(光纤或非光纤的)、光接收器、信号处理系统,以及光纤构成。由光发送器发出的光经源光纤引导至敏感元件,在这里,光的某一性质受到被测量的调制。
速度定义:提供了常用的开关速度定义库和可编辑速度定义库两种模式可供用户自行选择。
录波功能:12路普通金属触头通断、线圈电流;行程、时间波形。具有断路器型号库功能,测试时可直接调用数据库断路器型号,无需特别设置
U盘存储:可将数据及波形文件快速存储到U盘,直接用上位机软件打开。
在线帮助:仪器内置丰富的接线、安装、测试操作帮助。无说明书就能简单使用。尤其是在以下两种情况下,非常不建议采用两线制测试:测试导线过长,R1R2偏大,有时甚至会高出被测电阻,两线制测试极易导致结果错误;被测电阻Rb为低阻值时,馈线电阻的影响会比平时更大,也容易造成读数误差较大。蓄电池的内阻很小,2V电芯的典型内阻为.3mΩ,所以对于此类阻值的测量,需要采用更的测试方法。四线制测试原理四线制测试法即为开尔文测试法。如下图所示,开尔文连接有两个要求:对于每个测试点都有一条激励线和一条检测线,二者严格分开,各自构成立回路:激励回路用于测定流过Rb的电流I1,检测回路用于测定Rb两端的电压V34,因电压表的内部阻抗远远大于检测回路的馈线电阻R3和R4,因此流经电压表的电流I2几乎为零,所量到的电压V34也几乎是Rb本身的压降。