产品名称：多脉冲电缆故障测试仪 HN300系列 电缆刺扎器现货供应

HN300电缆故障测试仪 多脉冲电缆故障测试仪 HN300系列 电缆刺扎器现货供应

 用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障，包括：开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示，全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。在频谱仪中，内部的微处理器可以改变中频增益从而补偿输入衰减器的变化。所以当改变输入衰减器时，仪输入的信号在显示器上的位置并不改变，只是显示的噪声上下移动。这时参考电平保持不变。如下图所示，当衰减从10dB增加到20dB，DANL上升而信号电平保持不变。的输入衰减(0dB)将会获得信噪比，但不幸的是此时的阻抗匹配也是差的，因此尽量避免0dB的设置。当被测信号远大于噪声电平时，可以设置为自动衰减。

技术参数

1. 采样方法：低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法

2. 采样速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脉冲宽度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速设置：交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定

5. 冲击高压：35kV及以下

6. 测试距离：＜60km，盲区≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 测试精度：1m

9. 显示方式：工业级10.4寸彩色触摸液晶屏

尽管IEC60601-1第2版涵盖了“基本性能”，不过第3版将其进一步详细定义为“为避免不可接受的风险所必需的性能”。制造商负责确定性能或功能的丧失会导致可接受的风险还是不可接受的风险，具体通过确定事件发生的概率或频率以及事件的严重程度来。如果设备的性能或功能丧失会对患者、操作人员或环境造成损害，则归类为不可接受的风险。举例来说，如果测量血糖水平的手持式电池供电仪表由于部件发生故障而停止工作，则这种情况是可接受的风险。

 四、工作原理

       本产品采用的是时域反射（TDR）原理，即对电缆发射一电脉冲，电脉冲将在电缆中匀速传输，当遇到电缆阻抗发生变化的地方（故障点），电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来，通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。

① 开关按键：按下自锁接通电源，再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时，屏幕将变暗进入屏保节能状态。如果检测电阻在接地支路上，那么方案就是个简单的运放电路。一切都以地为参考，只需特别注意接地布局中的小电压降就行了。但通常方法是将检测电阻置于电源线中。为什么？因为接地可能不可行（，通过底盘接地汽车电子产品），或者你可能不希望设备接地与供电接地不同（这可能导致接地环路和其它问题）。那么，该怎么做？显而易见的方法是在检测电阻两端跨接一个差分或仪表放大器（inamp），但实际上这算不上好方法。为了准确检测电流，通常需要极高的CMR（共模），既昂贵又容易漂移。

② 充电端口：用于连接充电器，给电池充电。

③ 中值旋钮：顺时针旋动中值向上走动；逆时针旋动中值向下走动。（需采样刷新才有变化）大；逆时针旋动幅度减小。（需采样刷新才有变化）

⑤ 采样端口：四芯座，用于连接采样线。TestCenter具有完全自主的知识产权。2012年，TestCenter入选国防科技工业百项先进工业技术研究推广应用工程。如所示，为Testercenter的界面，TestCenter可以在多个测试领域中被应用，包括消费类电子产品及装备的电路板级、模块级、系统级的功能测试与故障诊断。Testcenter界面IEEE1232标准简介故障诊断在装备综合保障中应用广泛，为了规范测试诊断过程和实现诊断知识的共享，IEEE制订了人工智能应用于系统测试与诊断领域的通用标准即IEEE1232标准，也称作AI-ESTATE标准。

⑥ 触摸式彩色液晶屏：详见“工作界面介绍”。

按“       ”键，弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括：“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”，根据测试需要，可选择相应的采样方式，再按“采样方式”键退出。

按“       ”键，弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项，分别为：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽，按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择，仪器开机默认0.2μs，再按“脉宽”键退出此项功能。注意：在高压闪络法测试中此项不做选择。

很多人对直角走线都有这样的理解，认为容易发射或接收电磁波，产生EMI，这也成为许多人认为不能直角走线的理由之一。然而很多实际测试的结果显示，直角走线并不会比直线产生很明显的EMI。也许目前的仪器性能，测试水平制约了测试的性，但至少说明了一个问题，直角走线的辐射已经小于仪器本身的测量误差。总的说来，直角走线并不是想象中的那么可怕。至少在GHz以下的应用中，其产生的任何诸如电容，反射，EMI等效应在TDR测试中几乎体现不出来，高速PCB设计工程师的重点还是应该放在布局，电源/地设计，走线设计，过孔等其他方面。