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HN300电缆故障测试仪 电缆外护套故障测试仪 HN300系列 地下综合管线探测仪5年保修
用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障,包括:开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示,全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。接触式的测试方法中测温元件直接与被测介质接触,直接测得被测物体的温度,因而简单、可靠、测量精度高。经常用到的如所示:.功能单一的测温仪产品的温升试验也是安规要求的一个重要部分,那么我们在设计一款产品时,如何实现经济而且便捷的测量呢?开关电源中MOSFET和二极管会产生开关损耗以及传导损耗、电感损耗包括线圈损耗和磁芯损耗、电容等造成的损耗,这些损耗终都以热的形式展现出来,而过热又会降低元器件性能导致损耗加剧,所以了解无用功率损失在哪里很重要。

技术参数
1. 采样方法:低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法
2. 采样速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脉冲宽度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速设置:交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定
5. 冲击高压:35kV及以下
6. 测试距离:<60km,盲区≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 测试精度:1m
9. 显示方式:工业级10.4寸彩色触摸液晶屏
整个系统中测径仪、安装在钢轴生产线的现场,主控机柜安放在控制室。测径仪与主控机柜间由一根三芯电源线和一根光缆连接,测径仪的供、断电由主控机柜通过电源线实现,测径仪的数据信号通过光缆传输到主控机柜。测径仪主要由下部测头、上部测头、测头支板、直线导轨滑台、步进电机、外壳等组成。测头采用我公司标准70测头,单测头测量范围70mm,测量时钢轴的上下跳动在±35mm时均可正常测量。上部测头安装在直线导轨滑台上,可根据被测钢轴的外径尺寸调整其与下部测头的间距。
四、工作原理
本产品采用的是时域反射(TDR)原理,即对电缆发射一电脉冲,电脉冲将在电缆中匀速传输,当遇到电缆阻抗发生变化的地方(故障点),电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来,通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。
① 开关按键:按下自锁接通电源,再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时,屏幕将变暗进入屏保节能状态。依据此数据库,可自动生成统计报表,包括X-BARR及X_BARS图表、频率直方图、运行图、目标图等。美国公司的Cameleon测量系统所配支持软件可提供包括齿轮、板材、凸轮及凸轮轴共计50多个测量模块。日本Mistutor公司研制开发了一种图形显示及绘图程序,用于辅助操作者进行实际值与要求测量值之间的比较,具有多种输出方式。STRATA-UX系统处理简图非接触测量基于三角测量原理的非接触激光光学应用于CMM上代替接触式。
② 充电端口:用于连接充电器,给电池充电。
③ 中值旋钮:顺时针旋动中值向上走动;逆时针旋动中值向下走动。(需采样刷新才有变化)大;逆时针旋动幅度减小。(需采样刷新才有变化)
⑤ 采样端口:四芯座,用于连接采样线。尽管用户记录的RF信号可以此方式用于测试,但建议的方法是使用SatGen软件所创建的计算机生成模拟文件。这是因为SatGen创建的文件会包含具有恒定信噪比的“纯”GPS信号。用户记录的场景会包含记录时出现的额外噪声以及不断变化的信噪比,难于进行对比。图片:采用SatGen所创建GPS信号的RF功率水平输出示例。-85dBm至-115dBm的范围对应于标准LabSat输出范围。通过在回放过程中调节衰减滑块,RF功率输出水平可从-85dBm降至-115dBm。
⑥ 触摸式彩色液晶屏:详见“工作界面介绍”。
按“ ”键,弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括:“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”,根据测试需要,可选择相应的采样方式,再按“采样方式”键退出。
按“ ”键,弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项,分别为:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽,按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择,仪器开机默认0.2μs,再按“脉宽”键退出此项功能。注意:在高压闪络法测试中此项不做选择。
测控技术与仪器是一门研究信息的获取和处理,以及对相关要素进行控制的理论与技术。“测控技术与仪器”是指对信息进行采集、测量、存储、传输、处理和控制的手段与设备,包含测量技术、控制技术和实现这些技术的仪器仪表及系统。什么是测控技术?测控技术与仪器,是建立在精密机械、电子技术、光学、自动控制和计算机技术的基础上,主要研究精密测试和控制技术的新原理、新方法和新工艺。近年来,计算机技术在测控技术的应用研究中呈现出越来越重要的地位。