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HN300电缆故障测试仪 二次脉冲电缆故障测试仪 HN300系列 电缆路径信号产生器30年经验
用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障,包括:开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示,全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。每到1s读一次外部中断0INT计数值,此值即为脉冲信号的频率,可计算出电机的转速。当直流电机通过传动部分带圆盘旋转时,霍尔传感器根据圆盘上得磁片获得一系列脉冲信号。这些脉冲信号通过单片机系统定时/计数器0INT计数,定时器T0定时。定时器T0完成100次溢出中断的时间T除以测得的脉冲数m,经过单位换算,就可以算得直流电机旋转的速度。然后判断是否启动系统进行测量。如果是,就启动系统运行。如果不是就等待启动。

技术参数
1. 采样方法:低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法
2. 采样速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脉冲宽度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速设置:交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定
5. 冲击高压:35kV及以下
6. 测试距离:<60km,盲区≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 测试精度:1m
9. 显示方式:工业级10.4寸彩色触摸液晶屏
由于该设备已经由移动运营商在现场部署,提供一种易于使用、高性能的解决方案对于维持客户和利用现有设备是至关重要的。使用5G射频下变频器虽然5G无线将很好地扩展到高带宽,但是现有的频谱设备是为使用低于6GHz的信号的3G/4G/LTE网络而设计的。这意味着RF设备制造商留下了一个选择——建造新设备,或者用RF下变频器延长现有硬件的寿命。从中短期来看,与射频下变频器集成比构建新的解决方案具有许多优势。
四、工作原理
本产品采用的是时域反射(TDR)原理,即对电缆发射一电脉冲,电脉冲将在电缆中匀速传输,当遇到电缆阻抗发生变化的地方(故障点),电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来,通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。
① 开关按键:按下自锁接通电源,再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时,屏幕将变暗进入屏保节能状态。当流量小于流量时,热量表也能进行计量,但计量误差也较大。随着流量继续减小,当流量小于某一特定流量后,热量表将不进行计量。我们暂且称它为始动流量。作为总表,如果工作在始动流量以下,误差为;如果工作在始动流量到流量之间,误差将放大;如果工作在流量以上,误差在2%至3%之间(以2级表,量程比不大于100为例)。分表的口径一般为DN20,流量为30升每小时。在采暖过程中,假设每平米的流量为2升至3升每小时。
② 充电端口:用于连接充电器,给电池充电。
③ 中值旋钮:顺时针旋动中值向上走动;逆时针旋动中值向下走动。(需采样刷新才有变化)大;逆时针旋动幅度减小。(需采样刷新才有变化)
⑤ 采样端口:四芯座,用于连接采样线。工频电磁场波形由于是测量电路存在周期性波动,那工频电磁场扰动的可能性更大,用示波器观测工频电磁场波形如,一般认为50Hz工频电磁场干扰是由两方面原因产生:50Hz工频干扰通过传导进入系统;50Hz工频干扰通过空间耦合进入系统。针对上述问题,消除50Hz工频电磁场干扰的方法也相对明确,有下述四种方案可供电路设计者去参考:利用电气隔离,阻断工频干扰的传导路径;敏感电路处搭建共模和滤波电路,滤除进入输入通道的工频扰动;软件中构建IIR陷波或者FIR带阻数字滤波器,消除工频干扰对测量结果的影响;降低测量引线回路面积,增加,减弱空间耦合效应。
⑥ 触摸式彩色液晶屏:详见“工作界面介绍”。
按“ ”键,弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括:“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”,根据测试需要,可选择相应的采样方式,再按“采样方式”键退出。
按“ ”键,弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项,分别为:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽,按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择,仪器开机默认0.2μs,再按“脉宽”键退出此项功能。注意:在高压闪络法测试中此项不做选择。
一般来说,直流电源具有CV/CC两种工作模式,分别对应内部两个环路(CV控制环和CC控制环)。当今市场上的大多数电源供应器均采用电压优先模式设计,不能提供电流环控制优先模式;事实上这种情况非常普遍,大多数工程师甚至从来没有意识到还有优先模式存在,他们只是期望自己的电源能够正常提供电压电流和功率输出。但随着电子测试需求的变革,这种方式的局限性也体现出来,CV控制环优先的情况下,虽然一定程度上可以加快电压的上升速度,但不能够适用于对电流过冲测试要求严苛的场合。