产品名称：地埋电缆电缆故障测试仪 HN300系列 电缆刺扎器价格实惠

HN300电缆故障测试仪 地埋电缆电缆故障测试仪 HN300系列 电缆刺扎器价格实惠

 用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障，包括：开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示，全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。从而**扩展功率或电流的输出能力，且并联后，依然保持单机优异的动态特性。用户可任意恒电压CV或恒电流CC工作模式，**扩展输出能力，从而满足多种大功率高速测试下的需求。以下将会以瞬态响应拉载波形为例说明其工作方式，请参照下图：单机IT6522C（80V120A3000W）设定电压：10V，设定电流：120A动态负载：LevelA=10ALevelB=100Af=10Hz1803092604.png8台IT6522C并机设定电压：10V，设定电流：960A动态负载：LevelA=100ALevelB=800AF=10Hz结论：从上面的测试图中可以看到，IT6500C系列电源在多台并机后，仍能保持和单机波形一样的动态响应波形，均达到高速无延迟的同步响应。

技术参数

1. 采样方法：低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法

2. 采样速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脉冲宽度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速设置：交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定

5. 冲击高压：35kV及以下

6. 测试距离：＜60km，盲区≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 测试精度：1m

9. 显示方式：工业级10.4寸彩色触摸液晶屏

5G承载网络架构和技术方案5G承载网整体架构如所示。5G承载网整体架构前传网络是AAU和DU之间5G承载网络的一部分。前传拓扑与DU部署的架构相关，有2种典型的DU部署，一种是分布式DU部署，另一种是集中式DU部署。对于分布式DU部署，一个DU只连接到附近的AAU，是一种点到多点的拓扑结构。对于集中式DU部署，多个DU放置在同一个位置，可以使用星型和环型拓扑结构连接远端AAU，AAU和DU之间的距离小于10km。

 四、工作原理

       本产品采用的是时域反射（TDR）原理，即对电缆发射一电脉冲，电脉冲将在电缆中匀速传输，当遇到电缆阻抗发生变化的地方（故障点），电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来，通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。

① 开关按键：按下自锁接通电源，再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时，屏幕将变暗进入屏保节能状态。热成像快速体温初筛方案业务流程初步筛查只需要检测出温度异常的人群，红外热像仪能实现初步筛查表面温度异常，通过热像仪(非接触式方式)初步对表面温度进行检测，快速找出温度异常的个体，发现温度异常目标之后，再进行专业医学体温测量。找出温度异常的个体（不同场地，不同红外热成像方案）在线筛查手持筛查2.人工复测(耳温枪/水银计)在线红外热像仪测温——无接触远距离测温更快速更**在线式红外热成像仪实现在人群密集区域，红外热像仪可以快速、大面积地进行人员的非接触式体温排查。

② 充电端口：用于连接充电器，给电池充电。

③ 中值旋钮：顺时针旋动中值向上走动；逆时针旋动中值向下走动。（需采样刷新才有变化）大；逆时针旋动幅度减小。（需采样刷新才有变化）

⑤ 采样端口：四芯座，用于连接采样线。Atmel、赛普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已经把部分用户可定义逻辑添加到自己的部件上，用于修复部分此类问题。这些器件主要是带附加逻辑的微控制器。CPU仍然是主要的处理器件，附加逻辑的作用是提高CPU的工作效率。这类器件常见于成本敏感性产品中，但也在低级任务中用作小型协处理器，以减轻主处理器的负担，从而提升效率。另一方面FPGA也正在朝着类似的目标前进，虽然是从另一个方向。赛灵思和Altera多年来一直在添加软硬核处理器以创建片上系统。

⑥ 触摸式彩色液晶屏：详见“工作界面介绍”。

按“       ”键，弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括：“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”，根据测试需要，可选择相应的采样方式，再按“采样方式”键退出。

按“       ”键，弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项，分别为：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽，按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择，仪器开机默认0.2μs，再按“脉宽”键退出此项功能。注意：在高压闪络法测试中此项不做选择。

组件测量技巧测量技巧可大概分成5个部分:正确的测量条件、正确选择等效模型、仪器的校准、电路的补偿、以及接线的选择。测量条件的选择以电容来说，由于介电常数的不同，使得容值测量的结果会随着测试电压的不同而变化，特别是高介电常数。当介电常数在3.7以上时，就要特别注意测试电压的选择。若选择了不合适的测试电压，会对测试结果产生很大的影响。相对来说，低介电常数对于电压的依赖性则小很多。而除了电容之于测试电压之外，电感的测试结果也会随着测试电流的上升有所影响。