产品名称：路灯（地埋）电缆综合测试仪 HN300系列 输电线路工频参数测试仪30年经验

HN300电缆故障测试仪 路灯（地埋）电缆综合测试仪 HN300系列 输电线路工频参数测试仪30年经验

 用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障，包括：开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示，全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。远端无法接收到数据——地电势差存在许多实际应用中，通信距离可达几千米，节点之间的距离很远。设计者常常直接将每个节点的参考地接于本地的大地，作为信号的返回地，看似正常可靠的做法，却存在的隐患。即使调试正常的系统，也可能在使用一段时间后出现问题。常常被忽略的问题是：两个节点之间大地也可能存在很大的电势差。。。实际的大地并不是理想的“0”电位，大地也是导体，也存在阻抗。当大的电流流过大地时，流过电流的大地两端也会存在电势差。

技术参数

1. 采样方法：低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法

2. 采样速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脉冲宽度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速设置：交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定

5. 冲击高压：35kV及以下

6. 测试距离：＜60km，盲区≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 测试精度：1m

9. 显示方式：工业级10.4寸彩色触摸液晶屏

早毫米波雷达是24GHz的窄带毫米波雷达，带宽通常不到2MHZ，精度只有75厘米，目标分离能力只有1.5米，显然这太低了，即便作为盲点检测也有点低了。这之后出现了超宽带24GHz毫米波雷达，带宽达7GHz，精度可达2.2厘米。GHz硅基毫米波雷达技术正在实现新一代现实世界，越来越多地用于汽车、无人机、泛工业和消费类应用等大市场应用的非接触式智能传感器。ADI的新型24GHz雷达产品提供出色的性能和高集成度，是小尺寸、低成本且易用的超低功耗解决方案，适用于物理检测、跟踪、**控制和防撞警告系统等应用。

 四、工作原理

       本产品采用的是时域反射（TDR）原理，即对电缆发射一电脉冲，电脉冲将在电缆中匀速传输，当遇到电缆阻抗发生变化的地方（故障点），电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来，通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。

① 开关按键：按下自锁接通电源，再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时，屏幕将变暗进入屏保节能状态。在一些情况中，会出现抽点的间隔很大，使得实际用于的采样率不足，这时系统会给出提示。非提示如所示，提示出现在屏幕左上方，从事件表可以看到，波形中间出现了部分错误的帧，这种错误是采样率不足导致的。需要注意的时，出现这种提示时，不一定就会出错，它是一种警告。而当我们真的不能正常时，只需要按照系统提示的内容进行操作(如图应该减少时基)，就能回归状态。这也是点中描述的全内存约束。

② 充电端口：用于连接充电器，给电池充电。

③ 中值旋钮：顺时针旋动中值向上走动；逆时针旋动中值向下走动。（需采样刷新才有变化）大；逆时针旋动幅度减小。（需采样刷新才有变化）

⑤ 采样端口：四芯座，用于连接采样线。洁净室（或称：无尘室、无尘车间、净化车间）是指一个具有低污染水平的环境，透过将密闭空间内空气中的微尘粒子等污染物排除，而得到一个相当洁净的环境。空气中的污染物包括灰尘，微生物，悬浮颗粒，和化学挥发性气体。洁净室被广泛地应用在对环境污染特别敏感的产业，半导体生产、生化技术、精密机械、制药、、无菌食品加工制造业等，其中以半导体业对室内之温湿度、洁净度要求尤其严格，必须控制在某一个需求范围内才不会对制程产生影响。

⑥ 触摸式彩色液晶屏：详见“工作界面介绍”。

按“       ”键，弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括：“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”，根据测试需要，可选择相应的采样方式，再按“采样方式”键退出。

按“       ”键，弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项，分别为：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽，按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择，仪器开机默认0.2μs，再按“脉宽”键退出此项功能。注意：在高压闪络法测试中此项不做选择。

先测试出可控硅的峰值电压，将电线正负极连接至K两极，接地线接至室内主接地上，逐渐升压，测试其漏电流数值。进行漏电测试后，逐渐升压，观测漏电流，当数值超过其额定峰值电压后，可控硅被击穿，但采用此方法可能会破坏其PN结，并且只能测试其是否导通，而不能测试其导通是否良好，故不再采用此法进行测试。摇表测试法用摇表对可控硅进行测量，参照之前使用的漏电检测法。为防止摇表法测试过程中击穿或损坏可控硅，改变摇表操作方法，即要对摇表电压和转速进行控制，两笔端链接K极对其进行测试。