产品名称：多脉冲电缆故障测试仪 HN300系列 输电线路参数测试仪生产厂家

HN300电缆故障测试仪 多脉冲电缆故障测试仪 HN300系列 输电线路参数测试仪生产厂家

 用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障，包括：开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示，全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。具有省电、性能稳定、体积小、承载能力大，比一般电磁继电器性能优越的特点。根据继电器的型号不同，可以是交流电压，也可以是直流电压。下面我们主要介绍一款需要直流电压供电的磁保持继电器的测试方法。IT64系列LIST功能IT64系列是四象限电源，具有list功能，可按照程序所编的电压电流值输出。单通道输出功率15W，电压可达±6V，电流±1A，双极性双范围输出。LIST功能实测案例以下是测试要求：磁保持继电器的老化测试，就是重复让产品断开和闭合，进行老化测试。

技术参数

1. 采样方法：低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法

2. 采样速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脉冲宽度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速设置：交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定

5. 冲击高压：35kV及以下

6. 测试距离：＜60km，盲区≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 测试精度：1m

9. 显示方式：工业级10.4寸彩色触摸液晶屏

串联单点接地的方式简单，但是存在共同地线的原因，导致存在公共地线阻抗，如果此时串联在一起的是功率相差很大的电路，那么互相干扰就非常严重。并联单点接地的方式可以避免公共地线耦合的因素，但是每部分电路都需要引地线到接地点上，需要的地线就过多，不实用。所以，在实际应用时，可以采用串联和并联混合的单点接地方式。在画PCB板时，把互相不易干扰的电路放一层，把互相容易发生干扰的电路放不同层，再把不同层的地并联接地。

 四、工作原理

       本产品采用的是时域反射（TDR）原理，即对电缆发射一电脉冲，电脉冲将在电缆中匀速传输，当遇到电缆阻抗发生变化的地方（故障点），电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来，通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。

① 开关按键：按下自锁接通电源，再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时，屏幕将变暗进入屏保节能状态。环境及背景辐射的影响在进行户外电力设备红外检测时，检测仪器接收的红外辐射除了包括被检设备相应部位自身发射的辐射以外，还会包括设备其它部位和背景的反射，以及直接射入太阳辐射。这些辐射都将对设备待测部位的温度造成干扰，对故障检测带来误差。为了减少环境与背景辐射的影响，对户外电气设备现场红外检测时，尽可能选择在阴天或者在日落傍晚无光照时间进行。这样可以防止直接入射、反射和散射的太阳辐射影响;对户内设备可以采用关掉照明灯，以及避开其它辐射的影响。

② 充电端口：用于连接充电器，给电池充电。

③ 中值旋钮：顺时针旋动中值向上走动；逆时针旋动中值向下走动。（需采样刷新才有变化）大；逆时针旋动幅度减小。（需采样刷新才有变化）

⑤ 采样端口：四芯座，用于连接采样线。TEMCELL一般只找方值，使测试结果对摆放的位置比较敏感。另外，还有一种测试工具较箱，有的设计公司用来对天线进行有源测试，这种方法很不可行。一方面由于测试距离太近，另一方面由于没有足够的吸波材料，外部干扰对天线的测试影响比较大，这样导致测试结果对位置比较敏感，稍微改变一下位置测试结果就有比较大的改变，因此这种测试方法对天线的性能没有多少的参考意义。用耦合测试板测试天线性能在生产过程中为了保证产品的生产品质，往往要进行天线的耦合测试。

⑥ 触摸式彩色液晶屏：详见“工作界面介绍”。

按“       ”键，弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括：“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”，根据测试需要，可选择相应的采样方式，再按“采样方式”键退出。

按“       ”键，弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项，分别为：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽，按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择，仪器开机默认0.2μs，再按“脉宽”键退出此项功能。注意：在高压闪络法测试中此项不做选择。

而基于成像光度测量灯具光强分布的研究由于更加复杂，精度难以提高，目前仍处于研究阶段。灯具的分布光度测量是灯具设计和照明设计中质量控制的重要环节，尤其是随着LED等新光源和新兴照明技术的发展，对灯具分布光度测量提出了新的挑战。因此我们根据目前发展状况及需求，进行基于成像光度法的LED光强分布测试的分布光度计研制。目前国内灯具市场产品质量良莠不齐，每年有大量新款灯具涌入市场。其实际照明效果的评估往往得不到有效评估。