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HN300电缆故障测试仪 单脉冲电缆故障测试仪 HN300系列 带电电缆识别仪30年经验
用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障,包括:开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示,全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。可以说是一种小的动物通过简捷的方式实现“无线”的沟通。人们借此称呼一种专注于低功耗、低成本、低复杂度、低速率的近程无线网络通信技术,亦包含此寓意。它是基于IEEE802.15.4协议发展起来的一种短距离无线通信技术,功耗低,被业界认为是有可能应用在工控场合的无线方式。Zigbee是一个由可多到65000个无线数传模块组成的一个无线数传网络平台,在整个网络范围内,每一个Zigbee网络数传模块之间可以相互通信,每个网络节点间的距离可以从标准的75m无限扩展。

技术参数
1. 采样方法:低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法
2. 采样速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脉冲宽度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速设置:交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定
5. 冲击高压:35kV及以下
6. 测试距离:<60km,盲区≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 测试精度:1m
9. 显示方式:工业级10.4寸彩色触摸液晶屏
即便如此,在输入时信噪比(SNR)也会受影响。在这些应用中,可编程增益仪表放大器(PGIA)是适合前端的解决方案,可适应传感器接口的灵敏度,同时优化SNR。集成PGIA可实现良好的直流和交流规格。本文讨论集成PGIA及其优势。文中还会讨论相关限制,以及为满足特定要求而构建分立PGIA时应遵循的指导原则。集成PGIAADI公司的产品系列中有许多集成PGIA。集成PGIA具有设计时间更短、尺寸更小的优势。
四、工作原理
本产品采用的是时域反射(TDR)原理,即对电缆发射一电脉冲,电脉冲将在电缆中匀速传输,当遇到电缆阻抗发生变化的地方(故障点),电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来,通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。
① 开关按键:按下自锁接通电源,再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时,屏幕将变暗进入屏保节能状态。使用GNSS与感测器技术搜寻与导航穿戴式装置有各式各样的变化,举凡运动、手环和手表等,但唯有能搜集到有用资料的装置才有意义。由于资料准确性很重要,跑步的里程数或燃烧的卡路里,因此若只仰赖GPS或GNSS接收器来计算跑步路径或速度,结果可能错误百出。今年我们将见到多种技术的整合应用,让资料追踪和管理更加准确。透过感测器、GNSS、BluetoothSmart和Wi-Fi技术,今日的穿戴式装置可提供更准确的资料,同时又不会太耗电力。
② 充电端口:用于连接充电器,给电池充电。
③ 中值旋钮:顺时针旋动中值向上走动;逆时针旋动中值向下走动。(需采样刷新才有变化)大;逆时针旋动幅度减小。(需采样刷新才有变化)
⑤ 采样端口:四芯座,用于连接采样线。电磁感应当两个电路之间有互感存在时,一个电路中电流的变化就会通过磁场耦合到另一个电路,这一现象称为电磁感应。变压器及线圈的漏磁、通电平行导线等。漏电流感应由于电子线路内部的元件支架、接线柱、印刷电路板、电容内部介质或外壳等绝缘,特别是传感器的应用环境湿度较大,绝缘体的绝缘电阻下降,导致漏电电流增加就会引起干扰。尤其当漏电流流入测量电路的输入级时,其影响就特别严重。射频干扰主要是大型动力设备的启动、操作停止的干扰和高次谐波干扰。
⑥ 触摸式彩色液晶屏:详见“工作界面介绍”。
按“ ”键,弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括:“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”,根据测试需要,可选择相应的采样方式,再按“采样方式”键退出。
按“ ”键,弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项,分别为:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽,按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择,仪器开机默认0.2μs,再按“脉宽”键退出此项功能。注意:在高压闪络法测试中此项不做选择。
为解决这些挑战,新模块在提供电压和测量电流时,支持的电缆长度和连接电容都要超过传统SMU。4201-SMU和4211-SMU是为采用长电缆、开关矩阵、通过栅极接触卡盘及其他夹具的测试装置专门设计的。这就让研究人员和制造测试工程师节省了大量的时间和成本,而这些时间和成本本来可以花费在故障排除和重新配置测试设置上。“因为要降低电流来节省能耗,精细测试装置所产生的高负载电容正成为一个日益严重的问题。在测试智能或平板电脑采用的大型LCD面板时,就面临着同样的问题。